专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种CPU性能测试的管理方法、装置、设备及存储介质-CN202110712814.8在审
  • 李贵海 - 苏州浪潮智能科技有限公司
  • 2021-06-25 - 2021-11-05 - G06F11/34
  • 本发明公开了一种CPU性能测试的管理方法、装置、设备及计算机可读存储介质,考虑到在对CPU性能进行测试时通常对于CPU的工作频率都有具体要求,例如要求CPU的工作频率不小于睿频等,然而测试过程中CPU的工作频率很可能因为温度过高等原因而变得不满足要求,从而影响了测试结果的可靠性,因此本申请一旦发现该状况便可以终止CPU性能测试中当前的测试项并执行下一测试项,同时控制提示器提示由于CPU工作频率异常终止当前测试项,如此一来,便无需对当前测试项进行测试并不会输出不可靠的测试结果,一方面提高了测试效率,另一方面防止不可靠的测试结果产生误导作用,提升了测试结果的可靠性。
  • 一种cpu性能测试管理方法装置设备存储介质
  • [发明专利]一种PCB可靠性测试方法-CN201910748152.2有效
  • 盛利召;郭晓玉 - 华芯电子(天津)有限责任公司
  • 2019-08-14 - 2021-07-20 - G01R31/28
  • 本申请提供一种PCB可靠性测试方法,包括以下步骤:制作测试图形样品;将样品分为第一测试区及第二测试区;对第一测试区输入第一设定电压,在第一设定时间内当第一输出电流小于第一标准电流时,样品的绝缘性有效;在第二设定时间内对第二测试区输入变量电压使得第二测试区恒定输出第一恒定电流;对第二测试区输入变量电流使得第二测试区恒定输出第一恒定电压;在第三设定时间内当变量电流大于或等于第二标准电流时,样品的孔的接续性有效。本申请的有益效果是:在第一测试区进行绝缘性耐电压测试,当绝缘性满足要求时再对第二测试区进行焦耳测试,当焦耳测试满足要求时PCB板可靠性满足要求
  • 一种pcb可靠性测试方法
  • [发明专利]测试用例生成方法、装置、电子设备和存储介质-CN202210746072.5有效
  • 焦佳成 - 北京百度网讯科技有限公司
  • 2022-06-28 - 2023-08-01 - G06F11/36
  • 本公开提供了测试用例生成方法、装置、电子设备和存储介质,涉及计算机技术领域,尤其涉及软件设计或软件测试技术领域。具体实现方案为:利用测试用例生成网络对接口元数据进行处理,得到该接口元数据对应的测试用例;对该测试用例的质量进行评估,在该测试用例的质量不满足预定要求的情况下,对该测试用例生成网络进行调整;针对调整后的测试用例生成网络,返回执行该利用测试用例生成网络对接口元数据进行处理,得到该接口元数据对应的测试用例的步骤,直至得到的测试用例的质量满足预定要求为止;以及,在得到的测试用例的质量满足该预定要求的情况下,输出该测试用例。本公开能够提高测试用例的生成质量和生成效率。
  • 测试生成方法装置电子设备存储介质
  • [发明专利]一种基于黑盒测试的H桥级联型PET测试方法-CN202110681229.6有效
  • 周永荣;张亮;葛佳盛;张振军;孙军;管益涛;李丹栋 - 国网电力科学研究院有限公司
  • 2021-06-18 - 2023-08-25 - G01R31/62
  • 本发明公开一种基于黑盒测试的H桥级联型PET测试方法,H桥级联型PET包括多个功率变换子模块,各功率变换子模块由子模块控制器通过IGBT驱动器进行控制;测试方法包括:S1,对各功率变换子模块进行黑盒测试,若所有功率变换子模块均不存在缺陷,转至步骤S2、步骤S3;S2,对PET的持续运行稳定性进行黑盒测试;S3,对PET的故障隔离能力进行黑盒测试;若S2和S3的测试结果均符合预设要求,则PET测试通过。根据黑盒测试原理,若当前测试项目的测试结果满足要求,则进行下一项测试,若不满足要求,则可立即反馈给操作人员并辅助其检修维护。本发明能够实现对PET的全面测试,提高测试效率,保障PET在实际应用时的稳定性。
  • 一种基于黑盒测试级联pet方法
  • [发明专利]多任务测试性指标分配方法-CN201510738658.7在审
  • 杨成林;成鹏;林干;龙兵 - 电子科技大学
  • 2015-11-03 - 2016-01-13 - G06F11/36
  • 本发明公开了一种多任务测试性指标分配方法,首先获取相关数据,包括任务数量、模块数量、任务与模块的关联标识,各任务和模块对测试性指标的最低要求,各个模块的平均无故障时间、测试性代价因子,以及各种测试性代价因子的权重,根据以上数据计算得到每个模块的综合测试代价,然后建立测试性指标分配的数学模型,采用粒子群算法对模块进行求解,从而得到各模块的测试性指标分配结果。本发明针对多任务模型中任务与模块存在多对多映射的情况,建立相应的测试性指标分配数据模型,使得分配后的测试性指标不仅满足各模块的要求,也可以满足各任务对测试性指标的要求,并使测试代价最小,从而降低系统的研制成本和维护成本
  • 任务测试指标分配方法
  • [发明专利]半导体塑封条带高压绝缘测试系统-CN201810336312.8有效
  • 吴忠其;伏道俊;施文俊;马浩锋 - 江阴新基电子设备有限公司
  • 2018-04-16 - 2023-08-04 - B07C5/34
  • 本发明涉及的一种半导体塑封条带高压绝缘测试系统,它包括机架、上料装置、分料装置、测试装置、牵引装置、收料装置以及废料收集装置;上料装置用于存放测试前的半导体塑封条带,分料装置用于将上料装置内的半导体塑封条带移动至测试装置上,测试装置用于半导体塑封条带的绝缘测试,牵引装置用于将绝缘测试结束的半导体塑封条带从测试装置上取下,并且将其中满足绝缘测试要求的半导体塑封条带送入收料装置内,收料装置用于对满足绝缘测试要求的半导体塑封条带进行收料,废料收集装置用于对不满足绝缘测试要求的半导体塑封条带进行收集。
  • 半导体塑封条带高压绝缘测试系统

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