“薄膜厚度检测”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果3495956个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种检测装置和检测方法-CN201510033042.X在审
发明人：井杨坤;江昌俊 -专利权人：合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2015-01-22 - 公布日： 2015-04-22 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明提供一种检测装置和检测方法，所述检测装置包括光源模块、接收模块、图像生成模块和判断模块，所述光源模块用于以预定的角度向薄膜发射光线，所述接收模块用于接收所述薄膜的上表面反射的第一反射光与所述薄膜的下表面反射的第二反射光形成的干涉光，所述图像生成模块用于根据所述干涉光形成干涉条纹图像，所述判断模块用于根据所述干涉条纹图像判断所述薄膜的厚度是否均匀。所述检测装置能够对薄膜厚度的均匀性进行高精度检测，以确保薄膜厚度的均匀性，从而提高显示面板的显示质量。
一种检测装置方法

[发明专利]一种红外热成像快速无损检测薄膜厚度均匀性的方法-CN201711090980.9有效
发明人：叶为标;李聪;聂昌达;闫文韬 -专利权人：湘潭大学
申请日： 2017-11-08 - 公布日： 2019-10-11 - 主分类号： G01B21/08 文献下载
摘要：本发明提供了一种红外热成像快速无损检测薄膜厚度均匀性的方法。该方法利用加热装置提供均匀、稳定的热通量加热待测薄膜，加热后的薄膜向外发出红外辐射，红外摄像装置接收辐射信号，并将辐射信号转变成电信号，经后处理装置处理后，将待测薄膜表面的温度分布图显示出来。在某一特定时刻，待测薄膜表面的温度变化的百分比与厚度变化的百分比相等。待测薄膜表面温度无差异就说明薄膜厚度均匀。该方法可以快速、无损检测薄膜厚度均匀性，且无视待测薄膜是否导电、是否透明。可用于锂电池极片、塑料袋的密封检测等。
一种红外成像快速无损检测薄膜厚度均匀方法

[实用新型]一种套袋机温度调节系统和套袋机-CN202022379704.8有效
发明人：韩伟;崔庆育;李冬;陈晨;贺捷;李晨曦;于振江;郭硕达 -专利权人：上海烟草集团有限责任公司;上海烟草集团北京卷烟厂有限公司
申请日： 2020-10-22 - 公布日： 2021-06-08 - 主分类号： B65B51/10 文献下载
摘要：所述套袋机温度调节系统包括焊袋封口机构、厚度检测装置以及控制装置，所述焊袋封口机构包括封口加热装置，所述厚度检测装置安装于所述焊袋封口机构的薄膜来料侧，所述控制系统分别与所述厚度检测装置和所述封口加热装置信号连接本实用新型实施例提供的套袋机温度调节系统通过厚度检测装置对套袋作业中的薄膜厚度进行检测，然后由控制装置根据检测到的薄膜厚度控制封口加热装置的加热温度，实现了对套袋机温度的自动调节；且可根据不同厚度的薄膜设定合适的加热温度
一种套袋机温度调节系统

[实用新型]一种吹膜机厚度控制器-CN201821308476.1有效
发明人：刘俊虎 -专利权人：刘俊虎
申请日： 2018-08-14 - 公布日： 2019-04-12 - 主分类号： B29C55/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种吹膜机厚度控制器，包括模头、加热线圈、检测探头、控制器和转速控制器，所述模头外围设置有能够给模头加热的加热线圈，模头右侧设置有具有厚度检测功能的检测探头，所述加热线圈、检测探头、控制器和能够控制电机转速的转速控制器之间电连接本实用新型通过检测探头对薄膜制品的厚度进行检测，并将检测值传递到控制器中与设定值进行对比，根据对比结果选择加热线圈加热模头或是降低电机转速对薄膜制品的厚度进行针对性的调节，可以适用于多种类型的薄膜制品的生产，有效的提高薄膜制品厚度的稳定性。
薄膜制品加热线圈探头模头检测控制器本实用新型厚度控制器转速控制器吹膜机厚度检测功能电机转速对比结果加热模头控制电机电连接加热外围传递生产

[实用新型]一种BOPP薄膜厚度检测装置-CN202223026324.1有效
发明人：毛群波;季建军;杨刘邦;承叶峰;赵毓;汤鑫伟;时秋平 -专利权人：江阴中达软塑新材料股份有限公司
申请日： 2022-11-15 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G01B21/08 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种BOPP薄膜厚度检测装置，涉及薄膜厚度检测技术领域，包括工作台，支撑座，检测组件，检测板，第一放置座，第二放置座，待测薄膜辊，待收卷辊，收卷机构。本实用新型本实用新型通过设置收卷机构，先将待测薄膜辊放置于第一放置座的顶端，之后将待收卷辊与转动柱相固定，将薄膜掀开经过检测组件的下方，并粘接于待收卷辊的外壁，驱动电机输出端转动通过机械传动并带动待收卷辊转动，薄膜慢慢收卷于待收卷辊的外壁，通过此结构有利于对整卷的待测薄膜辊进行厚度检测的操作，通过全面的对薄膜进行检测，提高了检测结果的精确性，同时及时对整卷薄膜进行收卷的操作有利于后续检测操作的进行。
一种 bopp 薄膜厚度检测装置

[发明专利]硅衬底薄膜膜厚的测量方法-CN200810104540.9无效
发明人：曹歆 -专利权人：北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司
申请日： 2008-04-21 - 公布日： 2008-12-10 - 主分类号： G01B15/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种硅衬底薄膜膜厚的测量方法，涉及薄膜测量技术，为解决当前非透明薄膜测试所需探头较多、导致测量成本较高而提出，所采用的技术方案是：A.选取至少两种厚度的薄膜并分别沉积于硅衬底上，标定出所述至少两种厚度薄膜的尺寸；B.对所述至少两种厚度的薄膜进行射线激发，利用硅探头分别检测被激发的硅电子特征信号的强度值；C.利用所标定的薄膜尺寸及所检测的硅电子特征信号强度值建立薄膜厚度与硅电子特征信号强度之间的函数关系；D.对待测量的硅衬底薄膜进行射线激发，利用硅探头检测被激发的硅电子特征信号的强度值，根据步骤C所建立的函数关系确定所述待测量硅衬底薄膜的厚度。
衬底薄膜测量方法

[实用新型]一种可自动调节气压的吹膜机-CN201521113256.X有效
发明人：金钧 -专利权人：桐城市新丰彩印包装有限公司
申请日： 2015-12-28 - 公布日： 2016-09-21 - 主分类号： B29C55/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种可自动调节气压的吹膜机，包括风环、模口、模身、过滤网模身、进料口、出膜口、薄膜厚度检测器、气嘴、网盖和压力调节器，模身设置在过滤网模身的上端，模口设置在模身的上端，风环设置在模口的上端，薄膜厚度检测器设置在风环的上端，出膜口设置在薄膜厚度检测器的上端，进料口设置在过滤网模身的左侧，网盖设置在过滤网模身的右侧，气嘴设置在模身的右侧，压力调节器设置在气嘴上，该实用新型的可自动调节气压的吹膜机，通过增设的气压调节设别和薄膜厚度检测装置，能够实现根据薄膜厚度自动化的调节吹膜的气压，防止出现薄膜吹破的现象发生。
一种自动调节气压吹膜机

[发明专利]基于太赫兹时域光谱技术的塑料薄膜厚度检测装置及方法-CN201510226234.2有效
发明人：曹丙花;范孟豹;李超;盛恒;任万磊 -专利权人：中国矿业大学
申请日： 2015-05-06 - 公布日： 2017-12-12 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于太赫兹时域光谱技术的塑料薄膜厚度检测装置，包括飞秒激光器、第一反射镜、分束器、光学延迟线、第二反射镜、太赫兹发射器、第一抛物面镜、IR滤波器、样品台、太赫兹探测器、第三反射镜、第四反射镜、太赫兹时域系统控制器和计算机；还包括检测方法分别采集太赫兹波透过空气和被测塑料薄膜的信号，设定塑料薄膜初始厚度，代入薄样品的太赫兹传输函数模型计算其折射系数，随后运用傅里叶变换将折射系数信号变换到准空间，并求准空间中信号幅度的峰值；不断修改厚度值，直至准空间信号幅度峰值达到最小，得出塑料薄膜的厚度；本发明能够解决目前塑料薄膜厚度检测准确性较差的问题，可实时快速准确地检测塑料薄膜厚度。
基于赫兹时域光谱技术塑料薄膜厚度检测装置方法

[发明专利]一种压延膜厚度自动控制方法、系统、终端及介质-CN202211134362.0在审
发明人：李若熙;李建友;钱剑中;赵格林 -专利权人：四川省众望科希盟科技有限公司
申请日： 2022-09-19 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： B29C43/24 文献下载
摘要：一种压延膜厚度自动控制方法、系统、终端及介质，涉及薄膜生产技术领域，解决了现有膨化聚四氟乙烯生产膜体过程中得到的膜体厚度不均的技术问题，本发明通过检测装置检测压延膜设备生产的薄膜的厚度，并将检测得到的厚度与目标值进行比较，如比较的结果查过设定的公差，则通过对压延辊间隙、入口张力和带材穿过压延辊时的线速度进行调整，本发明通过选择呈阵列分布的检测区域，并将检测区域设定为圆形结合各个检测区域的厚度值计算得到压延膜的厚度值，以提高检测的精确度，通过同时调整压延辊间隙、入口张力和带材穿过压延辊时的线速度，实现对压延膜厚度的调整，可提高压延膜厚度的调整的速度，得到厚度均匀的薄膜。
一种压延厚度自动控制方法系统终端介质

[发明专利]薄膜成品质量检测工艺-CN201911395781.8在审
发明人：曹玉;毛潞 -专利权人：重庆瑞霆塑胶有限公司
申请日： 2019-12-30 - 公布日： 2020-05-01 - 主分类号： G01N3/16 文献下载
摘要：本发明属于用机械应力测试固体材料的强度特性领域，具体涉及一种薄膜成品质量检测工艺，包括如下步骤：(1)宽度检测：对薄膜样品的宽度进行检测；(2)厚度检测：对薄膜样品的厚度进行检测；(3)透光率和雾度检测：对薄膜的透光率和雾度进行检测；(4)光滑度和粗糙度检测：对薄膜内层的表面光滑度和薄膜外层的粗糙度进行检测；(5)封紧温度检测：采用热风机检测将薄膜粘连封闭所需的温度；(6)抗拉强度和伸长率检测：将薄膜样品切成尺寸为10*1cm的细条状，测量薄膜样品被拉断的瞬时拉力强度和薄膜样品断裂时的长度。采用该工艺对薄膜进行检测时，检测更加方便而且检测结果更加精确。
薄膜成品质量检测工艺

[发明专利]一种热栅格扫描热波无损薄膜厚度检测方法-CN201910323943.0有效
发明人：张伟旭;曲直;张家宬 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2019-04-22 - 公布日： 2021-05-28 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种热栅格扫描热波无损薄膜厚度检测方法，本发明沿直线匀速移动所述栅格热源，且栅格热源的移动轨迹平行于薄膜所在平面，并通过热像仪记录薄膜表面温度信号；通过数据处理系统分析步骤二得到的温度信号，拟合出薄膜表面各点温度信号的幅值和相位；针对所测材料的属性，预先标定其幅值和相位随厚度变化的规律；通过对比薄膜表面热波信号的幅值和相位，根据标定好的厚度规律，拟合得到薄膜的厚度及厚度分布。本发明采用空间分布的稳态热波对薄膜厚度进行检测，而不是采用热波瞬态响应信号，因此对热像仪的采样频率要求极低，对信号灵敏度要求也极低。
一种栅格扫描无损薄膜厚度检测方法

[实用新型]一种具有卷绕系统的薄膜成型机-CN202122252903.7有效
发明人：简宜亮 -专利权人：安徽加硬机械有限公司
申请日： 2021-09-16 - 公布日： 2022-03-22 - 主分类号： B65H18/10 文献下载
摘要：本实用新型公开了成型机技术领域的一种具有卷绕系统的薄膜成型机，包括机架卷辊，卷辊用于卷绕薄膜，两个机架上两两对称地固接有楔块，相邻的两个楔块上水平转动连接有支撑滚轮，卷辊端部由支撑滚轮进行支撑，且卷辊能自由转动，机架上设有用于检测卷辊上薄膜卷绕厚度的厚度检测单元，其下方设有用于举升、移动卷辊的卸料单元。通过设置楔块、支撑滚轮，使得卷辊能够快速地拆卸、且通过卸料单元能够对卷绕后的薄膜进行卸料，减少停机时间，提升生产效率，通过设置厚度检测单元，能够对薄膜的卷绕厚度进行检测，进而使得薄膜的卷绕厚度趋于一致，便于后续的加工，通过设置静电板，以使静电板对薄膜表面的灰尘、细小异物进行静电吸附。
一种具有卷绕系统薄膜成型

[实用新型]吹膜机的膜厚度检测装置-CN201220210550.2有效
发明人：不公告发明人 -专利权人：广州市金威龙实业股份有限公司
申请日： 2012-05-10 - 公布日： 2012-12-05 - 主分类号： B29C55/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种吹膜机的膜厚度检测装置，包括控制电路，控制电路上连接有红外线发射管和红外线接收管，所述红外线发射管与红外线接收管分别设置在吹膜机模头的两侧。本实用新型实施例采用红外检测的方式对吹膜机的模头挤出的薄膜厚度进行实时检测，因此，能够及时发现薄膜厚度不正常状态，进行适应性调整，从而实现了对薄膜厚度的实时检测与反馈。
吹膜机厚度检测装置

[实用新型]一种塑料薄膜厚度检测装置-CN201220577018.4有效
发明人：徐明强 -专利权人：南通百正电子新材料有限公司
申请日： 2012-11-06 - 公布日： 2013-05-01 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种塑料薄膜厚度检测装置，其特征在于：包括固定塑料薄膜的两个滚轮，所述滚轮通过固定架安装于转轴上，所述转轴安装于底座上，所述转轴的一侧设有连接件，所述连接件上设有红外检测器，所述滚轮上连接有电线本实用新型的优点是：本实用新型一种塑料薄膜厚度检测装置，在连接件上设置红外检测器，红外检测器紧贴着塑料薄膜，其可以感应塑料薄膜的厚度情况，并将感应的结果传送到主控制单元，测量精度高。
一种塑料薄膜厚度检测装置

[发明专利]扫描显微环境下薄膜拉伸加载装置及薄膜变形测量方法-CN200510086228.8有效
发明人：李喜德;杨燕 -专利权人：清华大学
申请日： 2005-08-15 - 公布日： 2006-02-08 - 主分类号： G01N3/28 文献下载
摘要：一种扫描显微环境下的薄膜拉伸加载装置与薄膜变形测量方法，属显微扫描无损检测和精密机械领域。该发明是通过设计能进行三维位置和角度调整的机械结构、压电陶瓷驱动系统、力缓冲系统等在原子力扫描显微镜和电子束扫描显微镜检测平台上完成薄膜变形测量，可对微尺度薄膜的全域或局部区域的变形场进行定量检测，被测薄膜厚度从数微米到亚微米厚度，装置可以多次使用，适合不同厚度和尺度的薄膜材料和结构的变形检测，可结合双曝光数字散斑技术、图像相关技术或微标记技术实现高空间分辨镜原子力扫描显微镜或电子束扫描显微镜环境下的薄膜原位、在线检测。
扫描显微环境薄膜拉伸加载装置变形测量方法