专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种自匹配超宽带微波绝缘子-CN201910313017.5有效
  • 罗明;彭文超;张继帆;肖庆 - 中国电子科技集团公司第二十九研究所
  • 2019-04-18 - 2021-05-14 - H01P1/00
  • 本发明公开了一种自匹配超宽带微波绝缘子,包括:外壳、玻璃柱、内导体和匹配;所述玻璃柱设置在外壳内,所述内导体设置在玻璃柱内;所述内导体具有突出于玻璃柱的上凸起和下凸起;所述匹配包括镀金层的上和下,用于通过金丝或金带与电路片键合,上和下分别与上凸起和下凸起焊接,并且所述上和下的外形尺寸根据超宽带微波传输需求通过仿真设计确定。本发明通过在内导体端部增加匹配,来提高微波信号的超宽带传输性能;并将匹配镀金层,以适于金丝或金带的键合,避免绝缘子与电路片的焊接,从而大幅缩小垂直互连结构尺寸,提高互连密度和装配可靠性。
  • 一种匹配宽带微波绝缘子
  • [发明专利]散热镂空的形成方法及形成的散热镂空结构-CN201310545592.0在审
  • 周慧莹;康立杰 - 纬创资通股份有限公司
  • 2013-11-06 - 2015-04-29 - G06F1/20
  • 本发明提供了一种散热镂空的形成方法及形成的散热镂空结构,该散热镂空的形成方法至少包括:载入单个或多个条件参数于一搜寻单元;搜寻单元依据单个或多个条件参数于所有中搜寻出一预选群;判断单元判断该预选群中的各是否符合一预定处理条件,进而产生一待处理群;一执行单元根据待处理群中各的至少一顶点坐标执行镂空作业,以在各所在一接触面上对应的顶点处形成一穿孔。本发明的散热镂空的形成方法及形成的散热镂空结构,可对筛选出的有效率地进行挖空处理,于对应角落的接触表面上形成穿孔,以有效率地大幅改善零组件的立碑效应。
  • 散热镂空形成方法结构
  • [实用新型]嵌入盘结构-CN202020252537.8有效
  • 李建财;张傲峰 - 合肥晶合集成电路有限公司
  • 2020-03-04 - 2020-08-25 - H01L23/488
  • 本实用新型涉及一种嵌入盘结构。所述嵌入盘结构包括分别与半导体基底的顶部金属层中的第一连接部和第二连接部电连接的内和外,其中,内低于外,外嵌设于内盘上方的介质层中,所述内和外可用于与外部器件电连接,外的上表面与周围的第三介质层的上表面齐平,在确保嵌入盘结构与晶圆中的内部电路形成良好电连接的基础上,有助于使半导体基底上的之间形成细微间距,缩小后续形成的封装体的体积。
  • 嵌入式盘结
  • [发明专利]直插芯片座及直插芯片组装结构-CN200710200565.4无效
  • 侯震;王境良 - 佛山普立华科技有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
  • 2007-04-29 - 2008-10-29 - H05K1/02
  • 本发明提供一种直插芯片座,其包括一个具有一个焊接面的基板、至少一个开设于所述焊接面的插设部及至少一个形成于所述焊接面的组。每个插设部用于收容待组装直插芯片的一列插脚,每个组包括多个位于对应插设部边缘的,用于焊接待组装直插芯片的一列插脚。同个组中,用于焊接待组装直插芯片相邻两只插脚的两个分别位于对应插设部的两侧。所述直插芯片座用于焊接待组装直插芯片相邻两只插脚的两个分布于对应插设部的两侧。如此,可增大间距,避免焊接插脚时发生端接现象,造成插脚短路。另外,本发明还提供一种采用所述直插芯片座的直插芯片组装结构。
  • 直插式芯片组装结构
  • [发明专利]接触LTPS的检测方法以及用于该方法的盘结构-CN201510145554.5有效
  • 李原欣 - 上海和辉光电有限公司
  • 2015-03-31 - 2020-01-17 - G01R31/50
  • 本发明提供了一种接触LTPS的检测方法和用于接触LTPS检测的盘结构,所述检测方法包括:提供LTPS器件,LTPS器件包括多个待检测的;在多个待检测的中设一第一测试与一第二测试,并将第一测试与第二测试电性连接;提供探针,将探针搭接各待检测的、第一测试以及第二测试;在第一测试盘上施加电压,量测第二测试的电压,从而确定探针与待检测的的接触状态。本发明通过在LTPS器件的多个待检测的中设置的第一测试与第二测试,检测时如果量测到第二测试的电压,则表示探针与接触正常;如果量测不到第二测试的电压,则表示探针与之间发生接触位移
  • 接触ltps检测方法以及用于盘结

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