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[发明专利]一种自屏蔽辐射源的高能电子束辐照加工方法-CN202110827530.3在审
发明人：杜小燕 -专利权人：杜小燕
申请日： 2021-07-21 - 公布日： 2021-10-26 - 主分类号： D06N3/12 文献下载
摘要：本发明提出了一种自屏蔽辐射源的高能电子束辐照加工方法，本发明涉及电子束辐照加工技术。本发明的方案：包括以下步骤：将涤卡布经橡胶毯预缩机整理后，再经镜面轧光机热压辊热压得到处理后的基布；将处理后的基布的表面涂覆涂料得到涂料基布；将涂料基布进行电子束辐射固化。
一种屏蔽辐射源高能电子束辐照加工方法

[发明专利]对样本进行成像的方法-CN202080049904.7在审
发明人：比约恩·汉森 -专利权人：伊克斯拉姆公司
申请日： 2020-07-02 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：披露了一种用于借助于X射线检测器(D)对样本(S)进行成像的方法，该方法包括：提供(10)电子束(112)，该电子束与靶标(T)相互作用以生成从靶标上的X射线光斑(122)发射的X射线辐射(120)；相对于靶标来移动(20)样本；将电子束偏转(30)为使得X射线光斑在样本的移动的同时并根据样本的移动而在靶标上移动；以及检测(450)从X射线光斑发射并与样本相互作用的X射线辐射。
样本进行成像方法

[发明专利]用于模拟β辐射源的电子束发生器及测试方法-CN202111517466.5在审
发明人：周春林;陈桎远;吴巍伟;王旭;徐盼;杨毓枢;冯焕然;苏晨;何川;李成业;张劲松 -专利权人：中国核动力研究设计院
申请日： 2021-12-13 - 公布日： 2022-03-18 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：本发明公开了用于模拟β辐射源的电子束发生器及测试方法，电子束发生器包括电子光学系统，所述电子光学系统包括电子枪、正极、一级磁透镜和二级磁透镜；所述电子枪用于在尖端发射电子，所述电子枪与电压范围为0‑60kV的高压电源连接；所述正极设置在电子枪后端；用于加速在尖端发射的电子；所述一级磁透镜设置在正极后端，用于汇聚加速后的电子；所述二级磁透镜设置在一级磁透镜后端，用于将过焦点再次发散的电子束变成平行电子束。本发明所述电子束发生器不仅能够模拟β辐射源，且能够可产生能量密度不同的加速电子面光源，能够提高束流测量的准确性。
用于模拟辐射源电子束发生器测试方法

[发明专利]基于韧致辐射和光核反应双功能靶的99Mo生产方法及设备-CN201910769344.1在审
发明人：张宇皓;张圈世;姜冲 -专利权人：西安迈斯拓扑科技有限公司
申请日： 2019-08-20 - 公布日： 2019-11-19 - 主分类号： G21G1/00 文献下载
摘要：本发明属于医用放射性诊断核素领域，涉及一种基于韧致辐射和光核反应双功能靶的⁹⁹Mo生产方法及设备，解决了引入转换靶使得利用电子束生产⁹⁹Mo的方法韧致辐射效率低的问题采用电子加速器出射的高能电子束直接轰击一体化的韧致辐射和光核反应¹⁰⁰Mo靶，生产设备包括电子加速器、靶盒、设置在靶盒内的靶板及冷却系统；靶板为韧致辐射和光核反应双功能靶板，韧致辐射和光核反应双功能靶板为¹⁰⁰Mo靶；靶盒上开有能够使电子束进入的开口，电子束进入靶盒直接轰击韧致辐射和光核反应双功能靶，产生⁹⁹Mo。采用¹⁰⁰Mo一体化的韧致辐射和光核反应靶很好地克服了传统的高原子序数钨(W)等转换靶方法中两次对韧致辐射的强烈自衰减，大大提高了⁹⁹Mo的生产效率。
光核反应辐射双功能电子束靶板靶盒电子加速器轰击高能电子束高原子序数医用放射性辐射效率冷却系统生产设备生产效率一体化传统的转换出射衰减开口诊断生产引入

[发明专利]一种成像光电子束扫描型时域选通光电探测系统-CN201910372275.0在审
发明人：刘慎业;杨志文;李晋;谢旭飞;车兴森;胡昕 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2019-05-06 - 公布日： 2019-07-05 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：本发明公开了一种成像光电子束扫描型时域选通光电探测系统，被测脉冲辐射入射到扫描变像管阴极产生光电子，被栅极加速后形成的电子束被电子光学系统聚焦成像，通过扫描偏转板，加载其上的两台阶脉冲电压在偏转板间产生电场使光电子束发生偏转，不同时域的光电子被分别成像于不同的空间区域，光电子激发置于成像区域的高速闪烁体发射荧光信号,然后分别进入两光电探测器，产生脉冲电流，被示波器记录，可对两时域的脉冲辐射分别进行测量；与现有技术相比，本发明采用成像光电子束扫描方式实现探测时域选通本发明可对两时域信号强度差别悬殊的脉冲辐射同时进行定量测量，在脉冲辐射探测领域具有广泛的应用前景。
时域脉冲辐射选通成像光电子束光电探测系统电子束扫描偏转板光电子探测扫描电子束扫描方式偏转阴极电子光学系统发射荧光信号光电探测器光电子激发示波器记录电场成像区域定量测量聚焦成像空间区域脉冲电流强度差别时域信号台阶脉冲变像管闪烁体加载入射成像测量应用

[发明专利]一种微米级电子束焦斑尺寸的光学测量装置及其方法-CN201110338355.8有效
发明人：严瑗;钟伟杰;张学渊;夏忠平;赵健 -专利权人：上海显恒光电科技股份有限公司
申请日： 2011-10-31 - 公布日： 2012-07-04 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及电子技术领域，具体涉及一种光学测量装置及其方法。一种微米级电子束焦斑尺寸的光学测量方法，电子束束斑轰击半导体面板，半导体面板自发辐射，发出光束，利用光学测量方式测量光束的光强信息，进而得到电子束束斑。
一种微米电子束尺寸光学测量装置及其方法

[发明专利]一种基于紧凑型加速器的相干太赫兹辐射产生装置及方法-CN202111217027.2有效
发明人：冯超;方文程;张开庆;刘波;赵振堂 -专利权人：中国科学院上海高等研究院
申请日： 2021-10-19 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： H01S1/00 文献下载
摘要：本发明提供一种基于紧凑型加速器的相干太赫兹辐射产生装置，其超快激光器设置为产生超快激光脉冲；超快激光器、第一分束片和第一反射镜沿着光路走向依次排布于第一轴线上，第一分束片和紧凑型注入器沿光路走向依次排布，且第一反射镜、脉冲展宽与分束系统、激光调制系统沿光路走向依次排布；紧凑型注入器产生高能电子束，紧凑型注入器、激光调制系统、太赫兹辐射系统沿着高能电子束的传输方向依次排布，且位于同一水平面上。本发明还提供相应的相干太赫兹辐射产生方法。本发明的相干太赫兹辐射产生装置利用脉冲展宽与分束系统以及激光调制系统来实现高能电子束的有效调制，能够产生高脉冲强度、全太赫兹波段可连续调谐的相干太赫兹辐射。
一种基于紧凑型加速器相干赫兹辐射产生装置方法

[发明专利]调制X射线束用于病理物质中辐射能量的选择吸收-CN91103489.7无效
发明人：鲁文·阿夫拉虹·西路尼克 -专利权人：鲁文·阿夫拉虹·西路尼克
申请日： 1991-04-22 - 公布日： 1994-10-05 - 主分类号： A61N5/10 文献下载
摘要：一种辐射治疗者的辐射治疗处理系统，它用经调制的射线束照在受治疗者身上，并选择调制频率等于与物质相互作用的共振微波频率，在X射线源中沿电子束的路径上安置一个调束管，用以调制电子束并最终调制X射线束。在对微波调制频率进行扫描的同时，相继地启动X射线源，并在多种调制频率上测量所吸收的辐射能量。将此信息用来选择适宜的调制频率。
调制射线用于病理物质辐射能量选择吸收

[发明专利]在线实时监测辐照场的监测装置及其监测方法-CN200810105433.8有效
发明人：唐华平;张化一;刘晋升;梁笑天;魏德 -专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日： 2008-04-29 - 公布日： 2009-11-04 - 主分类号： G21K5/00 文献下载
摘要：该监测装置用于在线实时监测电子束辐照场，其包括：用于接收边缘部分电子束的辐照场探测装置，该装置被放置在能够接收电子束辐射场边缘部分电子束的位置，而不阻挡正常的电子束扫描范围；与辐照场探测装置相连接的分析装置，用于对从该辐照场探测装置处接收的电子束信号进行分析处理；与分析装置连接以接收分析结果信号的控制装置；该控制装置根据接收到的分析结果信号输出辐照场的分布信息。
在线实时监测辐照装置及其方法

[发明专利]激光测量电子束半径的方法及装置-CN200510057038.3无效
发明人：冯洁;汪达成;胡成华 -专利权人：重庆交通学院
申请日： 2005-04-27 - 公布日： 2005-09-28 - 主分类号： G01B11/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种激光测量电子束半径的方法及装置。其方法包括下列步骤：(1)采用倍频的Nd: YVO4激光束，该激光束聚焦到漂移管中心，与电子束逆向重合于漂移管中心，产生汤姆逊散射信号；(2)用物镜接收垂直于激光束(电子束)方向汤姆逊散射信号；(3)用滤光片消除杂散光和红外线辐射；(4)将汤姆逊散射信号放大成像在经低温冷却的CCD相机上；(5)用定标靶伸入漂移管中心，使定标靶成像在经低温冷却的CCD相机上；(6)比较定标靶和电子束的像，得到电子束半径。本发明的优点是：能精确测量电子束半径。
激光测量电子束半径方法装置

[发明专利]一种电子束发散角分布测量装置及测量方法-CN201710316145.6有效
发明人：江孝国;王远;李洪;杨国君;龙全红;杨兴林;张小丁;陈楠;蒋薇;张卓;李一丁;李伟峰 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2017-05-08 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：本发明公开了一种电子束发散角分布测量装置及测量方法，包括密封真空靶室、转换靶、防散射遮光筒，在密封真空靶室上设置有与防散射遮光筒对应的光线输出窗口，还包括一个成像系统，电子束轰击转换靶后产生切伦科夫辐射光，切伦科夫辐射光进入防散射遮光筒后通过光线输出窗口输出，经过窄带滤光片滤光后在成像系统上成像。本发明利用电子束轰击转换靶后产生切伦科夫辐射光，进入防散射遮光筒后通过光线输出窗口输出，经过窄带滤光片滤光后在成像系统上进行焦平面成像，利用焦平面的成像进行反演推算出电子束的发散角分布。
一种电子束发散角分布测量装置测量方法

[实用新型]一种电子束发散角分布测量装置-CN201720499447.7有效
发明人：江孝国;王远;李洪;杨国君;龙全红;杨兴林;张小丁;陈楠;蒋薇;张卓;李一丁;李伟峰 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2017-05-08 - 公布日： 2017-12-05 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种电子束发散角分布测量装置，包括密封真空靶室、转换靶、防散射遮光筒，在密封真空靶室上设置有与防散射遮光筒对应的光线输出窗口，还包括一个成像系统，电子束轰击转换靶后产生切伦科夫辐射光，切伦科夫辐射光进入防散射遮光筒后通过光线输出窗口输出本实用新型利用电子束轰击转换靶后产生切伦科夫辐射光，进入防散射遮光筒后通过光线输出窗口输出，经过窄带滤光片滤光后在成像系统上进行焦平面成像，利用焦平面的成像进行反演推算出电子束的发散角分布。
一种电子束发散角分布测量装置

[发明专利]多壁纳米碳管的制造方法-CN200310102527.7无效
发明人：樱林靖哲;近藤拓也;山沢靖;铃木良尚;马克·蒙蒂乌;美华子·勒·莱 -专利权人：丰田自动车株式会社
申请日： 2003-10-22 - 公布日： 2004-05-19 - 主分类号： C01B31/02 文献下载
摘要：该内部管体通过复合结构在加热状态下经受电子束辐射而由聚集富勒烯所形成。优选的是电子束辐射发生在100～500℃的温度下并且电子束具有80～250kV的加速电压。根据本发明的制造方法，可以在比富勒烯/CNT复合结构仅仅保持在高温条件下(不进行电子束辐射)的情况更低的温度和更短的时间内制造出几乎没有缺陷的多壁CNT。
纳米制造方法

[发明专利]检测设备和器件制造方法-CN200610135921.4有效
发明人：畠山雅规;村上武司;佐竹徹;野路伸治;长滨一郎太;山崎裕一郎 -专利权人：株式会社荏原制作所;株式会社东芝
申请日： 2002-09-10 - 公布日： 2007-04-04 - 主分类号： G01N23/227 文献下载
摘要：本发明公开了一种检测设备，用于检测样本表面的缺陷，所述设备包括：电子枪，用于向保持在真空环境中的样本发射辐射波束，以便从所述样本中辐射出二次电子束；传感器，包括EB－CCD传感器或EB－TDI传感器，用于检测从所述样本中辐射出的二次电子束，所述传感器允许所述二次电子束直接进入所述传感器，并且形成二维图像，所述传感器被设置在所述真空环境中；电子光学系统，用于将所述二次电子束引导到所述传感器；以及用于将信号从所述传感器传送到处理设备中的馈通
检测设备器件制造方法

[发明专利]紧凑型电离射线生成源、包括多个源的组件以及用于生产该源的方法-CN201880045808.8有效
发明人： P·波拉德 -专利权人：塔莱斯公司
申请日： 2018-07-11 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： H01J35/14 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于生成电离辐射并且特别是X射线的源，涉及一种包括多个源的组件，并且涉及一种用于生产该源的方法。用于生成电离辐射的所述源包括：真空腔室(12)；阴极(14)，其能够向所述真空腔室(12)中发射电子束(18)；阳极(16)，其接收所述电子束(18)并且包括靶(20)，所述靶(20)能够从自所述电子束(18)接收的能量生成电离辐射(22)；以及电极(24)，其放置在所述阴极(14)附近，并形成维内特。
紧凑型电离射线生成包括多个源组件以及用于生产方法