专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种钙钛矿电池组件及制备方法-CN202310436470.1在审
  • 朱俊;夏锐;张学玲;冯志强;高纪凡 - 天合光能股份有限公司
  • 2023-04-21 - 2023-08-29 - H10K71/12
  • 本发明涉及一种钙钛矿电池组件及制备方法,该制备方法包括如下步骤:钙钛矿半干膜制备步骤:使钙钛矿墨水在第一电荷传输层上形成钙钛矿湿膜,然后使所述钙钛矿湿膜进行低温预结晶,得钙钛矿半干膜;其中,所述低温预结晶的温度为30~55℃、时间为1‑10min;激光划刻步骤:在所述钙钛矿半干膜上进行激光划刻,得带有激光划刻凹槽的钙钛矿膜。本发明在制备钙钛矿电池组件的过程中,先通过低温预结晶制得钙钛矿半干膜,然后在钙钛矿半干膜上进行激光划刻,能有效降低激光刻蚀工艺对钙钛矿薄膜的损伤,从而有效提升器件的效率和长期稳定性。
  • 一种钙钛矿电池组件制备方法
  • [发明专利]一种判断固体化合物结晶终点的装置和方法-CN202211174800.6在审
  • 张尊听;董丽英 - 陕西师范大学
  • 2022-09-26 - 2022-12-23 - G09B23/06
  • 本发明公开了一种判断固体化合物结晶终点的装置和方法,所述装置包括结晶器、激光发射器、白色幕布,还包括透明玻璃窗。本发明基于光线在非均匀介质中弯曲传播的原理,利用结晶过程中溶液浓度梯度差的变化特性,将激光束透过该装置内冷却中的固体化合物饱和溶液,通过观察白色幕布上形成的光学图像的动态变化过程,准确快速判断固体化合物的结晶终点本发明装置结构简单,能直观、实时地显示固体化合物结晶的过程,实现固体化合物结晶终点的判断,可用于化工生产和实验室等领域固体物质的分离与纯化。
  • 一种判断固体化合物结晶终点装置方法
  • [发明专利]激光退火装置和方法、显示面板及其制备装置-CN201910074578.4有效
  • 李月 - 云谷(固安)科技有限公司
  • 2019-01-25 - 2021-03-30 - H01L21/268
  • 本发明提供一种激光退火装置及方法、显示面板及其制备装置,其中激光退火装置包括产生激光激光系统,在所述激光系统发射激光的一侧依次间隔设置有一一对应的第一透镜单元和第二透镜单元,使得所述激光依次穿过所述第一透镜单元和所述第二透镜单元之后该方案中,激光通过第一透镜单元和第二透镜单元的汇聚或发散后,光束重叠程度不同形成温度梯度,实现了通过激光分布对多晶硅结晶方向进行控制,促进多晶硅的横向结晶,增大了晶粒的尺寸,从而提高载流子迁移率,提高显示面板的响应速度
  • 激光退火装置方法显示面板及其制备
  • [发明专利]晶体材料的重结晶方法-CN202211318594.1在审
  • 何力;骆军委;温书育;朱元昊 - 中国科学院半导体研究所
  • 2022-10-26 - 2023-01-13 - C30B33/02
  • 本发明提供一种晶体材料的重结晶方法,包括:在晶体材料的表面沉积一层覆盖层;使用脉冲激光对所述晶体材料沉积有覆盖层的一面进行辐照,使所述晶体材料受热冷却结晶,在所述晶体材料靠近所述覆盖层的一侧形成重结晶层;刻蚀掉所述晶体材料表面的覆盖层,露出所述重结晶层。本发明通过向晶体材料表面预沉积覆盖层并使用脉冲激光退火处理晶体材料,实现晶体材料的高质量再生并有效抑制掺杂原子损失问题。
  • 晶体材料重结晶方法
  • [发明专利]半导体器件的制造方法-CN200610064488.X有效
  • 宫入秀和;小久保千穗;井上弘毅 - 株式会社半导体能源研究所
  • 2006-11-09 - 2007-08-08 - H01L21/20
  • 在衬底上形成非晶半导体膜,其掺杂有促进结晶的金属元素,通过第一热处理结晶非晶半导体膜来形成结晶半导体膜;去除结晶半导体膜上形成的第一氧化膜并形成第二氧化膜;用第一激光照射其上形成了第二氧化膜的结晶半导体膜;在第二氧化膜上形成含有稀有气体元素的半导体膜;通过第二热处理将含在结晶半导体膜中的金属元素吸气到含有稀有气体元素的半导体膜中;去除含有稀有气体元素的半导体膜和第二氧化膜;在含氧气氛中用第二激光照射结晶半导体膜
  • 半导体器件制造方法
  • [发明专利]多晶硅膜的形成方法-CN200410085784.9有效
  • 孙暻锡;李镐年;柳明官;朴宰彻;金億洙;李俊昊;权世烈 - 京东方显示器科技公司
  • 2004-10-22 - 2005-07-13 - H01L21/00
  • 本发明提供一种多晶硅(poly-Si)膜的形成方法,本发明的多晶硅膜形成方法是一种通过激光照射使非晶硅(a-Si)膜结晶化以形成多晶硅膜的方法,其包括以下步骤:在玻璃基板上依次蒸镀隔离膜及非晶硅膜;在上述玻璃基板的后面蒸镀具有激光反射功能的金属膜;从上述非晶硅膜的前面照射激光,同时使由上述金属膜反射的激光被该非晶硅膜再吸收,由此使该非晶硅膜二次结晶。本发明的特征在于使非晶硅膜二次结晶,故能形成具有非常大的晶粒的多晶硅膜。
  • 多晶形成方法

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