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[发明专利]一种催化剂催化活性的检测方法-CN201310153824.8有效
发明人：王长琴;李艺;王权;谢锋;公磊;赵建军;宋书壮 -专利权人：神华集团有限责任公司;山东江岳科技开发股份有限公司;中国神华煤制油化工有限公司
申请日： 2013-04-27 - 公布日： 2013-07-10 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：该检测方法包括:步骤S1、将待测催化剂干粉进行XRD测试，得XRD谱图;步骤S2、将同一特征峰在XRD谱图中的衍射强度与在标准XRD谱图中的标准衍射强度进行比较，衍射强度大于标准衍射强度的催化剂为合格催化剂，其中标准XRD谱图为催化性能合格的催化剂在与步骤S1相同的测试条件下得到的谱图。通过XRD测试得到待测催化剂干粉的XRD谱图，查找出该催化剂的活性成分的特征衍射峰并查找特征衍射峰的衍射强度，对比待测催化剂与标准样品在相同的XRD测试条件下得到的XRD谱图中对应特征峰的衍射强度，在不具备活性评价的条件下即可准确表征出待测催化剂催化活性的优劣
一种催化剂催化活性检测方法

[发明专利]一种谱线探测方法、装置、谱线探测仪和谱线探测系统-CN201911231087.2在审
发明人：赵一英;廖非易;马策;雷林;袁登鹏;张鹏程;王小英 -专利权人：中国工程物理研究院材料研究所
申请日： 2019-12-04 - 公布日： 2020-06-02 - 主分类号： G01T1/36 文献下载
摘要：本申请提供一种谱线探测方法、装置、谱线探测仪和谱线探测系统，所述方法包括：接收待分析的衍射信号对应的脉冲信号，所述衍射信号包括多种谱线，且所述衍射信号为利用射线源对样品进行多个不同角度的照射产生的；根据与目标谱线对应的信号幅度范围，从所述脉冲信号中确定出与目标谱线对应的目标信号；根据所述目标信号生成所述目标谱线对应的衍射图。本申请实施例基于目标谱线对应的电信号的幅度不同，从而根据目标谱线对应的信号幅度范围从脉冲信号中确定出目标信号，由此通过筛选的方式可以减少信号的损耗，保证得到较高信号强度的目标信号，对应生成的衍射图的精度更高
一种探测方法装置探测仪系统

[发明专利]一种基于统计建模的粉末X光衍射图期望最大化算法全谱线拟合方法-CN202210408314.X在审
发明人：张统一;曹斌;冯振杰;肖祁陵;王子涵;张茜;王家豪 -专利权人：上海大学
申请日： 2022-04-19 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于统计建模的多晶粉末X光衍射图谱的全谱线拟合方法：粉末X光衍射图期望最大化算法全谱线拟合方法(Whole Pattern Fitting of Powder XRD byExpectation可用于多晶粉末X光衍射图的全谱拟合,从中提取各衍射峰的峰位、峰宽、峰形、积分衍射强度等晶体结构信息。实现了“统计背底计算”、“组分晶格常数的精确测定”、“组分体积分数的定量测定”等功能。本发明技术能够减少或者消除由衍射几何因素形成的不对称峰形的噪声，可以对混合多晶系的X光衍射图进行全谱线分解和拟合，精确和定量测定各个晶系晶格常数、峰形及各个晶系体积分数。
一种基于统计建模粉末衍射期望最大化算法全谱线拟合方法

[发明专利]一种数据格式的处理方法-CN201811091399.3有效
发明人：潘宇观;张莹刚;李伟强;杨涛 -专利权人：南京大学
申请日： 2018-09-19 - 公布日： 2021-11-19 - 主分类号： G16H30/40 文献下载
摘要：本发明公开了一种数据格式的处理方法，包括步骤如下：1）读取原始衍射谱文件，提取文件中衍射强度数据和衍射仪参数数据；2）获取小数点的移位处理参数，并根据得到的移位处理参数，对上述步骤1）中的衍射强度数据进行小数点移位处理，得到处理后的衍射强度数据；3）整合上述步骤1）中的衍射仪参数数据和上述步骤2）中处理后得到的衍射强度数据，得到新的衍射谱数据文件；4）存储上述步骤3）中整合后得到的新的衍射谱数据文件。本发明的方法对衍射谱数据进行数据处理，将衍射谱数据进行小数点移位处理，消除衍射谱小数部分，保留了原始衍射谱数据精度。
一种数据格式处理方法

[实用新型]X射线衍射-荧光双谱仪-CN200920105107.7有效
发明人：江向峰;董连武 -专利权人：布莱格科技(北京)有限公司
申请日： 2009-01-14 - 公布日： 2009-10-28 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种X射线衍射-荧光双谱仪，包括X射线源，还包括：硅检测器、单道脉冲幅度分析器及多道脉冲幅度分析器，所述X射线源产生X射线照射待测样品；所述硅检测器对所述待测样品反射的X射线进行检测并将输出分别送入所述单道脉冲幅度分析器及多道脉冲幅度分析器；所述单道脉冲幅度分析器仅选通衍射波长，用于获取待测样品的X射线衍射谱；所述多道脉冲幅度分析器用于获取待测样品的X射线荧光能谱。本实用新型的技术方案在进行衍射图扫描的同时，获取样品的荧光散射能量谱，使仪器在工作时能够充分获取样品的信息，同时得到样品的X射线衍射谱和样品的X射线能谱。
射线衍射荧光双谱仪

[发明专利]一种TiCN基金属陶瓷-CN201711466012.3在审
发明人：鲁攀;许荣杰;聂洪波;项忠楠;郭新营;江嘉鹭 -专利权人：厦门钨业股份有限公司
申请日： 2017-12-28 - 公布日： 2019-07-05 - 主分类号： C22C29/04 文献下载
摘要：本发明提供了一种特殊结构的TiCN基金属陶瓷，包括硬质相和粘结相，通过对TiCN基金属陶瓷进行X射线衍射测量得到原始谱图，原始谱图包括在布拉格角2θ为47°‑49.7°出现的衍射峰A和在布拉格角2θ为132.1°‑139.7°出现的衍射峰B；衍射峰A的峰边宽0.92°‑1.48°，衍射峰B的峰边宽0.84°‑2.0°；衍射峰A进行峰形拟合得到分峰图谱，分峰图谱中所述衍射峰A分峰数量为1个‑3个；衍射峰A分峰中最强峰的峰面积占所述衍射峰
衍射峰基金属陶瓷布拉格角图谱定量化控制切削工具使用寿命微观结构粘结相最强峰峰形拟合硬质优化保证

[发明专利]一种火成岩矿物自形程度测量方法-CN202110664915.2在审
发明人：谭杰;王丽;陈洪斌;赵容容;孔令明;严玉霞;邹春艳;邹梦文;杨雨;谢继容;唐志娟;贾蓉庆 -专利权人：中国石油天然气股份有限公司
申请日： 2021-06-16 - 公布日： 2022-12-16 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本发明公开了一种火成岩矿物自形程度测量方法，涉及火成岩油气勘探研究技术领域，先对岩石进行预处理后作为分析样品，对分析样品进行X射线衍射分析，获取X射线衍射谱图，根据X射线衍射谱图提供的2θ角度和积分强度数据，计算出矿物在X射线衍射谱图中对应峰的半峰宽度，然后采用德拜‑谢乐公式，计算得到矿物的平均晶粒尺寸，用矿物的衍射峰半峰宽度和晶体平均晶粒尺寸作为矿物自形程度的定量表征。
一种火成岩矿物程度测量方法

[发明专利]中子粉末衍射仪探测器零点标定方法-CN201710407455.9在审
发明人：张洁;夏元华;谢超美;张莹;庞蓓蓓;王云;潘建;孙光爱;李建;黄朝强 -专利权人：中国工程物理研究院核物理与化学研究所
申请日： 2017-06-02 - 公布日： 2017-10-13 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本发明公开了一种中子粉末衍射仪探测器零点标定方法，所述的方法包括以下步骤使用中子粉末衍射仪快速测量中子衍射谱，用于估算衍射谱的本底坪区及衍射峰强度；使用中子粉末衍射仪测量标准粉末样品的大角度范围中子衍射谱；将每支探测器所测得的部分衍射谱数据分离出来，并将衍射谱数据的角度值减去对应探测器零点的估计初值后，单独保存成一个衍射谱数据文件；使用专业的衍射谱结构精修分析软件对每支探测器测得的部分衍射谱进行数据拟合分析
中子粉末衍射探测器零点标定方法

[发明专利]基于斜入射校正的极紫外光刻掩模衍射谱仿真方法-CN201910543997.8有效
发明人：张子南;李思坤;王向朝;成维 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2019-06-21 - 公布日： 2020-05-05 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：一种基于斜入射校正的极紫外光刻掩模衍射谱快速仿真方法，针对光源斜入射的情况，对基于边界点脉冲的吸收层模型进行参数校正，得到了准确的吸收层衍射谱，将无缺陷多层膜近似为单平面，其反射系数幅值和相位通过对严格仿真结果进行插值得到本方法依次仿真吸收层衍射谱、多层膜反射谱、吸收层衍射谱，得到极紫外光刻掩模衍射谱。本发明可快速准确地仿真任意入射角照明下的极紫外光刻掩模的衍射谱。
基于入射校正紫外光刻衍射仿真方法

[发明专利]一种基于平晶衍射成像的X射线能谱测量方法-CN201610255170.3有效
发明人：马戈;黑东炜;唐波;魏福利;罗剑辉;周海生;夏惊涛;李斌康;盛亮 -专利权人：西北核技术研究所
申请日： 2016-04-22 - 公布日： 2018-08-14 - 主分类号： G01T1/36 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于平晶衍射成像的X射线能谱测量方法，以解决现有方法能谱分辨率差、测量效率低的缺点。本发明适用于100keV以下、多能量X射线连续能谱的测量。该方法包括步骤：1.估计待测X射线能谱范围，确定衍射晶体参数和测量系统参数；2.对衍射角度范围中所有衍射角度分别进行成像，记录衍射图像和透射图像；3.对步骤1中确定的晶体，利用直流X射线源和能量分辨探测器，测量待测能谱范围内各能量X射线对衍射晶体的摇摆曲线，计算积分衍射系数：4.根据步骤2中的透射图像，计算步骤2中衍射图像各像素对应的衍射能量，得到X射线衍射能谱；再结合步骤3中各待测能量的积分衍射系数计算入射X射线能谱。
一种基于衍射成像射线测量方法

[发明专利]一种天维菌素B的晶型及其制备方法和用途-CN201810521893.2在审
发明人：王继栋;李建宋;尹明星;张辉;张灵坚;黄隽;白骅 -专利权人：浙江海正药业股份有限公司
申请日： 2018-05-28 - 公布日： 2019-12-06 - 主分类号： C07H17/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种天维菌素B晶型I，它可以通过X‑射线粉末衍射(XRPD)谱图、红外(IR)吸收谱图和差示扫描量热(DSC)谱图等来表征。同时，本发明还涉及该天维菌素B晶型I的制备方法和用途。
差示扫描量热射线粉末吸收谱衍射制备

[发明专利]基于Matlab的电子衍射指数标定方法-CN200910250973.X无效
发明人：文波;任莉平;左汝林;李小飞;刘文彬 -专利权人：重庆大学
申请日： 2009-12-23 - 公布日： 2010-05-19 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本发明属于材料科学分析领域，具体涉及一种基于Matlab的电子衍射指数标定方法。本发明采用透射电子显微镜、计算机和Matlab软件对样品材料进行零阶电子花样指数标定以及有特定取向关系的两种物质的电子模衍射斑的指数标定，主要涉及单晶衍射谱的标定方法和标准电子衍射图谱的绘制；采用本发明方法与现有的标定方法相比更节约时间，并且能方便地绘制出零阶和高阶模拟斑点图以及第二相与基体的取向关系图，为计算机识别单晶衍射谱提供了有利的技术基础。
基于 matlab 电子衍射指数标定方法

[发明专利]一种亮菌甲素注射液内源性可见异物的鉴别方法-CN202211654876.9在审
发明人：鲍康德;田琦;王丹;廖时余;周海畅;汪睿颀;吕正兵;刘立丽 -专利权人：浙江理工大学
申请日： 2022-12-22 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G01N30/02 文献下载
摘要：本发明方法包括如下步骤：分别对亮菌甲素注射液中可见异物进行超高效液相色谱质谱联用分析和X射线多晶衍射分析，获取超高效液相色谱图、质谱图和X射线多晶衍射图，若测试结果满足下述a)、b)和c)，则判定该可见异物为从亮菌甲素‑聚维酮K30共聚物中析出的原料药成分；a)可见异物的超高效液相色谱图中的出峰位置与原料药亮菌甲素的出峰位置一致；b)可见异物的质谱图与原料药亮菌甲素的质谱图一致；c)可见异物的X射线多晶衍射图在3°～90°的扫描范围内2θ仅有11和12处的衍射峰。
一种亮菌甲素注射液内源可见异物鉴别方法

[发明专利]一种罗米地辛的新晶型及其制备方法和用途-CN201410460411.9有效
发明人：张辉;王继栋;杜敏娜;郑玲辉;骆红英;白骅 -专利权人：浙江海正药业股份有限公司
申请日： 2014-09-11 - 公布日： 2018-01-09 - 主分类号： C07K5/103 文献下载
摘要：本发明涉及一种罗米地辛的新晶型O，它可以通过X‑射线粉末衍射(XRD)谱图，差示扫描量热(DSC)谱图，红外吸收(UV)谱图等来表征。同时，本发明还涉及该罗米地辛晶型O的制备方法和用途。
一种新晶型及其制备方法用途

[发明专利]一种钢中复合夹杂物原位加工及结构表征方法-CN201410747269.6在审
发明人：金传伟;吴园园;张珂;洪慧敏 -专利权人：江苏省沙钢钢铁研究院有限公司
申请日： 2014-12-09 - 公布日： 2015-03-25 - 主分类号： G01N23/22 文献下载
摘要：本发明涉及一种钢中复合夹杂物原位加工及结构表征方法，包括以下步骤：(1)利用聚焦离子束精确定位并原位制备出感兴趣复合夹杂物的透射电镜剖面样品；(2)通过透射电镜附件X射线能谱仪分析夹杂物的元素组成和元素面分布；(3)用透射电镜电子衍射技术获得夹杂物中各元素聚集区域低指数面的衍射谱图；(4)利用衍射谱图并结合夹杂物元素组成和面分布特点标定出各个衍射谱对应的物相。
一种复合夹杂原位加工结构表征方法

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