专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种及其制备方法-CN201911054145.9有效
  • 王军;刘贤超;崔官豪;周泓希;苟军;史佳欣;刘德幸 - 电子科技大学
  • 2019-10-31 - 2021-11-09 - H01L45/00
  • 本发明公开了一种及其制备方法,属于半导体器件微纳加工技术领域,方法包括将电阻率满足第一阈值条件、晶向为100的低硅片作为低衬底;在所述低衬底上制备具有孔阵列的掩膜层;刻蚀所述低衬底得到具有三维锥形结构阵列的低衬底,所述具有三维锥形结构阵列的低衬底作为第一电极层;去除所述掩膜层,在所述具有三维锥形结构阵列的低衬底上依次沉积介质层和金属层,所述金属层作为第二电极层。本发明在低衬底和金属层均引入三维锥形结构阵列,使的开和关状态更明显、更容易受控,且采用低衬底直接作为下电极,减少了膜层,降低漏电的概率,同时可增大阵列面积。
  • 一种忆阻器及其制备方法
  • [发明专利]一种单极性横向及其制备方法-CN202310537399.6在审
  • 柯聪明;庞义澳;刘首麟;陆静 - 华侨大学
  • 2023-05-12 - 2023-08-22 - H10N70/20
  • 本发明提供了一种单极性横向及其制备方法,单极性横向包括:基板层;变功能层,设置在所述基板层上;所述变功能层采用1T′相多晶二维二硫化铼制成;金属电极层,设置在所述变功能层上。本发明通过化学气相沉积工艺手段制备可控的1T′相多晶二维二硫化铼层,可实现高开关比、稳定性强的单极性横向,丰富了二维材料的种类,并且与传统CMOS工艺兼容,对高集成度、多功能化非易失存储和逻辑运算领域的发展具有很大的推动作用
  • 一种极性横向忆阻器及其制备方法
  • [发明专利]一种及其制备方法和应用-CN202111192931.2在审
  • 葛军;马泽霖;曹栩诚;陈莞君;刁山青;潘书生 - 广州大学
  • 2021-10-13 - 2022-02-11 - H01L45/00
  • 本发明公开了一种及其制备方法和应用,该包括从上到下依次设置的顶电极、变层及底电极,所述底电极为含衬底,所述变层为含衬底表面形成的天然氧化层。本发明中的采用天然氧化层作为变层,天然氧化层是由空气自然氧化形成,具有厚度薄、与含衬底之间几乎完美的接触界面、表面原子级别光滑、无需人工制备、成本低、与互补金属氧化物半导体工艺兼容等优势,克服了本领域普遍认为的含衬底表面的天然氧化层不利于性能的技术偏见此外,本发明中的同时具有优异的数据保持能力、高稳定性、模拟开关特性三种性能。
  • 一种忆阻器及其制备方法应用
  • [发明专利]变式存储的制造方法和变式存储-CN201880000596.1有效
  • 姚国峰;沈健 - 深圳市汇顶科技股份有限公司
  • 2018-04-03 - 2023-05-16 - H01L23/60
  • 本发明提供一种变式存储的制造方法和变式存储,该方法,包括:在绝缘层上SOI晶圆上设置填充多晶的深沟槽,得到带有深沟槽的SOI晶圆;其中,深沟槽贯穿SOI晶圆的器件层、埋氧层,并抵达支撑层;在带有深沟槽的SOI晶圆上制作互补金属氧化物半导体CMOS电路,得到包含CMOS电路的SOI晶圆;将包含CMOS电路的SOI晶圆的支撑层减薄至埋氧层的表面,并在填充多晶的深沟槽的顶端位置形成凹槽;在SOI晶圆的埋氧层上制作。从而实现RRAM标准CMOS电路制作工艺与制作工艺的分离,使得在RRAM的规模化生产过程中引入贵金属作为的电极,从而提高RRAM中的电学存储特性。
  • 阻变式存储器制造方法

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