专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]近场超大规模平面阵列通信系统中的正交位置设计方法-CN202310283947.7有效
  • 张军;李笑然;陆佳程;张琦;金石 - 南京邮电大学
  • 2023-03-22 - 2023-08-25 - H04W16/18
  • 本发明公开了近场超大规模平面阵列通信系统中的正交位置设计方法,包括构建基于近场超大规模平面阵列的下行无线传输系统;基于基站处天线阵列的天线数目、载波波长以及天线间距,得到用户正交位置的方位角和仰角;基于所述用户正交位置的方位角和仰角,得到用户正交位置相对于基站的径向距离;基于所述用户正交位置的方位角、仰角和径向距离,得到基站处天线阵列的天线数目、载波波长以及天线间距确定的全部正交位置;本发明能够在超大规模MIMO近场区域中同时利用角度和距离来区分用户,有效降低了用户间干扰;相较于传统的远场正交位置设计方法,本发明所述的近场正交位置设计方法能够在近场区域有效减小用户间干扰,提高系统和速率。
  • 近场超大规模平面阵列通信系统中的正交位置设计方法
  • [发明专利]确定电容屏触摸位置的方法及装置-CN201680001414.3有效
  • 吴双;李华飞 - 深圳市汇顶科技股份有限公司
  • 2016-11-17 - 2021-08-13 - G06F3/044
  • 一种确定电容屏触摸位置的方法及装置,所述方法包括:获取每个电容节点的输出信号(S101),对所述输出信号进行正交解调,获得对应的正交分量Q(S102);判断是否存在一部分所述电容节点对应的正交分量Q与水下模式的基准正交分量Q相比变大,且存在一部分所述电容节点对应的正交分量Q与水下模式的基准正交分量Q相比变小(S103);如是,则判定所述电容屏被触摸,并根据所述正交分量Q变小的电容节点的坐标,确定触摸位置(S104)。通过将每个电容节点的输出信号进行正交解调,获得正交分量Q,并根据正交分量的变化,确定触摸点的坐标,提高了确定电容屏触摸位置的准确度。
  • 确定电容触摸位置方法装置
  • [实用新型]一种工件台非正交校正装置-CN201621151082.0有效
  • 马琳琳;杨志勇;孙刚;朱健;朱树存 - 上海微电子装备有限公司
  • 2016-10-24 - 2017-05-31 - G03F7/20
  • 本实用新型公开了一种工件台非正交校正装置,包括非正交测量标记,设置在工件台上用于承载基板的粗动旋转台上,所述非正交测量标记至少设有三个,且不在一条直线上;视觉单元,用于获得所述非正交测量标记的位置;干涉仪测量单元,用于测量所述工件台的位置;还包括校正单元,根据所述非正交测量标记在粗动旋转台坐标系下的名义位置、所述视觉单元获得的所述非正交测量标记的位置以及所述工件台的位置计算所述工件台的非正交量,并发送至所述干涉仪测量单元进行补偿校正
  • 一种工件正交校正装置
  • [发明专利]X光成像设备-CN200510091708.3无效
  • 谭涌涛;张晨;李玉庆 - GE医疗系统环球技术有限公司
  • 2005-08-04 - 2007-02-07 - A61B6/00
  • 目的是提供一种X光成像设备,该设备具有能够容易而准确调节光束照射位置的投影仪-准直仪,使第一光通量是出现在与y轴方向(其是正交方向)正交正交平面内的光通量,并在该正交平面内反射和移动出现在正交平面内的第二光通量因此,可以独立方式,通过使用第一螺钉沿正交方向移动Δy并使用第二螺钉在正交平面内移动Δx,来调节对象上的光束照射位置。结果,可以不但容易而且高精度地影响操作员对X光照射场位置的调节。
  • 成像设备
  • [发明专利]用于校准电动机的转子位置偏移量的方法和系统-CN201280010804.9有效
  • 吴隆;罗伯特·肖 - 迪尔公司
  • 2012-01-27 - 2013-11-20 - H02K13/00
  • 在向数据处理系统(120)中提供伪转子位置和施加零直轴电流命令的同时,按顺序地并且以大致相同的幅度施加正的和负的正交轴电流命令,以将所述转子朝向强制位置推动。处理模块(116)在施加正的正交轴电流命令之后测量正的正交轴电流对准的原始位置数据,以及在施加负的正交轴电流命令之后测量负的正交轴电流对准的原始位置数据。初始位置偏移量校准器(151)或数据处理器确定原始位置数据之间的差,以确定真实平均轴线的对准。初始位置偏移量校准器(151)或数据处理器基于所述原始位置数据的平均值确定原始平均轴线位置数据。
  • 用于校准电动机转子位置偏移方法系统
  • [发明专利]正交轴系统的正交性的测量装置和方法-CN202111491874.8有效
  • 章智伟;陈源;张和君;冯福荣;廖学文;程龙军 - 深圳市中图仪器股份有限公司
  • 2021-07-29 - 2023-08-25 - G01B21/22
  • 本发明描述了一种正交轴系统的正交性的测量装置和方法,正交轴系统包括第一旋转轴和能够绕着第一旋转轴旋转的第二旋转轴,测量装置包括:用于放置正交轴系统的承载平台、移动机构和设置于移动机构的测量仪,测量仪配置为:对沿着截取面截取第二旋转轴获得的第一虚拟截面进行测量以获得第一位置,对沿着截取面截取第二旋转轴获得的第二虚拟截面进行测量以获得第二位置;截取面与承载面以及第二旋转轴在承载面的投影正交;移动机构配置为控制测量仪在第一虚拟截面和第二虚拟截面中移动;并且通过第一位置和第二位置判断正交轴系统的正交性。根据本发明,能够提供一种提高正交轴系统的正交性的测量精度的测量装置和方法。
  • 正交系统测量装置方法
  • [发明专利]在版图设计中创建rectangle的方法-CN202210316261.9在审
  • 李若溪;李振业;苏鸿昌;李京;李起宏 - 成都华大九天科技有限公司
  • 2022-03-29 - 2022-06-21 - G06F30/392
  • 本申请实施例提供了一种在版图设计中创建rectangle的方法,其包括:确定探测到的物体所在层信息;根据层信息,判断物体所在层是否为激活层;如果是,则在所在层基于鼠标点的位置所在的绘图区域搜索几何图形;根据几何图形中边的起始点和终点,判断边是否为正交边;如果是正交边,则高亮正交边;根据对正交边上点击事件,将正交边作为创建rectangle所使用的一条边;基于点击事件在正交边上的点击位置,确定创建rectangle所需的第二个点,第二个点的位置根据创建rectangle的大小确定;判断物体所在层是否为snap层;若是,则将第二个点吸附到snap层的格点,并更新第二个点的位置;根据第二个点的位置以及正交边方向,创建
  • 版图设计创建rectangle方法
  • [发明专利]一种改进正交网格参考点的均匀选星方法-CN202310701125.6在审
  • 韩宇;徐伟;周小军;朱庆生;毕勇 - 中科院南京天文仪器有限公司
  • 2023-06-14 - 2023-09-08 - G06N5/01
  • 本发明公开了一种改进正交网格参考点的均匀选星方法。该方法包括根据地平式望远镜的轴系特征和指向范围筛选侯选星集;初始化正交网格参考点位置;将参考点位置构建KD树;查找每颗恒星的最近邻正交网格参考点,并计算该恒星的综合评价权值;计算每个正交网格参考点的贡献度,并计算总体评价权值;使用粒子群算法求解总体评价权值的最大值,得到最贴合侯选星集的正交网格参考点位置;基于最优正交网格参考点位置,根据距离‑星等加权法选取恒星,得到均匀选星结果。本发明的恒星均匀选取方法改进了传统正交网格方法,选取恒星的分布均匀性更好,有助于望远镜指向精度校正,还适用于其他多轴设备的指向校正基准点选择问题。
  • 一种改进正交网格参考均匀方法

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