专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于典型缺陷缺陷辅助处理方法及系统-CN201611249669.X在审
  • 李雪莹;刘丰;王添;成鑫 - 北京市天元网络技术股份有限公司
  • 2016-12-29 - 2017-06-09 - G06F17/30
  • 本发明涉及通信网络运维技术领域,公开了一种基于典型缺陷缺陷辅助处理方法,包括步骤S1创建典型缺陷,所述典型缺陷记录了通信设备的典型缺陷,所述典型缺陷包括属性缺陷标题、设备类型、设备厂家、缺陷描述、缺陷原始信息和缺陷处理措施;S2当出现新缺陷时,将典型缺陷的一种或几种属性与所述新缺陷的一种或几种属性进行匹配,将匹配上至少一种属性的典型缺陷作为分析结果展示。本发明还公开了一种基于典型缺陷缺陷辅助处理系统。本发明的基于典型缺陷缺陷辅助处理方法及系统,通过将新缺陷与典型缺陷中的缺陷进行关联分析,能够快速匹配出新缺陷的解决措施并展示,从而提高了新缺陷的处理效率。
  • 基于典型缺陷辅助处理方法系统
  • [发明专利]一种表面缺陷的分析方法-CN201611224399.7有效
  • 卢小丽;吴腾;杨双峰 - 武汉延锋时代检测技术股份有限公司
  • 2016-12-27 - 2019-10-01 - G06F16/2458
  • 本发明涉及表面缺陷的分析方法,第一步,收集在线检测系统的缺陷及其原因数据;第二步,将检测系统中数据收集存入数据中,一方面直接进入缺陷分类,另一方面经过专家判定进入缺陷原因;第三步,运用加权模糊层次关联关系算法找出缺陷与原因之间的关系通过正反馈更新缺陷以及原因信息本发明通过数据关联关系挖掘的算法找出原因与原因、原因与缺陷缺陷缺陷之间的关联关系,然后将这些关系反馈到缺陷和原因中。在缺陷中将有关联关系的缺陷自动归类,缺陷原因有相关性的也自动归类。本发明通过关联关系匹配的方法把有关联的缺陷与原因进行归类后,加快了查询缺陷发生原因对应的类别。
  • 一种表面缺陷分析方法
  • [发明专利]一种超声数据缺陷辅助评定算法-CN202110990735.3在审
  • 李宝超;李健;姚国征;刘春杰;马丹;刘宏刚 - 廊坊市新思维科技有限公司
  • 2021-08-26 - 2021-11-26 - G06F16/25
  • 本发明涉及评定算法技术领域,具体为一种超声数据缺陷辅助评定算法,包括原始数据组件,所述原始数据组件的数据端口连接有数据读取组件,所述数据读取组件的输出端口分别连接有第一缺陷数据、完整数据与第二缺陷数据,所述第一缺陷数据、所述完整数据、所述第二缺陷数据分别与所述数据读取组件单独连接;有益效果:通过原始数据组件的作用,将外部的数据进行读取,随后有原始数据组件将数据进行传递,由数据读取组件的作用将有用的数据和残缺的数据进行分类,分别发送至第一缺陷数据、完整数据与第二缺陷数据,残缺数据保存在第一缺陷数据与第二缺陷数据的内部,而完整的数据则会通过完整数据进行保存。
  • 一种超声数据缺陷辅助评定算法
  • [发明专利]一种基于模型结构演化的缺陷代码块定位方法-CN202210279322.9在审
  • 陈晋音;李晓豪;金海波;郑海斌;倪洪杰 - 浙江工业大学
  • 2022-03-21 - 2022-07-05 - G06F11/36
  • 本发明公开了一种基于模型结构演化的缺陷代码块定位方法,首先基于若干深度学习计算框架,总结其对象和安全性问题,构建计算框架对象;再构成计算框架安全性缺陷和代码安全性缺陷;然后构建一神经网络模型,并对其进行变异,得到变异模型集合,对变异模型集合进行输出差异提取,得到特征差异向量,计算预测匹配率,并以此判定神经网络模型是否存在缺陷代码块;最后通过语句操作方法对神经网络模型的缺陷代码进行验证和溯源,并与计算框架安全性缺陷和代码安全性缺陷进行对比,实现缺陷代码块定位。本发明方法降低计算成本,部署和应用场景更广,提高代码块的缺陷定位精度。
  • 一种基于模型结构演化缺陷代码定位方法
  • [发明专利]缺陷知识-CN200810087403.9无效
  • 阿莫斯·多尔;马亚·拉德辛斯基 - 应用材料有限公司
  • 2001-10-02 - 2008-08-20 - H01L21/66
  • 创建含有半导体晶片上晶片缺陷的研究案例信息的缺陷知识的方法和相关装置。该方法包括创建一个数据条目并且存储数据条目以备以后访问,其中上述数据条目含有一个指定缺陷的一个研究案例,上述研究案例包含缺陷信息而上述缺陷信息包括一或多个缺陷图像。数据条目被存储在一个服务器上并且可以被多个客户端访问。
  • 缺陷知识库
  • [发明专利]缺陷知识-CN01802982.5无效
  • 阿莫斯·多尔;马亚·拉德辛斯基 - 应用材料有限公司
  • 2001-10-02 - 2003-01-22 - G01N21/95
  • 创建含有半导体晶片上晶片缺陷的研究案例信息的缺陷知识的方法和相关装置。该方法包括创建一个数据条目并且存储数据条目以备以后访问,其中上述数据条目含有一个指定缺陷的一个研究案例,上述研究案例包含缺陷信息而上述缺陷信息包括一或多个缺陷图像。数据条目被存储在一个服务器上并且可以被多个客户端访问。
  • 缺陷知识库

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