专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]双边错位差动测量方法-CN201510015231.4有效
  • 赵维谦;邱丽荣;王允 - 北京理工大学
  • 2015-01-12 - 2017-07-28 - G01M11/02
  • 本发明属于光学成像与检测技术领域,涉及一种双边错位差动测量方法。该方法通过对轴向特性曲线自身两侧边数据组的错位差动相减处理,来准确求得系统特性曲线的极值点位置。本发明由于利用了特性曲线靠近半高宽位置附近对轴向位移非常灵敏的两段数据来进行差动相减处理,因而由该数据段推算出的特性曲线的极值点位置与现有特性曲线顶部拟合方法相比灵敏度大幅提高,其结果在不改变显微系统结构的条件下,可显著改善现有显微系统的轴向分辨力和信噪比等。本发明将为成像/检测领域提供一种新的技术途径。
  • 双边错位差动测量方法
  • [发明专利]双边错位差动层析定方法与装置-CN201910315950.6有效
  • 赵维谦;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2019-04-19 - 2020-12-01 - G01M11/02
  • 本发明涉及双边错位激光差动层析定方法与装置,属于光学测量技术领域。其针对光学元件尺寸参数测量中元件内、外表面高精度、抗散射定的共性瓶颈问题,提出在测量光路系统中,通过大、小虚拟针孔特性曲线的横向相减处理来锐化响应特性曲线,通过锐化响应特性曲线的双边错位差动相减处理来实现被测表面的差动双极性定测量,通过差动曲线的线性拟合来提升焦点位置捕获精度,通过光线追迹模型补偿来减少各定表面间的相互干扰,进而实现被测光学元/部件内外表面的高精度层析定和精磨散射表面的高精度定,以期解决光学元件参数测量中高精度层析定这一共性瓶颈问题
  • 双边错位差动层析方法装置
  • [实用新型]集成法与三角法的位移测量装置-CN202120799278.5有效
  • 秦鑫晨;卢科青;王文;王传勇;陈占锋;居冰峰 - 杭州电子科技大学
  • 2021-04-19 - 2021-10-22 - G01B11/02
  • 本实用新型公开了集成法与三角法的位移测量装置。现有位移测量方式的精度与量程存在矛盾。本实用新型的激光位移传感器探头、位置敏感元件和聚焦透镜均与测头面板固定;激光位移传感器探头与激光位移传感器本体的光学单元及控制器连接组成激光位移传感器;激光位移传感器探头的测量光由激光位移传感器本体的光学单元产生,并通过光纤传输到激光位移传感器探头;激光位移传感器探头的测量光中心轴线与聚焦透镜的中心轴线位于同一平面内;位置敏感元件的信号输出端与控制器连接;激光位移传感器、聚焦透镜以及位置敏感元件组成三角法位移测量系统
  • 集成共焦法三角位移测量装置
  • [发明专利]横向相减差动曲率半径测量方法-CN201910316312.6有效
  • 赵维谦;姚竹贤;邱丽荣 - 北京理工大学;北京航天控制仪器研究所
  • 2019-04-19 - 2020-12-11 - G01B11/255
  • 本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种横向相减激光差动曲率半径测量方法。该方法将差动探测器中焦前后两路探测器探测到的光斑分别采用不同大小虚拟针孔进行横向相减得到锐化后的横向相减响应曲线,将两路横向相减响应曲线差动相减后得到横向相减差动响应曲线,根据横向相减差动响应曲线的过零点精确确定被测球面的“”位置和“猫眼”位置,得到被测球面曲率径的精确值。本发明中横向相减激光差动的光强响应曲线过零点附近的斜率大于传统的差动光强响应曲线,因而定灵敏度高,测量精度得到提高,并且抗环境干扰能力强。本方法测量精度高,抗表面散射和环境干扰能力强。
  • 横向差动曲率半径测量方法
  • [发明专利]双边错位差动抛物面顶点曲率半径测量方法-CN201910316283.3有效
  • 赵维谦;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2019-04-19 - 2020-12-11 - G01B11/255
  • 本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种双边错位差动抛物面顶点曲率半径测量方法。该方法通过大、小虚拟针孔特性曲线的横向相减处理来锐化响应特性曲线,通过锐化响应特性曲线的双边错位差动相减处理来实现被测表面的差动双极性定测量,通过差动曲线的线性拟合来提升焦点位置捕获精度,进而提高抛物面顶点曲率半径测量中透镜表面顶点和焦点位置的定精度,以期实现抛物面顶点曲率半径的高精度测量。本发明中横向相减双边错位差动的光强响应曲线过零点附近的斜率大于传统的差动光强响应曲线,显著提高了测量系统定精度。本方法具有测量精度高、抗环境干扰能力强和结构简单等优势。
  • 双边错位差动抛物面顶点曲率半径测量方法
  • [发明专利]反射式双边错位差动焦距测量方法-CN201910316039.7有效
  • 赵维谦;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2019-04-19 - 2020-06-05 - G01M11/02
  • 本发明涉及反射式双边错位差动焦距测量方法,属于光学精密测量技术领域。该方法通过大、小虚拟针孔特性曲线的横向相减处理来锐化响应特性曲线,通过锐化响应特性曲线的双边错位差动相减处理来实现被测表面的差动双极性定测量,通过差动曲线的线性拟合来提升焦点位置捕获精度,进而提高焦距测量中透镜表面顶点和焦点位置的定精度,以期实现焦距的高精度测量。本发明中横向相减双边错位差动的光强响应曲线过零点附近的斜率大于传统的差动光强响应曲线,显著提高了测量系统定精度。
  • 反射双边错位差动焦距测量方法
  • [发明专利]一种色散显微镜的特性参量的优化方法-CN202010023805.3有效
  • 卢文龙;陈成;王健;刘晓军;周莉萍;蒋向前;汪洁 - 华中科技大学
  • 2020-01-09 - 2020-10-23 - G02B21/00
  • 本发明公开了一种色散显微镜的特性参量的优化方法,其通过利用探测针孔平面上实际像的强度函数和圆形探测器的灵敏度函数两者之间的映射关系,得到探测器上轴向响应信号强度函数;获取复色针孔光源的所有波长的光的焦点到折射面的距离函数,并得到所有波长的色散位移函数;利用探测器上轴向响应信号强度函数和所有波长的色散位移函数之间的映射关系,得到色散显微镜的色散信号函数;利用色散显微镜的色散信号函数表征的特性参量之间的映射关系,对色散显微镜的特性参量进行调整,以实现色散显微镜的性能优化。
  • 一种色散显微镜特性参量优化方法

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