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[发明专利]用于自动自校准占空比电路以最大化芯片性能的设备和方法-CN200680036736.8有效
发明人： E·海鲁;D·W·伯伊尔斯特勒;齐洁明 -专利权人：国际商业机器公司
申请日： 2006-09-26 - 公布日： 2008-10-01 - 主分类号： H03K5/156 文献下载
摘要：这个芯片级内建电路包括时钟生成宏单元、简单的占空比校正(DCC)电路、阵列切片和内建自测单元、以及DCC电路控制器。阵列的内建自测的结果，即合格还是失败，被提供给DCC电路控制器。如果内建自测的结果是合格，则当前DCC电路控制器的DCC控制比特设置值被设置为用于芯片的设置值。如果来自内建自测的结果是失败，则DCC电路控制器的DCC控制比特设置值被递增到下一个设置值，并再次执行自测。
用于自动校准电路最大化芯片性能设备方法

[发明专利]针对发光二极管的内建自测试-CN202110356660.3在审
发明人： A·德西科;R·基奥多 -专利权人：英飞凌科技股份有限公司
申请日： 2021-04-01 - 公布日： 2021-10-26 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本公开的实施例涉及针对发光二极管的内建自测试。在一些示例中，设备包括内建自测试，该内建自测试用于检测第一发光二极管(LED)和第二LED之间的故障。内建自测试被配置为：控制第一驱动器和第二驱动器以逐个导通连接到第一焊盘对和第二焊盘对的相应通过开关。内建自测试被配置为然后确定第一LED和第二LED两端的第一正向电压和第二正向电压。内建自测试可以基于正向电压来确定第一LED和第二LED之间是否存在故障。
针对发光二极管测试

[发明专利]目标测试不通过注入-CN202111196433.5有效
发明人： B·T·佩哈;B·T·格劳利克;N·K·科皮克 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2021-10-14 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：存储器装置可包含被配置成测试存储器阵列的一或多个存储器单元的自测试电路系统。所述自测试电路系统可被配置成基于来自所述存储器装置的模式寄存器的指示而存储在所述存储器阵列的测试期间未通过的一或多个地址。所述自测试电路系统可被配置成不通过所述所存储的一或多个地址而不考虑所述一或多个存储器地址处的所述测试的结果。举例来说，当所存取的地址在测试期间匹配存储的地址时，所述自测试电路系统可产生所述所存取的地址未通过所述自测试程序的一或多个测试的指示。基于所述自测试电路系统不通过所述所存储的地址，可验证所述存储器阵列的测试。
目标测试不通过注入

[发明专利]在自动外部除颤器内进行自测试的系统和方法-CN200580046801.0无效
发明人： K·鲍尔斯 -专利权人：捷通心脏系统公司
申请日： 2005-11-18 - 公布日： 2008-02-06 - 主分类号： A61N1/39 文献下载
摘要：一种具有确保设备备用性的智能自测试系统的自动外部除颤器。该自测试系统基于设备使用知识、时刻、预编程信息、操作特性和先前事件有条件地运行功能性测试。基于所进行自测试的结果对除颤器的状况进行视觉、听觉或二者的指示。
自动外部颤器内进行测试系统方法

[发明专利]一种程序测试的控制方法、装置、存储介质及平台-CN201910333939.2有效
发明人：徐玮嘉 -专利权人：江苏满运软件科技有限公司
申请日： 2019-04-24 - 公布日： 2022-08-23 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：在预置的用例库中确定目标用例，并将目标用例分配至各个测试节点；其中，所述测试节点为程序测试的至少一个测试单元节点；识别测试节点的测试类型，根据所述测试类型确定目标用例的测试安排方式；其中，所述测试类型包括自测类型和检测类型；根据安排方式以及控制所述测试节点执行分配至该测试节点的目标用例，统计得到测试节点的自测类型统计结果和检测类型统计结果；根据所述自测类型统计结果和检测类型统计结果，采用预设规则确定开发自测质量结果。通过执行本申请所提供的技术方案，可以实现对开发自测的质量进行有效评估的效果。
一种程序测试控制方法装置存储介质平台

[发明专利]基于扫描测试的多个SRAM的内建自测试方法-CN201010521936.0无效
发明人：袁东风;仝红红;苗全;黄权;杨刚强;徐祥桐 -专利权人：山东大学
申请日： 2010-10-27 - 公布日： 2011-03-30 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：基于扫描测试的多个SRAM的内建自测试方法，属集成电路设计技术领域。对多个待测SRAM测试，分为扫描模式和内建自测试模式。在内建自测试模式下，通过启动内建自测试，观察输出信号，判断是否存在错误。本发明无需添加过多逻辑电路，结合扫描测试和内建自测试方法的优点，尽可能大限度的优化系统资源，提高测试覆盖率，节约测试时间和测试成本，节省芯片面积。
基于扫描测试 sram 方法

[发明专利]FPGA功能测试方法及装置-CN201911081430.X在审
发明人：项宗杰;胡小海;楼建设;孔泽斌;徐导进 -专利权人：上海精密计量测试研究所
申请日： 2019-11-07 - 公布日： 2020-05-01 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种FPGA功能测试装置，其特征在于，包括上位机和FPGA功能测试板；其中，上位机运行有上位机软件，用于配置FPGA，显示自测试结果；上位机上存储有用于FPGA功能测试的自测试程序；FPGA功能测试板上设置有接口芯片与待测的FPGA，所述接口芯片分别与上位机和待测的FPGA连接，用于接收由上位机传送的自测试程序，并将自测试程序配置至待测FPGA上，开启测试，并将FPGA的测试结果回传至上位机软件
fpga 功能测试方法装置

[发明专利]一种用于逐步接近型数模转换器的自测装置和自测方法-CN201010251150.1有效
发明人：郁新华;张洪;杨清 -专利权人：美凌微电子(上海)有限公司
申请日： 2010-08-12 - 公布日： 2010-11-24 - 主分类号： H03M1/10 文献下载
摘要：一种用于逐步接近型数模转换器的自测装置和自测方法，自测装置包含电路连接的主数模转换器、次数模转换器、自我校准数模转换器和比较器，还包含电路连接的逐步接近控制器、自我测试控制器、以及自我校准控制器。自测方法包含自我校准、单一电容测试、以及间隔电容测试过程。本发明在测量过程中引入了新的1/2参考电压，可以有效地检测电容值的合理性，并且可以确定缺陷电容的位置。
一种用于逐步接近数模转换器自测装置方法

[发明专利]嵌入式存储器的测试结构及方法-CN201310614028.X在审
发明人：冯华星;何文涛;殷明;周美娣;黄璐 -专利权人：中国科学院嘉兴微电子与系统工程中心
申请日： 2013-11-26 - 公布日： 2014-03-05 - 主分类号： G11C29/14 文献下载
摘要：本发明公开了一种内嵌于SoC芯片中的嵌入式存储器的测试结构，其包括存储器内建自测试模块、系统总线和存储器内建自测试控制器。其中，存储器内建自测试模块集成了各种SRAM的测试算法，作为系统总线的主单元；存储器内建自测试控制器和SoC芯片中的SRAM阵列作为系统总线的从单元；存储器内建自测试控制器包括比较器阵列、与门、结果寄存器本发明实现了基于系统总线对SRAM阵列的并行的内建自测试，由此解决了现有技术中嵌入式存储器测试时间过长的问题，并能够极大地提高集成电路芯片测试效率。
嵌入式存储器测试结构方法

[发明专利]在片自测试自修复方法-CN200810207673.9有效
发明人：林正浩;任浩琪;郑长春;王沛;耿红喜 -专利权人：上海芯豪微电子有限公司
申请日： 2008-12-23 - 公布日： 2010-06-30 - 主分类号： G11C29/00 文献下载
摘要：本发明属于集成电路设计领域，具体为一种能够在加电工作的情况下不依赖于外部设备进行芯片的自测试，并能根据测试结果进行自修复的方法。该方法中的自测试，可以应用于芯片内的所有结构和部分；该方法中的自修复，可以应用于芯片内的所有具有备份单元的结构和部分。基于该方法的自测试自修复过程分为两个阶段：第一阶段为测试、修复阶段，首先进行自测试，根据测试结果使用备份单元来替换失效单元；第二阶段为重测阶段，若未检测出错误，则完成在片自测试自修复，否则产生不可修复信号本发明以较低代价实现在片自测试自修复，使用备份单元替换出错部分，提高了芯片的良率和可靠性，也有效地减少了测试时间、降低测试成本。
测试修复方法

[发明专利]用于提供智能存储器架构的方法和系统-CN201310629755.3有效
发明人： A.E.昂格 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2013-11-29 - 公布日： 2018-10-19 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：所述系统可以包括能够执行误比特率内置自测试的智能存储器控制器。所述智能存储器控制器可以包括误比特率控制逻辑，其被配置成控制误比特率内置自测试。写错误率测试图案生成器可以生成用于误比特率内置自测试的写错误测试图案。读错误率测试图案生成器可以生成用于内置自测试的读错误测试图案。智能存储器控制器可以在内部生成错误率定时图案，执行内置自测试，测量得到的错误率，基于所测量的错误率自动调整一个或多个测试参数，以及使用调整后的参数重复内置自测试。
用于提供智能存储器架构方法系统

[发明专利]一种非挥发性存储器的自测试方法和装置-CN201610255836.5有效
发明人：胡洪 -专利权人：北京兆易创新科技股份有限公司
申请日： 2016-04-21 - 公布日： 2020-08-07 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本发明提供了一种非挥发性存储器的自测试方法和装置，非挥发性存储器包括自测试控制器，非挥发性存储器与测试设备相连，方法包括：通过非挥发性存储器接收测试设备发送的启动自测试指令；启动自测试控制器，确定最大测试次数和非挥发性存储器的各待测试项目；通过自测试控制器根据各待测试项目对非挥发性存储器进行测试，直至对各待测试项目的测试次数等于最大测试次数，或直至任一待测试项目的测试结果为非挥发性存储器失效；若任一待测试项目的测试结果为非挥发性存储器失效，则通过自测试控制器记录对应的项目失效信息至非挥发性存储器的第一预设存储空间。
一种挥发性存储器测试方法装置

[发明专利]用于无线传感器读取器的自测试装置和方法-CN201680060334.5有效
发明人：巴拉穆鲁甘·孙达拉姆;迈克尔·纳吉;道格拉斯·尼耳森;苏雷什·孙达拉姆 -专利权人：内电子有限公司
申请日： 2016-09-02 - 公布日： 2021-03-19 - 主分类号： H04Q9/00 文献下载
摘要：公开了一种用于评估读取器装置的功能性能的自测试装置和方法，所述读取器装置被配置为与无线传感器连接。所述自测试装置可以被配置为分析从读取器装置中传输的信号的精确度或由读取器装置接收到的信号的精确度。在一个实施例中，所述读取器装置可以被配置为接合自测试装置以允许读取器来传输信号，诸如短脉冲能量或短猝发射频能量以促使自测试装置输出谐振信号。自测试装置可以接收来自读取器的传输信号并针对预定值估计传输信号。所述估计出的信号可以用于评估读取器装置的传输信号的精确度以标识潜在的校准问题并且如果需要则通过自动化系统或人为干预来启动补救措施。自测试装置可以被内置在当读取器不使用时被放置在其中的扩展坞中。
用于无线传感器读取器测试装置方法

[发明专利]在自测试火灾感测设备处启动火灾响应-CN202211258958.1在审
发明人： B·H·沃尔夫;H·K·维蒂尔;H·戈亚尔 -专利权人：霍尼韦尔国际公司
申请日： 2022-10-14 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G08B17/00 文献下载
摘要：本文描述了用于使自测试火灾感测设备启动火灾响应的设备、方法和系统。一个设备包括用户界面、存储器和处理器，该处理器被配置为执行存储在存储器中的可执行指令，以经由用户界面接收启动火灾响应的选择，经由用户界面接收对启动火灾响应的自测试火灾感测设备的选择，将命令发送至自测试火灾感测设备以启动火灾响应，以及接收由自测试火灾感测设备启动火灾响应所触发的多个输出事件的通知。
测试火灾设备启动响应

[发明专利]用于GPU的着色器核心的在空闲周期期间的自测试-CN201880077832.X在审
发明人： R·古拉堤;A·E·格鲁贝尔;B·L·约翰逊;J·C·云;金东炫;A·K·H·容;A·萨克塞纳 -专利权人：高通股份有限公司
申请日： 2018-11-28 - 公布日： 2020-07-14 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本公开描述了用于独立于来自另一个处理装置的指令而进行图形处理单元GPU的自测试的技术。所述GPU可以响应于确定所述GPU进入空闲模式而执行所述自测试。所述自测试可以基于指示安全等级的信息，其中所述安全等级指示需要在所述GPU的电路或存储器块中检测到多少故障。
用于 gpu 着色核心空闲周期期间测试