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[发明专利]椭圆弯晶谱仪的离线精密装调及在线精确复位准直的方法-CN201510858946.6有效
发明人：王瑞荣;肖沙里;贾果;安红海;方智恒;谢志勇 -专利权人：中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
申请日： 2015-12-01 - 公布日： 2018-07-13 - 主分类号： G01T1/36 文献下载
摘要：本发明涉及一种椭圆弯晶谱仪的离线精密装调及在线精确复位准直的方法。该方法包括椭圆弯晶谱仪离线精密装调和椭圆弯晶谱仪在线精确复位准直，本发明采用“所有反射光束共焦+共轭式靶点瞄准定位”和“光源、椭圆弯晶、椭圆几何光学成像像面三者间的精密耦合转换成离线精密装调及在线精确复位”的技术，解决椭圆弯晶谱仪系统在“神光II”激光装置上的精确准直。本发明有效地解决了发光源（椭圆弯晶上游焦点，即前焦点）、椭圆弯晶、椭圆几何成像像面（椭圆弯晶下游焦点，即后焦点）三者之间要满足既定椭圆方程参数问题，该方法还具有调节方便、可视性好、谱仪调节准直精度高的特点，并能实现椭圆弯晶谱仪与“神光‑II”靶室高效率高精度耦合目的。
椭圆准直精密晶谱仪复位离线装调椭圆几何耦合像面参数问题调节方便反射光束光学成像激光装置椭圆方程发光源高效率后焦点可视性前焦点有效地焦点靶点靶室共焦共轭光源谱仪成像调和瞄准上游转换

[发明专利]一种X射线吸收谱仪的弯晶在线准直方法-CN202211736896.0在审
发明人：朱宁;方田;徐凯;武朝辉;申锦 -专利权人：安徽创谱仪器科技有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G01N23/083 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线吸收谱仪的弯晶在线准直方法，属于材料测试技术领域，本发明X射线吸收谱仪的弯晶在线准直方法，包括：将X射线源和探测器相对弯晶的入射角和衍射角调节至一准直角度；通过探测器记录X射线源发射的X射线经过弯晶衍射后不通过光阑时聚焦的第一光斑以及通过光阑时聚焦的第二光斑；将第二光斑与第一光斑进行比对，通过调节弯晶的位置和/或俯仰度使得第二光斑与第一光斑相匹配，以完成弯晶在准直角度下的准直。本发明X射线吸收谱仪的弯晶在线准直方法，在线调节过程中可实时观察聚焦光斑的变化，来精准的调节弯晶的姿态，从而发现和纠正弯晶应用于X射线吸收谱仪时的潜在问题，以有效保证X射线吸收谱仪的测试精度。
一种射线吸收在线方法

[发明专利]一种弯晶谱仪测量受振动影响的消除方法及弯晶谱仪装置-CN201910617593.9在审
发明人：严伟;王铎钦;陈忠勇 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2019-07-10 - 公布日： 2019-10-22 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本发明涉及一种弯晶谱仪测量受振动影响的消除方法及弯晶谱仪装置，弯晶谱仪包括位于同一水平高度且依次连接的入射臂、波纹管、晶体腔体、出射臂和探测器，通过谐振安装的方式安装弯晶谱仪，具体为：将入射臂固定于设置于地面上的第一支撑架上本发明通过谐振安装来消除托卡马克装置运行振动对弯晶谱仪测量影响，具体通过将晶体腔体、出射臂和探测器腔体以一体化形式安装在加固的减振平台上，既减少弯晶谱仪振动振幅，又可避免晶体腔体和探测器间发生相对振动，
晶谱仪晶体腔探测器出射臂谐振减振平台振动影响测量入射臂托卡马克装置探测器像素多普勒平移测量影响同一水平相对振动依次连接振动振幅波纹管支撑架减振腔体探测隔离一体化保证

[发明专利]一种基于椭圆弯晶的X射线吸收谱仪-CN202211742228.9在审
发明人：申锦;陈祚磊;邢立娜;朱宁 -专利权人：安徽创谱仪器科技有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01N23/083 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于椭圆弯晶的X射线吸收谱仪，包括光源、待测样品、狭缝、探测器和椭圆弯晶；所述椭圆弯晶的反射面为椭圆柱面或者椭球面；所述光源的出光口的光出射点位于椭圆的第一焦点F1上，所述狭缝位于椭圆的第二焦点F2上；入射光线被椭圆弯晶反射后的出射光线在椭圆的第二焦点F2处聚焦；所述待测样品位于光路上；第二焦点F2处聚焦的光束穿过狭缝，经过狭缝后的光束由探测器探测得到光束的光谱。本发明的基于椭圆弯晶的X射线吸收谱仪，具有提高了光谱分辨率、一次获得全谱且能谱范围宽、弯晶谱仪整体尺寸小且结构紧凑等优点。
一种基于椭圆射线吸收

[发明专利]一种X射线衍射成像双晶体谱仪-CN202011224771.0在审
发明人：黎淼;姚童;张彦琦;刘萍;牟晓霜;王玺 -专利权人：重庆邮电大学
申请日： 2020-11-05 - 公布日： 2021-01-22 - 主分类号： G21B1/25 文献下载
摘要：本发明涉及一种X射线衍射成像双晶体谱仪，属于光谱探测器件领域。针对存在像差的传统球面弯晶谱仪，提出了一种基于双球面弯晶结构的无像散X射线衍射成像谱仪，本发明中采用两个球面弯曲晶体，其物理关系满足两球面弯晶半径的负比值正比于其对应布拉格角余弦值和2倍布拉格角正切值的乘积，所涉及X射线晶体谱仪能够解决单个球面晶体在子午面和弧矢面射线聚焦焦点不一致造成的成像像差问题。本发明提出的双晶体X射线衍射成像谱仪能够使得X射线经两晶体衍射后的射线汇聚于罗兰圆位置上同一点，可以有效提升晶体谱仪成像聚焦效果及诊断精度。
一种射线衍射成像双晶体谱仪

[发明专利]一种基于Johansson弯晶的XAFS谱仪-CN202211742227.4在审
发明人：申锦;王军政;邢立娜;朱宁 -专利权人：安徽创谱仪器科技有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01N23/085 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于Johansson弯晶的XAFS谱仪，包括光源、待测样品、狭缝、探测器和Johannsson弯晶；所述Johansson弯晶的衍射面的半径为R，且Johansson弯晶的衍射面与半径为R的罗兰圆弯曲重合；光源的出射点A位于罗兰圆的圆周上；出射光线被Johansson弯晶反射后在罗兰圆的平面焦点B处聚焦；在平面焦点B处放置待测样品，待测样品的后方设置有狭缝；被Johansson弯晶反射后在平面焦点本发明的基于Johansson弯晶的XAFS谱仪，具有提高集光效率和能谱分辨率、能获得高信噪比的吸收光谱信号等优点。
一种基于 johansson xafs 谱仪

[发明专利]透射式硬X射线谱仪-CN201210072745.X无效
发明人：陈黎明;张璐;毛婧一;闫文超 -专利权人：中国科学院物理研究所
申请日： 2012-03-19 - 公布日： 2012-08-01 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：提供一种透射式硬X射线晶体谱仪，包括：凹形底座，用于容纳支撑弯晶的弯晶支架，该底座具有相对的两端；前面板，其布置在所述凹形底座的其中一端，该面板具有一个孔和以该孔为中心对称的入射窗口，以使被测光经过该孔和入射窗口入射到弯晶上；光谱探测器，其连接到所述凹形底座的另一端上，用于探测经弯晶透射过的光；在凹形底座内还布置有位于弯晶和光谱探测器之间的狭缝，以使从弯晶透射过的光经该狭缝入射到光谱探测器；和顶盖，其覆盖于凹形底座上，用于密封凹形底座该谱仪对于硬X射线有高的集光效率，高光谱分辨能力，通过谱仪中心的小孔，能同时得到源的小孔像。
透射射线

[发明专利]圆锥条晶谱仪及其安装调节方法-CN201810126686.7有效
发明人：王瑞荣;贾果;安红海;方智恒;熊俊;谢志勇;王伟 -专利权人：中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
申请日： 2018-02-08 - 公布日： 2019-12-06 - 主分类号： G01T1/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种圆锥条晶谱仪，该圆锥条晶谱仪包括五维调节架、连杆、滤片组件、晶体盒、圆锥弯晶分析器、挡光板、窗口连接法兰、相机压板、X射线条纹相机、支撑螺杆、阶梯型连接板，晶体盒固定在连杆的另一端，圆锥弯晶分析器固定设置在晶体盒中本发明能实现长的工作距离、好的集光效率、大谱窗、高时空和能谱分辨力X射线能谱诊断，并有效地消除强激光条件下杂散光的影响，使X射线条晶谱仪具有高信噪比应用于高温稠密等离子体、惯性约束聚变中记录光谱光强度及谱形轮廓随时间的变化
圆锥晶谱仪晶体盒固定设置连接法兰条纹相机支撑螺杆分析器阶梯型连接板压板相机稠密等离子体惯性约束聚变五维调节架工作距离集光效率滤片组件挡光板高时空连接杆强激光有效地杂散光高信光谱能谱谱形分辨穿过诊断记录应用

[发明专利]实验室谱仪-CN202211733446.6在审
发明人：张林娟;王建强;于海生;吴佳兴 -专利权人：中国科学院上海应用物理研究所
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-04-14 - 主分类号： G01N23/083 文献下载
摘要：本发明涉及一种实验室谱仪，包括：基座；运动组件，设置在所述基座上；射线源组件，包括X射线源和安装架，所述安装架固定在所述基座上，所述X射线源固定在所述安装架上；弯晶组件，包括球面弯晶和定位架，所述球面弯晶固定在所述定位架上，所述定位架固定在所述运动组件上；探测组件，包括探测器和支撑架，所述探测器固定在所述支撑架上，所述支撑架固定在所述运动组件上，所述支撑架还用于固定样品；所述运动组件设置为使所述球面弯晶、样品和探测器运动，以使所述X射线源、所述球面弯晶和所述样品始终在罗兰圆上。本发明的实验室谱仪，其X射线源固定不动，在能量扫描时只需移动球面弯晶、样品及探测器即可，光路稳定。
实验室

[发明专利]一种真空环境下弯晶谱仪空间位置标定方法和装置-CN202310220776.3有效
发明人：王福地;符佳;张洪明;卢迪安;金仡飞;吕波 -专利权人：中国科学院合肥物质科学研究院
申请日： 2023-03-09 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及弯曲晶体谱仪技术领域，公开了一种真空环境下弯晶谱仪空间位置标定方法和装置，方法包括将真空腔室的真空度抽至10‑5 Pa量级；其中，探测器腔室中预先设有空间位置可调的至少五个氦氖激光管并控制至少五个所述氦氖激光管开启，以使至少五个所述氦氖激光管的激光束经过球面弯曲晶体后成像；获取所述激光束的成像点三维坐标；根据一元线性回归分析得到关于所述初始三维坐标与所述成像点三维坐标的线性关系，以完成真空环境下弯晶谱仪的空间位置标定本发明能够完成在真空环境下对弯晶谱仪进行精确的空间位置标定，能够解决原位空间位置标定的难题。
一种真空环境下弯晶谱仪空间位置标定方法装置

[发明专利]离轴抛线型X射线平行弯晶谱仪装置-CN201711024655.2在审
发明人：牛明生;韩培高;杨尚国;宋连科;张树东 -专利权人：曲阜师范大学
申请日： 2017-10-27 - 公布日： 2019-05-07 - 主分类号： G01T1/36 文献下载
摘要：一种分辨率较高的离轴抛物线型X射线平行弯晶谱仪，包括准直系统、光路调节系统、采集系统和真空腔组成，整个系统中的调节可通过上下、左右、前后、俯仰和左右摆角进行五维调整，对X测量时遵循通过抛物线焦点的X射线经晶体衍射后与抛物线光轴平行的原理其方法是：X射线源出射的X射线通过抛物线的焦点，经抛物面弯晶分析器衍射后，被X射线CCD相机探测。通过弯晶分析器主体的衍射角度可从24^o到45^o之间进行调控，最小调节精度为0.1mrad，可连续测量的范围为0.1nm—2nm。根据光路可逆原理，把探测器放在抛物线焦点位置，该弯晶分析器可用于空间站中对宇宙射线的接收和分析研究。所发明的抛物面型X射线平行弯晶谱仪装置成本低廉、操作方便，对X射线测量宽度宽，分辨率高，使X射线展宽的更宽，稳定性好，可实时、快速获取X射线能谱。
晶谱仪抛物线平行分析器分辨率离轴衍射宇宙射线抛物线焦点位置光路可逆原理分析器主体抛物线焦点采集系统光路调节光轴平行晶体衍射快速获取连续测量抛物面型抛物线型装置成本准直系统俯仰抛物面真空腔探测器摆角出射可用五维探测测量相机焦点调控分析研究

[实用新型]高分辨X射线椭圆弯晶谱仪-CN201120541550.6有效
发明人：王瑞荣;肖沙里;董佳钦;王伟;熊俊 -专利权人：上海激光等离子体研究所
申请日： 2011-12-21 - 公布日： 2012-11-07 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：一种高分辨X射线椭圆弯晶谱仪，包括椭圆弯晶和探测器，其特点是所述的椭圆弯晶的两个焦点按光束前进方向称为前焦点和后焦点，在所述的前焦点设置辐射光源，在所述的后焦点设置滤片狭缝组件，且后焦点位于该滤片狭缝组件的狭缝中与现有同类仪器相比，提高谱图的信噪比3倍，光谱分辨率(λ/Δλ)能达到1000。
分辨射线椭圆弯晶谱仪

[发明专利]一种高集光高分辨变锥面弯晶的制造方法-CN202110667710.X有效
发明人：王峰;尚万里;杨国洪;范朦;蒋毅;杨龙;范松如;王玉鲁;罗荣荣 -专利权人：四川欧瑞特光电科技有限公司
申请日： 2021-06-16 - 公布日： 2022-11-22 - 主分类号： G01N23/2202 文献下载
摘要：本发明公开了一种高集光高分辨变锥面弯晶的制造方法，属于光学晶体制造技术领域，解决了简单锥面存在理论相像差、柱面晶体谱仪检测面只能在柱面中心轴线位置处的问题，本发明包括如下步骤：S1、建模：采用三维软件建模；S2、晶片制作：用X射线定向仪定向切割α石英晶体片，抛光第一个面，完工后光胶上盘抛光第二面；S3、弯晶基底：采用石英材料进行加工；S4、面型精度测量：采用精度为1μm的三坐标机测量；S5、面型保持定位压块制作：用石英材料，制作外型尺寸与弯晶相同、反射面面型与弯晶相同、凹凸相反的标准压块；S6、定型胶合：用面型保持定位压块的面型来完成胶合完工后的弯晶面型。本发明制作的变锥面弯晶精度复测≤5μm，精度高。
一种高集光高分辨锥面制造方法

[发明专利]一种多通道空间分辨弯晶谱仪及其装调方法-CN202310138069.X在审
发明人：伊圣振;王占山;杜慧瑶 -专利权人：同济大学
申请日： 2023-02-20 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01T1/36 文献下载
摘要：本发明涉及一种多通道空间分辨弯晶谱仪及其装调方法，其装调方法包括等离子体X射线辐射源的定位过程，具体包括以下步骤：S1：以可见激光照射的定位物点作为模拟等离子体X射线辐射源，调节多通道弯晶器件至可见激光反射光路上，调节分幅相机至多通道弯晶器件的像面位置；S2：通过多光路瞄准镜头确定定位物点关于多通道弯晶器件的相对位置，其中所述的多光路瞄准镜头相对于多通道弯晶器件固定设置；S3：根据多光路瞄准镜头所确定的定位物点位置与现有技术相比，本发明具备了时间分辨的X射线能谱测量功能同时实现了快速精准的离线装配和在线调试。
一种通道空间分辨弯晶谱仪及其方法

[发明专利]一种椭圆弯晶谱仪数据采集与处理系统-CN201910864297.9在审
发明人：李阿红;吴丹阳;王彬;蒙林;李海龙;殷勇;袁学松 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2019-09-12 - 公布日： 2019-12-20 - 主分类号： G01T1/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种椭圆弯晶谱仪数据采集与处理系统，包括CCD光电转换模块、模拟前端的AD应用模块、FPGA驱动及控制模块、USB接口传输模块和系统电源模块；通过系统获取激光等离子体X射线的光谱图像，经过USB机上；系统能够实时、高速采集不同帧频，不同分辨率的图像数据，并将采集的数据实时传输与显示，系统通过使用小波变换和中值滤波算法，光谱图像获得了较高的信噪比和很好的视觉效果；利用去噪后的光谱图像获取X射线的谱线图，经过波长的标定将像素与光强的关系转化为波长与强度的关系，进而得到椭圆弯晶谱仪的空间分辨率，得到等离子体的温度和旋转速度。
光谱图像传输模块椭圆波长数据采集与处理系统等离子体光电转换模块激光等离子体数据实时传输系统电源模块空间分辨率高速采集关系转化控制模块滤波算法视觉效果数据通讯数据显示图像数据系统获取小波变换应用模块晶谱仪谱线图信噪比分辨率标定光强去噪像素帧频采集传输驱动

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