[发明专利]一种量子芯片测试方法和装置在审
| 申请号： | 202010799352.3 | 申请日： | 2020-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN114076885A | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 石汉卿;张昂;孔伟成 | 申请（专利权）人： | 合肥本源量子计算科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/311 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市高新*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种量子芯片测试方法和装置，应用于量子测控装置，包括：在接收到脉冲信号指令时，获得与脉冲信号指令对应的参数列表和波形列表；控制功能模块生成与参数列表和/或波形列表中的遍历控制数据对应的脉冲测试信号；向功能模块发送第一脉冲使能信号，控制功能模块输出脉冲测试信号到待测量子芯片进行测试；在接收完待测量子芯片返回的回波数据后，向功能模块发送第二脉冲使能信号，控制功能模块终止脉冲测试信号输出；控制功能模块将下一个控制数据对应的脉冲测试信号输出到待测量子芯片进行测量，直至所有的遍历控制数据对应的脉冲测试信号均遍历完。本发明能够提高对量子芯片的测量效率、节约人工测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 量子 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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