专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种遮挡物透视成像方法及系统-CN202310388715.8在审
  • 杜付鑫;胡敖坤;凌海洋;黄帅;李贻斌 - 山东大学
  • 2023-04-07 - 2023-07-18 - G06V10/26
  • 本发明属于透视成像领域,提供了一种遮挡物透视成像方法及系统,包括采集相同环境下的背景图像以及遮挡物图像;基于预先训练好的目标检测模型对遮挡物图像中的遮挡物进行动态识别,并利用矩形框标注得到遮挡物标注框;将遮挡物标注框作为感兴趣区域,对原始遮挡物图像进行处理,得到待处理的感兴趣图像;基于待处理的感兴趣图像,根据遮挡物的HSV范围提取遮挡物并进行二值化处理,得到遮挡物图像区域;将遮挡区域与背景图像的区域进行图像叠加,得到视觉上的遮挡物透视图像。
  • 一种遮挡透视成像方法系统
  • [发明专利]用于阴极环修补的装置及其使用方法-CN201710365174.1有效
  • 茆胜 - 茆胜
  • 2017-05-22 - 2020-05-05 - H01L51/56
  • 本发明公开了一种用于阴极环修补的装置及其使用方法,装置包括版,所述版包括显示区遮挡部、镂空部以及加强筋,所述镂空部通过所述加强筋连接在所述显示区遮挡部的外围。本发明的装置,用于阴极环修补时的遮挡保护,避免阴极环的修补材料进入器件显示区上而影响器件亮度及显示均匀性等光电性能,避免了因采用溅射法制备金属氧化物透明导电保护层时引起的黑点缺陷,从而可使用溅射、蒸镀等各类
  • 用于阴极修补装置及其使用方法
  • [发明专利]双解耦互校正多时相遥感影像缺失信息重建方法及系统-CN202310593428.0在审
  • 蒋永华;刘伟玲;张过;黎达;吴楷文 - 武汉大学
  • 2023-05-22 - 2023-09-12 - G06T5/00
  • 本发明公开一种双解耦互校正多时相遥感影像缺失信息重建方法及系统,包括获取同一地区不同时相的多幅不同分辨率云遮挡影像作为遮挡多时相互校正数据集,并制作云数据集;裁剪得到云遮挡影像和一一对应的训练数据集;将多个不同时相的云遮挡影像根据互补规则合并为一幅无云的合成影像,并制作数据;构建双解耦互校正多时相缺失信息重建网络模型,包括成像对象互校正模块,成像环境互校正模块和成像环境增强模块;使用训练集数据对重建网络进行训练;将待重建的时间序列影像和对应的根据互补规则得到合成影像和,输入到网络模型中得到重建影像。本发明能够有效重建高分辨率遥感影像中云遮挡造成的信息缺失。
  • 双解耦互校正多时遥感影像缺失信息重建方法系统
  • [实用新型]版和显示面板-CN202120504094.1有效
  • 葛林;楼均辉 - 昆山国显光电有限公司
  • 2021-03-09 - 2021-11-12 - H01L51/56
  • 本实用新型实施例公开了一种版和显示面板,版用于制备显示面板的阴极加厚层,显示面板包括显示区和至少部分围绕显示区的非显示区;版包括:遮挡部和至少部分围绕遮挡部设置的开孔部;其中,遮挡部整面连续且无开孔,遮挡部在显示面板上的垂直投影覆盖显示区;开孔部包括开孔,开孔部在显示面板上的垂直投影与至少部分非显示区重叠。通过在版上设置开孔部来蒸镀阴极加厚层,使得显示面板的非显示区的阴极结构厚度变大,使得阴极结构与阴极信号线搭接和信号传输时的搭接电阻变小,降低信号传输的压降,提高显示面板的显示均匀性,同时版的遮挡部使得蒸镀阴极加厚层时不对显示区的阴极层再次进行蒸镀
  • 掩膜版显示面板
  • [发明专利]发光单元及发光单元的制作方法-CN201811536968.0有效
  • 张豪峰 - 云谷(固安)科技有限公司
  • 2018-12-14 - 2021-10-26 - H01L33/44
  • 本发明提供了一种发光单元及发光单元的制作方法,该发光单元包括:衬底;至少一个发光器件,设置在所述衬底一侧;至少一个图案,设置在所述衬底远离所述至少一个发光器件的一侧,其中在利用激光剥离所述衬底时,所述衬底被所述至少一个图案遮挡的部分与对应的发光器件因所述激光透过率的增加形成全剥离区域,所述衬底未被所述至少一个图案遮挡的部分与对应的发光器件形成半剥离区域,或者,所述衬底被所述至少一个图案遮挡的部分与对应的发光器件因所述激光透过率的降低形成半剥离区域,所述衬底未被所述至少一个图案遮挡的部分与对应的发光器件形成全剥离区域
  • 发光单元制作方法
  • [发明专利]版及其制造方法-CN201910340146.3有效
  • 张晶;甘帅燕;王亚;宋建华 - 云谷(固安)科技有限公司
  • 2019-04-25 - 2022-03-08 - H01L51/50
  • 本发明提供一种版及其制造方法,制造方法包括:提供框架;在框架上固定设置对准,且对准内具有对位孔;以对位孔为对准标记,在框架上固定设置支撑,且支撑内具有贯穿支撑的监测孔;以对位孔为对准标记,在框架上固定设置至少一个条,条内具有贯穿所述条的开口以及测试孔,且测试孔在支撑上的正投影位于监测孔内。本发明能够保证支撑条之间的位置对准精度,消除测试孔被支撑遮挡的风险,保证测试孔在支撑上的正投影位于监测孔内。
  • 掩膜版及其制造方法
  • [发明专利]紫外光固化及其制作方法和固化方法-CN201710649896.X在审
  • 项小群 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2017-08-02 - 2017-12-12 - G03F1/50
  • 本发明提供了一种紫外光固化及其制作方法和固化方法。所述紫外光固化包括基板,在所述基板上设置有阻挡区域及透光区域,所述阻挡区域对应液晶显示面板的液晶区,所述透光区域对应液晶显示面板的外框的封框胶所在区域,且所述透光区域允许紫外光透过,在所述透光区域设置至少一个改变光路装置本发明的优点在于,在紫外光固化上增加改变光路装置,可以使垂直照射至紫外光固化的紫外光能够完整、均匀地照射到液晶显示面板被金属线遮挡的区域,从而充分固化封框胶,避免穿刺风险。
  • 紫外光固化掩膜板及其制作方法固化方法
  • [发明专利]的制作方法-CN201410815512.3有效
  • 刘亚伟;吴聪原 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2014-12-23 - 2015-05-06 - C23C14/04
  • 本发明提供一种的制作方法,先采用电铸工艺或物理气相沉积工艺制作出初始(3’),该初始(3’)具有多个呈阵列式排布的、开口尺寸等于蒸镀所需的设计开孔尺寸(W)的直孔通孔(31);再采用化学刻蚀工艺,对初始(3’)的下表面及直孔通孔(31)的内壁进行刻蚀,形成具有斜锥角(Φ)的曲线形凹槽(33),该曲线形凹槽(33)的开口尺寸自下而上逐渐减小至蒸镀所需的设计开孔尺寸(W),从而制作出(3),一方面能够提高蒸镀开孔的尺寸精度,一方面使蒸镀开孔具有设计需要的斜锥角,减少对蒸镀材料的遮挡,提高蒸镀效率,使更符合制程要求。
  • 掩膜板制作方法
  • [发明专利]遮挡人脸识别方法及装置-CN201610793013.8在审
  • 谭晓衡;郭坦;杨卓;陈涛;张啸梁 - 重庆大学;深圳天珑无线科技有限公司
  • 2016-08-31 - 2017-02-01 - G06K9/00
  • 本公开涉及一种遮挡人脸识别方法及装置。方法包括获取目标遮挡人脸图像;对目标遮挡人脸图像进行预处理,得到目标遮挡人脸图像的样本数据,该样本数据作为测试样本数据;确定测试样本数据在训练样本集上的第一表示系数的估计值;根据训练样本集、测试样本数据和第一表示系数的估计值,确定遮挡和恢复;根据第一表示系数的估计值、遮挡和恢复,确定测试样本数据的无遮挡估计数据;确定无遮挡估计数据在训练样本集上的第二表示系数的估计值;根据训练样本集和第二表示系数的估计值,构建身份识别模型;将无遮挡估计数据输入身份识别模型,获取目标遮挡人脸图像的身份信息。由此,可简单、高效且准确地对遮挡人脸进行识别。
  • 遮挡识别方法装置
  • [发明专利]人脸遮挡检测方法、系统、设备及存储介质-CN202011520261.8在审
  • 陈丹;陆进;陈斌;刘玉宇 - 平安科技(深圳)有限公司
  • 2020-12-21 - 2021-04-09 - G06K9/00
  • 本发明实施例提供了一种人脸遮挡检测方法及系统,包括:获取待检测的人脸图像;将所述人脸图像进行关键点检测,得到所述人脸图像中人脸器官的关键点信息;根据所述关键点信息,将所述人脸图像进行人脸器官块分割,得到对应的人脸器官块图像;将所述人脸器官块图像进行预处理,并将预处理后的人脸器官块图像输入到预先训练的人脸遮挡检测模型中,以进行人脸遮挡检测,并输出对应的图像;将所述图像进行二值化处理,得到所述二值化的目标图像;根据所述目标图像的像素值情况计算各个人脸器官的遮挡比例本发明实施例能够精确计算出各个人脸器官对应的遮挡百分比,大大提高了人脸遮挡检测的精确性。
  • 遮挡检测方法系统设备存储介质

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