专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]应力测定方法-CN201880035154.0有效
  • 高松弘行;福井利英;松田真理子;兜森达彦 - 株式会社神户制钢所
  • 2018-04-06 - 2022-02-18 - G01N23/20016
  • 本发明的应力测定方法是对由金属构成的、包括表面以及凹部的被检查体的凹部的应力进行测定的方法,所述应力测定方法包括:检测工序,使X射线向凹部入射,并且利用二维检测器对通过所述X射线在凹部衍射而形成的衍射X射线衍射环进行检测;以及计算工序,基于检测工序的检测结果来计算凹部的应力,在检测工序中,对被检查体的凹部内的多个部位分别入射X射线,并且利用二维检测器对通过各X射线在凹部衍射而形成的衍射环进行检测。
  • 应力测定方法
  • [发明专利]X射线荧光(XRF)光谱分析系统和方法-CN201710285264.X有效
  • 刘小东;李伯伦;滕云 - 北京安科慧生科技有限公司
  • 2017-04-27 - 2021-07-30 - G01N23/223
  • 本申请提供一种X射线荧光(XRF)光谱分析系统和方法,所述系统包括至少一个X射线光源(1)、至少一个探测器(4)和至少一个衍射光学部件(3),所述衍射光学部件收集所述X射线光源发出的原级X射线,所述原级X射线经所述衍射光学部件衍射后得到单波长X射线,所述单波长X射线用以激发被测样品(5)中的被测元素发射荧光X射线,所述探测器收集并分析所述荧光X射线;所述探测器收集的光线中还包括,单波长X射线被被测样品散射而产生的散射线;所述原级X射线、所述单波长X射线和所述荧光X射线构成单波长偏振消光光路,使所述散射线偏振消光,用以降低或消除单波长X射线在被测样品中散射所引起的背景强度。
  • 射线荧光xrf光谱分析系统方法

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