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[发明专利]高频脉冲耐电晕测试仪-CN201310726030.6在审
发明人：夏克;叶贤刚;周震堃 -专利权人：常州威远电工器材有限公司
申请日： 2013-12-25 - 公布日： 2015-07-01 - 主分类号： G01R31/12 文献下载
摘要：本发明揭示了一种高频脉冲耐电晕测试仪，用于测量漆包线产品的耐高频脉冲性能，包括主机和与所述主机通信连接的上位机。本发明可以通过主机的脉冲电源模拟变频电源输出脉冲电压条件，同时对漆包线产品的若干测试样品进行耐高频脉冲性能的测试，测试精度得到提高的同时，测试速度快，并且测试结果可以通过示波器直观的显示。
高频脉冲电晕测试仪

[发明专利]温度电流精确可控的功率半导体器件特性测试方法-CN201811628397.3有效
发明人：马柯;林家扬;蔡旭;朱晔 -专利权人：上海交通大学
申请日： 2018-12-28 - 公布日： 2020-06-30 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供了一种温度电流精确可控的功率半导体器件特性测试方法，包括：设定电流和温度下功率半导体器件的开关特性测试方法、恢复特性测试方法和导通特性测试方法。测试方法包括：对被测开关管施加一组包括三个脉冲的测试脉冲序列，在第一个脉冲的下降沿测试开关管的关断特性；第二个脉冲补偿负载电流的损耗；在第一个脉冲结束与三个脉冲开始之间测试开关管或二极管的导通特性；在第三个脉冲的上升沿测试开关管的开通特性和二极管的恢复特性；从而达到温度电流精确可控的功率半导体器件特性测试效果。
温度电流精确可控功率半导体器件特性测试方法

[发明专利]半导体集成电路-CN201210490681.5有效
发明人：丘泳埈 -专利权人：爱思开海力士有限公司
申请日： 2012-11-27 - 公布日： 2018-01-23 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：本发明提供一种半导体集成电路，包括经由通孔而彼此耦合的多个半导体芯片，其中，多个半导体芯片中的最下层的半导体芯片被配置为产生第一测试脉冲信号并且经由通孔来发送第一测试脉冲信号，多个半导体芯片中的最上层的半导体芯片被配置为在与第一测试脉冲信号大体保持时间差的同时产生第二测试脉冲信号，并且经由通孔来发送第二测试脉冲信号，多个半导体芯片被配置为响应于第一测试脉冲信号和第二测试脉冲信号而产生用于判定通孔是否有缺陷的测试结果信号。
半导体集成电路

[发明专利]完备性定时脉冲同步性能测试方法及其装置-CN201310233210.0有效
发明人：贾小波;郭明;吴淑琴;刘洁;李军华;乔国强 -专利权人：郑州威科姆科技股份有限公司
申请日： 2013-06-13 - 公布日： 2013-10-23 - 主分类号： H03K3/021 文献下载
摘要：本发明涉及脉冲测试领域，特别涉及一种完备性定时脉冲同步性能测试方法及装置，该测试方法它包含如下步骤：1)检测脉冲上升沿并计数；2)根据上步骤内置计数器的计数值，统计被测脉冲的相位鉴相值；3)统计脉冲数量；4)完成相位鉴相值和脉冲数量计算，将脉冲数量的统计结果输出。本发明实现多通道脉冲并行测试，可以测试相位较接近的被测信号并且直接将结果输出，无需换算处理，能够处理测试被测信号的毛刺和统计被测信号一段时间无脉冲的异常情况，并在测试结果中做标记记录，便于后续分析，可接入外部参考频率源
完备定时脉冲同步性能测试方法及其装置

[发明专利]测试电路、测试装置及其测试方法-CN202010892968.5有效
发明人：张良 -专利权人：长鑫存储技术（上海）有限公司
申请日： 2020-08-31 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： G01R29/02 文献下载
摘要：本申请实施例涉及一种测试电路和测试方法，所述测试电路包括：第一采样模块，用于接收待测试的脉冲信号，并根据所述脉冲信号生成第一采样信号；第二采样模块，用于接收所述脉冲信号，并根据所述脉冲信号生成第二采样信号；其中，所述第二采样信号与所述第一采样信号具有一相位差，所述相位差等于所述脉冲信号的脉冲宽度。本实施例基于一个脉冲信号生成两个采样信号，即，将脉冲宽度较窄的脉冲信号拆分为更易识别和计算的第一采样信号和第二采样信号，以降低对后续的分析模块的测试速度和测试精度需求，从而提供了一种准确性更高的测试电路
测试电路装置及其方法

[发明专利]适用于脉冲状态的一体化网络参数测试仪及其测试方法-CN201110416582.8有效
发明人：曹志英;刘丹;梁胜利;许春卿;段飞 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2011-12-14 - 公布日： 2012-07-11 - 主分类号： H04L12/26 文献下载
摘要：本发明属于网络测试技术，具体涉及一种适用于脉冲状态的一体化网络参数测试仪及其测试方法。该测试仪包括内置的脉冲发生器模块，以及与脉冲发生器模块连接的脉冲调制模块，激励信号源模块与脉冲调制模块连接，脉冲调制模块连接脉冲大功率S参数测试模块；脉冲大功率S参数测试模块和本振信号源模块分别与混频接收机模块连接本发明克服了现有测试仪器体积庞大、造价高的缺陷，使网络参数测试更加灵活方便。
适用于脉冲状态一体化网络参数测试仪及其测试方法

[发明专利]用于脉冲激光器的功率复测方法及系统-CN202010948231.0有效
发明人：朱健;叶鹏;王志源;陈佳明;杨琪 -专利权人：无锡锐科光纤激光技术有限责任公司
申请日： 2020-09-10 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种用于脉冲激光器的功率复测方法及系统，该方法包括：获取待测试脉冲激光器的型号信息；根据所述型号信息，确定所述待测试脉冲激光器多个对应的测试频率和测试功率，并根据所述多个对应的测试频率和测试功率，得到多个测试参数组合；根据所述多个测试参数组合，按照预设顺序，对所述待测试脉冲激光器进行测试，得到功率复测数据。本发明实施例通过自动识别脉冲激光器的型号，基于多种频率和功率的组合方式，依次对脉冲激光器进的功率进行复测，提高了复测准确性和复测效率。
用于脉冲激光器功率复测方法系统

[实用新型]一种瞬态脉冲干扰的注入装置-CN202123347273.8有效
发明人：李生平;黄泽猛;聂小荣;王雄;赖星宝 -专利权人：深圳信测标准技术服务股份有限公司
申请日： 2021-12-28 - 公布日： 2022-07-19 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型所涉及一种瞬态脉冲干扰的注入装置，其包括脉冲发生器，因脉冲发生器上设置有注入结构，该注入结构包括50Ω的BNC接头，双层屏蔽同轴金属线，鳄鱼夹输出端。使用时，BNC接头与脉冲发生器连接，而鳄鱼夹输出端与被测试的线路连接，测试时，将瞬态脉冲注入到被干扰的待测试的线路，保证脉冲发生器产生的瞬态脉冲波形无损耗，无失真，减少脉冲信号波形损耗和失真，提高脉冲信号质量和脉冲测试效率从而达到避免因所产生脉冲信号波形损耗和失真而引起降低脉冲信号质量和脉冲测试效率的现象发生。本实用新型还具有操作简单，使用方便，安全快捷的效果。
一种瞬态脉冲干扰注入装置

[发明专利]一种量子芯片测试方法和装置-CN202010799352.3在审
发明人：石汉卿;张昂;孔伟成 -专利权人：合肥本源量子计算科技有限责任公司
申请日： 2020-08-11 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种量子芯片测试方法和装置，应用于量子测控装置，包括：在接收到脉冲信号指令时，获得与脉冲信号指令对应的参数列表和波形列表；控制功能模块生成与参数列表和/或波形列表中的遍历控制数据对应的脉冲测试信号；向功能模块发送第一脉冲使能信号，控制功能模块输出脉冲测试信号到待测量子芯片进行测试；在接收完待测量子芯片返回的回波数据后，向功能模块发送第二脉冲使能信号，控制功能模块终止脉冲测试信号输出；控制功能模块将下一个控制数据对应的脉冲测试信号输出到待测量子芯片进行测量，直至所有的遍历控制数据对应的脉冲测试信号均遍历完。本发明能够提高对量子芯片的测量效率、节约人工测试成本。
一种量子芯片测试方法装置

[发明专利]一种DTU测试模拟器及DTU测试系统-CN201610525630.X在审
发明人：何春林;戚佳金;周志全;郑正仙;陈宏挺 -专利权人：国网浙江省电力公司杭州供电公司;国家电网公司;杭州大有科技发展有限公司
申请日： 2016-07-01 - 公布日： 2016-09-07 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种DTU测试模拟器及DTU测试系统，该测试模拟器包括脉冲响应模块和脉冲反馈模块，脉冲响应模块与DTU连接，脉冲反馈模块分别与DTU及脉冲响应模块连接；脉冲响应模块用于接收DTU发送的脉冲信号，并在脉冲信号的作用下生成对应的脉冲控制信号；脉冲反馈模块用于在脉冲控制信号的作用下生成对应的位置信号，并将位置信号发送至DTU，以供基于DTU接收到的位置信号与DTU发送的脉冲信号的对应关系确定该DTU是否通过测试。当出现开关遥控失败时，利用该DTU测试模拟器实现对于DTU的测试，确定开关遥控失败为DTU引起的情况时，则无需再停役开关设备，从而大大减少了工作量，提高了工作效率。
一种 dtu 测试模拟器系统

[发明专利]一种功率器件电学闩锁测试系统-CN202010264324.1在审
发明人：倪涛;曾传滨;王娟娟;孙佳星;韩郑生;罗家俊 -专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日： 2020-04-07 - 公布日： 2020-08-18 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种功率器件电学闩锁测试系统，包括：脉冲发生段传输线，特征阻抗为5Ω；终端极化装置，特征阻抗为5Ω，与脉冲发生段传输线的连接；脉冲调制段传输线，特征阻抗为5Ω，脉冲调制段传输线与脉冲发生段传输线连接；同轴水银继电器，串联在脉冲发生段传输线和脉冲调制段传输线之间；负载测试装置，负载测试装置与脉冲调制段传输线连接；示波器，与脉冲发生段传输线和负载测试装置连接；控制主机，与示波器和同轴水银继电器连接；高压直流电源，与脉冲发生段传输线和控制主机连接，高压直流电源可输出5000V电压。本发明可以提高电学闩锁测试系统的测试能力，从而满足功率器件电学闩锁测试需求。
一种功率器件电学测试系统

[实用新型]一种用于晶闸管电压监测板的检测装置-CN201720458180.7有效
发明人：徐峰;徐松;田野;高标;赵景峰;王成波;金建强 -专利权人：中国南方电网有限责任公司超高压输电公司昆明局;北京博电新能电力科技有限公司
申请日： 2017-04-27 - 公布日： 2017-12-29 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于晶闸管电压监测板的检测装置，包括上位机、直流均压电阻测试模块、正反向脉冲测试模块、BOD测试模块，所述直流均压电阻测试模块、正反向脉冲测试模块、BOD测试模块均与上位机连接。该装置对晶闸管电压监测板满足多种测试需求，包括晶闸管电压监测板直流阻抗测试、正反向脉冲测试、BOD测试；具有线性度好，输出精度高，根据不同的测试要求输出电压可调等优点；电流采集采用高速、高精度AD转换芯片，可使最终的阻抗测量误差减小到0.5%以内；可以为回报脉冲的到来时刻提供精确的时间；可以精确测量回报脉冲宽度及脉冲时延，精确到0.1us。
一种用于晶闸管电压监测检测装置

[实用新型]用于消除电缆故障测试盲区的测试消盲仪器及测试系统-CN200720031391.9无效
发明人：韩佰锋 -专利权人：西安四方机电有限责任公司
申请日： 2007-03-21 - 公布日： 2008-02-06 - 主分类号： G01R31/11 文献下载
摘要：本实用新型涉及用于消除电缆故障测试盲区的测试消盲仪器，包括用于使用脉冲信号测试电缆故障点的测试仪器，所述测试仪器内还包括用于延迟脉冲到达被测电缆的消盲电路。本实用新型还涉及一种用于消除电缆故障测试盲区的测试系统，包括用于使用脉冲信号测试电缆故障点的测试仪器，被测电缆，在测试仪器与被测电缆之间设有用于延迟脉冲到达所述被测电缆的消盲电路。本实用新型通过在测试仪器与被测电缆之间加入用于延迟脉冲到达所述被测电缆的消盲电路，通过延长脉冲到达电缆的时间，从而避免了故障点的故障信号叠加于测试仪器发出的脉冲信号上而不能使仪器检测到该故障信号的缺陷，使得，测试电缆故障点的测试更加方便，降低了成本。
用于消除电缆故障测试盲区测试仪器系统

[发明专利]数字隔离器的传播延时测试电路-CN202010590318.5在审
发明人：陈奇辉;杨波;盛云;叶健 -专利权人：苏州纳芯微电子股份有限公司
申请日： 2020-06-24 - 公布日： 2020-09-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种数字隔离器的传播延时测试电路，包括数字隔离器及用以测试数字隔离器传播延时的测试机，所述测试电路还包括：脉冲产生电路，与所述数字隔离器相连接，用以将数字隔离器的输入信号和输出信号转换为脉冲信号，输出信号相对输入信号的延时与脉冲信号的脉冲宽度相等；滤波器，连接于脉冲产生电路和测试机之间，用以将脉冲信号转换为直流电压信号，并发送给测试机。所述脉冲产生电路可以将数字隔离器的输入信号和输出信号转换为脉冲信号，而滤波器又可以将脉冲信号转换为直流电压信号，所述测试机可直接测量直流电压信号，而无需再对数字隔离器的输入信号和输出信号进行检测，因而对测试机的要求大大降低，减小了测试成本。
数字隔离器传播延时测试电路

[实用新型]数字隔离器的传播延时测试电路-CN202021206688.6有效
发明人：陈奇辉;杨波;盛云;叶健 -专利权人：苏州纳芯微电子股份有限公司
申请日： 2020-06-24 - 公布日： 2021-01-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种数字隔离器的传播延时测试电路，包括数字隔离器及用以测试数字隔离器传播延时的测试机，所述测试电路还包括：脉冲产生电路，与所述数字隔离器相连接，用以将数字隔离器的输入信号和输出信号转换为脉冲信号，输出信号相对输入信号的延时与脉冲信号的脉冲宽度相等；滤波器，连接于脉冲产生电路和测试机之间，用以将脉冲信号转换为直流电压信号，并发送给测试机。所述脉冲产生电路可以将数字隔离器的输入信号和输出信号转换为脉冲信号，而滤波器又可以将脉冲信号转换为直流电压信号，所述测试机可直接测量直流电压信号，而无需再对数字隔离器的输入信号和输出信号进行检测，因而对测试机的要求大大降低，减小了测试成本。
数字隔离器传播延时测试电路