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[发明专利]一种测试失效的测试向量的定位方法-CN202110089974.1在审
发明人：蔺华妮;王磊 -专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请日： 2021-01-22 - 公布日： 2021-05-07 - 主分类号： G11C29/18 文献下载
摘要：本发明提供的一种测试失效的测试向量的定位方法，包括以下步骤：将测试向量集分成多个逻辑分段，并在部分逻辑分段前加入虚拟标记位向量，虚拟标记位向量后的第一个测试向量为起始测试向量；将具有虚拟标记位向量的逻辑分段的测试向量加载到待测器件上完成测试，并将测试结果在位图中示出；以及通过起始测试向量的位置计算出逻辑分段中测试结果失效的测试向量在测试向量集中的地址。本发明通过虚拟标记位后的起始测试向量的位置计算出逻辑分段中测试结果失效的测试向量在测试向量集中的地址，实现了定位了失效的测试向量在测试向量集中的位置，使得调试的工作可以很容易的进行。
一种测试失效向量定位方法

[发明专利]测试向量的存储和调试方法、装置、设备及存储介质-CN202011066462.5在审
发明人：张鹏 -专利权人：龙芯中科技术股份有限公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请提供一种测试向量的存储和调试方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：确定多个测试向量；其中，多个测试向量针对芯片中的同一测试问题，且多个测试向量中任意两个测试向量对应的测试问题的测试频率不同；分别对每个测试向量进行划分，获取每个测试向量的配置部分和测试端口部分；存储多个测量向量的信息；其中，多个测试向量的信息包括获取的每个测试向量的配置部分和任意一个测试向量的测试端口部分。本申请的方法，通过将测试向量分成配置部分及测试端口部分进行存储，由于只存储了一个相同的测试端口部分，节省了测试向量的占用空间，并没有改变测试向量本身的性质，因此提高了测试结果的准确性。
测试向量存储调试方法装置设备介质

[发明专利]一种测试向量管理系统及测试向量管理方法-CN202111208045.4在审
发明人：林耀坤 -专利权人：海光信息技术股份有限公司
申请日： 2021-10-18 - 公布日： 2022-01-07 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明提供了一种测试向量管理系统及测试向量管理方法，通过设计一种专门的测试向量管理系统，DFT测试工程师在设计好测试向量之后，直接递交到测试向量管理系统。ATE测试工程师通过登录测试向量管理系统即可对目标测试向量进行转换编译和验证。将验证结果上传到测试向量管理系统。实现测试向量的递交验证等全程自动化管理，减少DFT测试工程师和ATE测试工程师对测试向量管理的工作量，节省DFT和ATE测试工程师的时间和精力，降低沟通成本，提高工作效率。向量递交模块能够对DFT测试工程师递交的每个测试向量分配唯一ID，通过唯一ID区分不同类型测试向量、及相同类型但不同版本的测试向量，能够防止不同测试向量的混淆，防止出现重复操作及操作纰漏现象。
一种测试向量管理系统方法

[发明专利]一种增加测试机向量深度的方法-CN202110011857.3在审
发明人：王斌;刘远华;吴勇佳;范文萱;吴杰晔 -专利权人：上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2021-01-06 - 公布日： 2021-05-14 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明公开了一种增加测试机向量深度的方法，1)在测试芯片的测试板上单独安装满足测试要求的存储器；2)程序会把超标的向量先写入到测试板的存储芯片中；3)当程序执行到某一个测试项时，测试项向量超过测试机本身深度时，测试板上存储器内向量分批读入测试机内向量，分批执行，程序把超标的向量先写入到测试板的存储芯片中，直到测试向量全部完成。本发明提供的一种增加测试机向量深度的方法，解决了在测试机向量深度不够的情况下还依然可以使用较大的测试向量，在针卡上每个site对应装存储芯片，大向量存到针卡存储芯片中，测试时把针卡上存入向量分批读入测试机里向量存储空间，直至向量测试完成。
一种增加测试向量深度方法

[发明专利]基于FDR的最大相容块的向量压缩方法、装置及系统-CN201811306318.7有效
发明人：詹文法;陶鹏程;邵志伟;江健生;程一飞;冯学军;吴海峰;张振林 -专利权人：安庆师范大学
申请日： 2018-11-05 - 公布日： 2022-06-21 - 主分类号： H03M7/46 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于FDR的最大相容块的向量压缩方法，方法包括：1)、获取待压缩测试向量序列；2)、将待压缩测试向量均按照预设长度切分为若干个数据块；3)、将待压缩测试向量序列中的第一个待压缩测试向量的下一个向量作为当前测试向量，获取当前测试向量与当前测试向量的前一个测试向量中不相容的数据块的游程编码，并将游程编码与不相容的数据块的组合作为当前测试向量的编码结果；将当前测试向量的下一个向量作为当前测试向量，并返回执行步骤3)，直至待压缩测试向量序列中的各个待压缩测试向量被遍历。本发明公开了一种基于FDR的最大相容块的向量压缩装置。应用本发明实施例，提高了压缩率。
基于 fdr 最大相容向量压缩方法装置系统

[发明专利]一种可降低噪声的边界扫描测试方法和装置-CN201010296565.0有效
发明人：徐鹏程;杜影;王石记;安佰岳 -专利权人：北京航天测控技术开发公司
申请日： 2010-09-29 - 公布日： 2011-01-26 - 主分类号： G01R31/3183 文献下载
摘要：本发明公开了一种可降低噪声的边界扫描测试方法和装置，首先根据测试内容生成原始测试向量，对原始测试向量进行处理得到新测试向量，将新测试向量施加到被测对象，同时获取响应向量，将新增测试向量对应的响应向量提取出来作为最终有效分析向量，进行边界扫描测试诊断。该装置包括原始测试向量生成模块、新测试向量生成模块、测试实施模块、有效响应向量获取模块和诊断分析模块。本发明可有效降低边界扫描测试引起的噪声，提高测试的准确性，实现方法简单，无需增加任何测试硬件且故障覆盖率高。
一种降低噪声边界扫描测试方法装置

[发明专利]存储器测试系统及测试方法-CN202310580430.4在审
发明人：任开元;林晓敏;魏文;蔡恩静;高金德 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2023-05-22 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明提供一种存储器测试系统及测试方法，存储器测试系统包括向量发生器、测试板和存储器测试仪，向量发生器用于生成至少一个测试向量，并将测试向量发送至测试板，测试板用于接收测试向量，并将测试向量发送至存储器测试仪；存储器测试仪用于执行测试向量以对待测存储器进行相应的测试。即，向量发生器与存储器测试仪通过测试板来实现联动，由此可以增加所生成的测试向量的深度和行数，从而生成待测存储器所需的测试向量，进而满足待测存储器的测试需求。
存储器测试系统方法

[发明专利]边界扫描测试向量生成方法-CN200810026673.9无效
发明人：刘占锋 -专利权人：佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司
申请日： 2008-03-07 - 公布日： 2009-09-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明揭示了一种边界扫描测试向量生成方法，其是通过整合被测装置的测试信息，而生成测试向量；具体步骤如下：a.提取测试信息；b.分析测试信息，生成测试向量矩阵；该种向量矩阵可为单个测试向量矩阵及网络互连测试向量矩阵，分别可进行单个装置自身测试及互联网络测试；本方法是通过整合被测装置的测试信息，而生成测试向量；通过本方法可方便生成测试向量及提取诊断所需信息，同时生成的测试向量可使检测较完备、操作更简便。
边界扫描测试向量生成方法

[发明专利]一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCIExpressIP核量产测试优化方法-CN202011480339.8在审
发明人：陈雷;孙华波;张帆;李学武;李明哲;李政;杜艺波 -专利权人：北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
申请日： 2020-12-15 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCI Express IP核量产测试优化方法，具体步骤如下：步骤1：产生FPGA内嵌PCI Express IP核测试需要的测试向量集；步骤2：使用测试向量节点覆盖率统计算法对测试向量集中的每个测试向量进行节点覆盖率测算；步骤3：由步骤2得到测试向量集中节点覆盖率最高的单测试向量；步骤4：使用测试向量集排序算法基于步骤3得到的单测试向量，对原测试向量集进行排序优化，完成对测试向量集的优化。通过以上步骤，在不降低测试覆盖率的前提下，采用基于覆盖率排序的量产测试优化方法完成对测试向量集的排序优化，可以有效提高测试向量集的测试效率，缩短配置测试时间，降低配置测试成本。
一种基于覆盖率排序 fpga pciexpressip 量产测试优化方法

[发明专利]一种用于3D-SiP芯片测试向量压缩的方法及系统-CN201910086847.9有效
发明人：奚留华;张凯虹;徐德生;武乾文 -专利权人：无锡中微腾芯电子有限公司
申请日： 2019-01-29 - 公布日： 2021-05-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及集成电路测试技术领域，具体公开了一种用于3D‑SiP芯片测试向量压缩的方法，其中，所述用于3D‑SiP芯片测试向量压缩的方法包括：搜索待压缩的测试向量的路径；加载待压缩的测试向量；将待压缩的测试向量进行模式转换以得到压缩后的测试向量本发明还公开了一种用于3D‑SiP芯片测试向量压缩的系统。本发明提供的用于3D‑SiP芯片测试向量压缩的方法使得压缩后的测试向量相比待压缩的测试向量压缩比达到50%，能够很大程度节省ATE中测试向量的空间。
一种用于 sip 芯片测试向量压缩方法系统

[发明专利]基于三维芯片的扫描测试方法-CN201210113055.4有效
发明人：向东;神克乐 -专利权人：清华大学
申请日： 2012-04-17 - 公布日： 2012-09-05 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：本发明提出一种基于三维芯片的扫描测试方法，包括如下步骤：建立用于三维芯片的扫描森林结构；生成测试集和测试周期，并将测试集划分为多个测试向量子集；对多个测试向量子集进行排序并将多个测试向量子集中的测试向量分布在测试周期中；获取测试向量子集的当前热点分布；根据扫描树结构对测试向量子集按照芯片的热点温度升高值最小化进行排序以生成测试向量策略；根据测试向量策略获取排序后的测试向量子集中的热点温度升高值未超过预设温度阈值的向量子集，生成被选测试集；将被选测试集应用扫描树结构并更新被选测试集的热点分布。本发明可以有效的降低测试时间，同时可以压缩测试激励数据和测试响应。
基于三维芯片扫描测试方法

[发明专利]一种测试向量源文件的测试点的屏蔽方法和屏蔽装置-CN201010195435.8有效
发明人：胡伟锋 -专利权人：无锡中星微电子有限公司
申请日： 2010-05-31 - 公布日： 2011-11-30 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供一种测试向量源文件的测试点的屏蔽方法和屏蔽装置，方法包括：通过运行测试向量源文件进行芯片测试，产生测试数据；根据所述测试数据产生辅助文件，所述辅助文件包括产生报错的报错测试向量所对应的测得值，以及所述报错测试向量在所述测试向量源文件中的对应行数；对于所述辅助文件中需要屏蔽的报错测试向量，根据所述对应行数在所述测试向量源文件中找到所述需要屏蔽的报错测试向量，并利用所述测得值替换所述需要屏蔽的报错测试向量的期待值，得到修改后的测试向量源文件。本发明通过测试数据方便迅速的屏蔽测试向量源文件中需要忽略的测试点，提高测试效率，解决现有技术无法迅速有效的对可忽略的报错测试点进行屏蔽的问题。
一种测试向量源文件屏蔽方法装置

[发明专利]测试方法和装置-CN202011066469.7在审
发明人：张鹏;许超 -专利权人：龙芯中科技术股份有限公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种测试方法和装置，应用于对目标芯片的测试中，方法包括：获取测试所述目标芯片所需的测试向量；其中，所述测试向量的数量为至少一个；分别从每个所述测试向量的测试端口信息中提取扫描端口信息；根据预设压缩倍数，分别对所述每个测试向量的扫描端口信息进行压缩和格式转换，得到每个测试向量对应的目标测试向量；采用所述目标测试向量对所述目标芯片进行测试。本发明实施例通过在测试向量的端口信息中提取出到扫描端口信息并对扫描端口信息部分进行压缩，降低了测试向量的测试深度，减小了测试向量在ATE中的存储空间，从而降低了测试成本。
测试方法装置

[发明专利]一种事件关系检测方法及系统-CN201510346311.8在审
发明人：杨雪蓉;洪宇;姚建民;朱巧明 -专利权人：苏州大学张家港工业技术研究院
申请日： 2015-06-19 - 公布日： 2015-09-02 - 主分类号： G06F17/27 文献下载
摘要：本发明公开了一种事件关系检测方法和系统，包括：获取预设数量已提供逻辑关系的测试句子，每个测试句子均包括一个与其逻辑关系对应的测试连接词；确定每个测试句子中位于测试连接词之前的文本为测试前置文本，位于测试连接词之后的文本为测试后置文本；通过分析进行分词处理后的测试前置文本和测试后置文本的框架语义，构建测试前置向量及测试后置向量；确定每个测试句子的测试前置向量与测试后置向量组成其测试向量对；获取待测向量对，从全部测试向量对中确定出与待测向量对相似度最高的测试向量对，确定该测试向量对对应的测试句子的逻辑关系为待测向量对对应的待测句子的逻辑关系。
一种事件关系检测方法系统

[发明专利]一种芯片量产测试系统和方法-CN201810835007.3在审
发明人：蒋松鹰;姚炜;顾彬;杜黎明 -专利权人：上海艾为电子技术股份有限公司
申请日： 2018-07-26 - 公布日： 2018-11-02 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种芯片量产测试系统和方法，包括硬核处理器系统单元、乒乓缓存单元和向量比较单元；硬核处理器系统单元用于从外置存储器中读取测试向量数据；乒乓缓存单元用于从硬核处理器系统单元中高速读取测试向量数据，对读取的测试向量数据进行缓存，并将测试向量数据低速输出至向量比较单元；向量比较单元用于接收乒乓缓冲单元输出的测试向量数据，将接收的测试向量数据输出至待测芯片，并接收待测芯片产生的期待向量数据，将期待向量数据与测试向量数据进行对比后，产生待测芯片的测试结果。由于外置存储器的存储空间较大，因此，可以解决FPGA内置的RAM无法存放下测试向量的问题。
测试向量向量数据处理器系统待测芯片硬核外置存储器测试系统读取测试乒乓缓存向量比较量产读取缓存芯片比较单元存储空间缓冲单元数据输出输出和向量中高速内置

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