专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]脉冲测试过流保护电路-CN202211093191.1在审
  • 刘旭;兰华兵;杨承晋;刘涛 - 深圳市森国科科技股份有限公司
  • 2022-09-08 - 2023-06-23 - H02H3/087
  • 本申请公开了一种双脉冲测试过流保护电路,应用于电子电力技术领域,包括:电源模块用于生成双脉冲测试电流;双脉冲测试模块,与电源模块连接,双脉冲测试模块包括第一开关电路、第二开关电路和第一电感,第一开关电路与第二开关电路串联,且第一开关电路与第一电感并联;过流保护模块与第一电感串联,当双脉冲测试电流大于预设的阈值电流时,过流保护模块断开第一电感与第一开关电路之间的连接,以使双脉冲测试电流不再经过第一开关电路和第二开关电路。本申请通过过流保护模块断开第一电感与第一开关电路之间的连接,使得第一开关电路与第二开关电路不再有电流经过,减少了元件因电流过大而损坏的情况的发生,实现对双脉冲测试模块的过流保护。
  • 脉冲测试保护电路
  • [发明专利]基于非线性电阻片的智能脉冲电流多参数数字测量装置-CN200410073117.9无效
  • 姚学玲;陈景亮 - 西安交通大学
  • 2004-09-24 - 2005-03-02 - G01R19/25
  • 基于非线性电阻片的智能脉冲电流多参数数字测量装置,包括与脉冲电流发生电路相连的电流传感器与电压传感器,它们将脉冲电流信号和脉冲电压信号分别接至脉冲电流测试单元与脉冲电压测试单元,脉冲电流和脉冲电压测试单元首先对模拟脉冲信号进行模数转换并存储在动态存储器中,然后由CPU单元对数字信号进行处理,计算脉冲信号的各种物理参数。本发明除具有一般峰值电压表脉冲峰值测量与显示及量程与倍率设置功能外,还具有跟踪被测信号的极性,对正、负极性的信号进行自动测量,计算脉冲试验的多种物理参数,以及根据脉冲电流发生电流或脉冲电压的试验波形对被试品脉冲试验结果自动进行判别等功能
  • 基于非线性电阻智能脉冲电流参数数字测量装置
  • [发明专利]脉冲测试电路及双脉冲测试方法-CN202210426667.2有效
  • 张铭远 - 瑶芯微电子科技(上海)有限公司
  • 2022-04-21 - 2023-04-07 - G01R31/26
  • 本发明提供一种双脉冲测试电路及双脉冲测试方法,所述双脉冲测试电路包括:低压电源、储能电感、高压电容、第一功率器件、第二功率器件及钳位模块;所述储能电感的第一端连接所述低压电源的正极,第二端连接所述第一功率器件的第一端及所述第二功率器件的第一端;所述第一功率器件的第二端连接所述低压电源的负极,控制端接入双脉冲信号;所述第二功率器件的第二端通过所述高压电容连接所述储能电感的第一端;所述钳位模块连接所述高压电容的两端,用于将电容电压钳位至设定高压通过本发明提供的双脉冲测试电路及双脉冲测试方法,解决了现有双脉冲测试技术中存在高压触电风险及炸管风险的问题。
  • 脉冲测试电路方法
  • [实用新型]流量标准装置换向器-CN202020662607.7有效
  • 韩鹏;臧京;郑素洁;房圣仟;石长江 - 丹东通博测控工程技术有限公司
  • 2020-04-27 - 2020-10-16 - G01F25/00
  • 本实用新型流量标准装置换向器,包括有输流管、分水筒、摆动喷嘴、气缸、挡片、光电脉冲信号转换器;在输流管上固定连接设有第一连接架、第二连接架和工作模式光电脉冲信号转换器(51)、测试模式光电脉冲信号转换器(61);在摆动喷嘴上固定安装扇形板(7),在扇形板上分别开设有工作模式挡片(8)、测试模式第一挡片(9a)、测试模式第二挡片(9b);经上位机操作控制工作模式光电脉冲信号转换器工作或测试模式光电脉冲信号转换器工作其通过切换使用工作模式光电脉冲信号转换器和测试模式光电脉冲信号转换器进行工作模式时和测试模式转换,不需要对触发挡片进行更换,操作使用方便。
  • 流量标准装置换向器
  • [发明专利]具有用于测量内部存储器宏的AC特性的测试电路的集成电路装置-CN03826821.3有效
  • 牧康彦 - 富士通株式会社
  • 2003-07-22 - 2006-07-12 - G11C29/00
  • 一种集成电路装置包括:存储器宏,用于在正常操作期间响应于控制脉冲而锁存输入地址,并产生与输入地址相对应的数据输出;以及测试控制电路(22),用于在测试期间执行对存储器宏的特性测试。一个或更多个存储器宏单元(RMU1、RMU2、RMU3)分别具有:脉冲发生电路,用于在测试期间响应于输入脉冲而产生用于测试的控制脉冲;以及存储器宏,其被连接以形成环形振荡器,并且该测试控制电路测量环形振荡器的振荡频率或周期当存储器宏的数据输出被提供给后续级的脉冲发生电路以产生控制脉冲时,环形振荡器进行振荡。振荡周期被划分为预定数量的级,去除脉冲发生电路的延迟,由此高精确度地测量存储器宏的访问时间。
  • 具有用于测量内部存储器ac特性测试电路集成电路装置
  • [发明专利]集成电路测试装置-CN201711033633.2有效
  • 陈柏霖;郭俊仪;陈莹晏 - 瑞昱半导体股份有限公司
  • 2017-10-30 - 2021-10-08 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种集成电路测试装置,该装置的一实施例包含一芯片时脉控制器、一脉冲除错电路以及一暂存电路。所述芯片时脉控制器用来依据一输入时脉产生一输出时脉,其中该输出时脉是被用来测试一受测电路,且该受测电路是包含于该集成电路测试装置中。所述脉冲除错电路用来依据该输出时脉的一脉冲数,产生一脉冲纪录,该脉冲纪录指出该输出时脉所关联的一测试状态是否正常。所述暂存电路用来依据一稳定时脉储存及输出该脉冲纪录。
  • 集成电路测试装置

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