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[发明专利]受光量测量系统-CN201810343638.3在审
发明人：藤原由利;八田和洋 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2018-04-17 - 公布日： 2018-11-13 - 主分类号： G05D25/02 文献下载
摘要：本发明提供一种受光量测量系统。受光量测量系统(1)具备：第一受光传感器(110)，其能够安装于身体，用于获取第一受光量；以及控制部(121)，其从第一受光传感器(110)获取与第一受光量有关的信息。而且，在第一受光量为第一规定值以下的情况下，控制部(121)计算对该第一受光量为第一规定值以下的期间的第一受光量进行补充的补充信息，计算补充信息来作为由第一受光传感器(110)获取到的受光量。
受光量受光传感器受光量测量补充信息补充

[发明专利]光学式脂肪测量装置-CN200480000999.4无效
发明人：近藤和也;内田真司 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2004-06-10 - 公布日： 2005-11-23 - 主分类号： A61B5/107 文献下载
摘要：因污染而使光源或受光元件的灵敏度下降时，就会降低测量精度。在导光路14对着光源2和受光部3配置的状态下，将通过导光路14从发光的光源2向多个受光部3导光的受光量与预先对每个受光部3求得的受光量的基准值进行比较，在多个受光部3中，个数比多个受光部3的个数少的受光部的受光量小于该受光部对应的基准值的情况下，就进行要清洁该受光部的显示；在多个受光部3的所有受光部的受光量小于这些受光部对应的受光量的各个基准值的情况下，就进行要清洁光源2的显示。
光学脂肪测量装置

[发明专利]光学测量装置以及光学测量方法-CN201980058003.1在审
发明人：髙嶋润;金谷义宏 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2019-10-21 - 公布日： 2021-04-13 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：本发明自受光量分布信号获得测定波形信号。光学测量装置100包括：光源10，向对象物TA发出光；受光部40，以多个像素各自可检测受光量的方式构成，且获得每个像素的受光量分布信号；获取部51，基于不存在对象物TA时的受光量分布信号，自利用对象物TA所反射的反射光的受光量分布信号获取测量波形信号MS；以及调整部53，在反射光的受光量分布信号的一部分受光量为规定值以上时，以获取测量波形信号MS的方式，调整对于反射光的受光量分布信号的感度参数。
光学测量装置以及测量方法

[发明专利]距离传感器-CN201680025825.6有效
发明人：北村达矢;山本浩诚 -专利权人：株式会社村田制作所
申请日： 2016-02-18 - 公布日： 2020-08-25 - 主分类号： G01S17/10 文献下载
摘要：距离传感器具备光源部、受光部、控制部和距离信息生成部。光源部对对象物重复照射照射光。受光部从照射光的照射期间的开始起在给定时间之间接受光。控制部控制光源部以及受光部，使得同步于照射光的照射地累计受光部受光的受光量。距离信息生成部基于累计的受光量来生成表示到对象物的距离的距离信息。控制部对应于累计的受光量的大小来使受光部累计受光量的次数即累计次数变化。
距离传感器

[发明专利]累积受光量估计方法和装置、存储介质及健康管理系统-CN201810651615.9在审
发明人：藤原由利;野口公喜 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2018-06-22 - 公布日： 2019-01-15 - 主分类号： H05B37/02 文献下载
摘要：本发明提供累积受光量估计方法和装置、存储介质及健康管理系统。在累积受光量估计方法中，获取与终端设备(3)的位置信息及时间信息对应的日照量信息，基于包括位置信息的信号的电波接收强度，校正由日照量信息表示的日照量来计算校正受光量，使用校正受光量来计算终端设备(3)的受光量的累积值
受光量校正健康管理系统日照方法和装置存储介质量信息计算终端设备电波接收时间信息终端设备

[发明专利]多光轴光电传感器-CN200910253774.4有效
发明人：尾﨏一功;高原孝义 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2009-12-17 - 公布日： 2010-12-01 - 主分类号： G01D5/34 文献下载
摘要：使进行光轴调整作业的操作者能够易于把握是否能够进行使受光量高于当前的受光量的调整。在多光轴光电传感器中，一边依次点亮各发光元件(10)一边测量与点亮的发光元件(10)相对应的受光元件的受光量的处理每反复进行一个周期，就按各个光轴检测所得到的受光量中的最小值，并且检测过去检测出的最小受光量中的峰值另外，利用在投光器(1)以及受光器(2)的前面分别设置的多个显示灯(100)，显示基于最新的最小受光量以及峰值的具体的值的柱状图，或者显示用于表示最新的最小受光量相对峰值的比例的柱状图。该柱状图对应于峰值的更新或每时的最小受光量的值的变动发生变化。
光轴光电传感器

[发明专利]切削装置-CN201810493357.6有效
发明人：笠井刚史 -专利权人：株式会社迪思科
申请日： 2018-05-22 - 公布日： 2021-11-19 - 主分类号： B28D1/24 文献下载
摘要：刃尖检测单元具有刃尖检测功能，在切削刀具进入发光部和受光部之间的状态下，从发光部放射光，接受该光中的未被切削刀具遮蔽而到达受光部的光，根据该光的受光量，对切削刀具的刃尖的下端在切入进给方向上的位置进行检测，具有：受光量判定部，其在切削刀具未进入发光部和受光部之间的状态下，判定从发光部放射并到达受光部而被接受的光的受光量是否达到阈值；可否检测刃尖判定部，其在受光量判定部判定为光的受光量未达到阈值的情况下，对切削刀具在切入进给方向上的位置与到达受光部的光的受光量之间的关系进行检测，对刃尖检测单元是否能够发挥该刃尖检测功能进行判定。
切削装置

[发明专利]检测系统、检测装置以及检测方法-CN201710962196.6有效
发明人：安藤信太郎 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2017-10-17 - 公布日： 2022-01-07 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：检测系统(1)具有检测装置(200)和控制装置(150)，检测装置(200)具有：投光部(2022)，其向检测对象物投射光；受光部(2024)，其接收光的反射光；受光量取得部(204)，其取得由受光部接收到的受光量；以及距离取得部(206)，其取得对光进行反射的部位与检测装置之间的距离，控制装置(150)具有：设定部(1524)，其设定阈值范围，该阈值范围是受光量的阈值与距离的阈值的组合；检测部(1526)，其根据受光量是否属于阈值范围且距离是否属于阈值范围，对检测对象物进行检测；以及显示面(156)，其显示将由受光量取得部取得的受光量与由距离取得部取得的距离关联起来的对应信息。
检测系统装置以及方法

[发明专利]传感器以及传感器的阈值设定方法-CN201710961963.1有效
发明人：谷末光平 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2017-10-17 - 公布日： 2019-12-31 - 主分类号： G01V8/10 文献下载
摘要：提供了基于受光量与阈值的比较的物体检测精度高的传感器以及该传感器的阈值设定方法。光电传感器(1)是通过由受光部(104)接收来自投光部(103)的光而检测物体的传感器，以时间对所采样的受光量进行微分，从而计算每单位时间的受光量变化量，且将与该受光量变化量的极值对应的受光量设定为阈值这样，由于考虑每单位时间的受光量变化量来设定阈值，因此基于受光量与阈值的比较的物体检测精度变高，能够最小限度地抑制从光电传感器(1)至PLC(201)的检测信号的抖动。
受光量传感器阈值设定变化量光电传感器物体检测检测信号最小限度受光部投光部采样抖动检测

[发明专利]荧光量或吸光量的测定方法及测定装置-CN201010250354.3无效
发明人：田名网健雄;青木秀年;杉山由美子;下田聪一郎;兰宗树 -专利权人：横河电机株式会社
申请日： 2010-08-06 - 公布日： 2011-03-30 - 主分类号： G01J1/00 文献下载
摘要：本发明得到一种荧光量或吸光量的测定方法及测定装置，其将从试样产生的荧光量，作为“可溯源至国家标准的每单位面积的光量”而定量地测定。在荧光量测定方法中，向试样照射激励光，经由受光光学系统，利用受光元件测定从该试样产生的荧光，并具有下述步骤：向试样照射激励光的步骤，该激励光具有可溯源至国家标准且在试样表面的每单位面积上为预先指定的光量值；经由受光光学系统，利用受光元件测定从试样产生的荧光的步骤；以及基于每单位面积上的指定激励光量、受光光学系统的光学系数以及受光元件的受光系数，对由受光元件测定的荧光量进行运算，从而作为可溯源至国家标准的每单位面积的光量值而进行计算的步骤
荧光吸光量测定方法装置

[发明专利]拍摄装置及安装装置-CN201680089241.5有效
发明人：大木秀晃;大崎聪士;深谷芳行 -专利权人：株式会社富士
申请日： 2016-09-20 - 公布日： 2020-08-25 - 主分类号： H05K13/08 文献下载
摘要：零件相机(40)的拍摄控制部(52)在拍摄具有配线图案(95、96)和表面平坦的端子(93、94)的元件(90)时，以使落射受光量比侧射受光量小的方式在拍摄元件(90)时使落射用光源(44)及侧射用光源落射受光量指的是从落射用光源(44)发出且由元件(90)反射而被拍摄部(51)接收的光的光量。同样地，侧射受光量指的是从侧射用光源(47)发出且由元件(90)反射而被拍摄部(51)接收的光的光量。
拍摄装置安装

[发明专利]光电式分离型探测器及其光轴调整方法-CN201710413361.2有效
发明人：川添智由;青山裕司 -专利权人：能美防灾株式会社
申请日： 2013-03-29 - 公布日： 2020-03-20 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：本发明提供光电式分离型探测器及其光轴调整方法，不必使用计量仪器进行受光输出测量，就能容易地找到受光部的受光输出成为最大输出的光轴方向。所述光电式分离型探测器包括：发光元件(11)，配置于光轴调整机构部；受光元件(21)，接收发光元件投射的光线；以及控制器(12)，根据受光元件的受光量的变化来监视是否产生烟。在光轴调整模式中，控制器将发光量自动设定为最大并投射光线，并且确认受光量是否在第一阈值以上，接着将发光量自动设定为最小并投射光线，并且确认受光量是否在第二阈值以下，其中，所述第二阈值在所述第一阈值以下。
光电分离探测器及其光轴调整方法

[发明专利]距离图像生成装置以及距离图像生成方法-CN201880020158.1在审
发明人：永田太一;森圭一 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2018-03-27 - 公布日： 2019-11-12 - 主分类号： G01S7/483 文献下载
摘要：距离图像生成装置(10)具备：发光部(11)，朝向对象物发出脉冲光；受光部(12)，由在与脉冲光的发光期间建立了关联的曝光期间接受与脉冲光对应的反射光的多个受光元件构成；距离计算部(13)，基于由受光部(12)接受的反射光的光量，针对多个受光元件分别计算到对象物的距离，从而生成距离图像；以及光量调整部(14)，基于生成的距离图像，决定发光部(11)发出脉冲光的发光次数以及受光部(12)接受反射光的曝光次数，控制发光部(11)以及受光部(12)，以使得发光部(11)发出所决定的发光次数的脉冲光、并且受光部(12)接受所决定的曝光次数的反射光；距离计算部(13)基于由受光部(12)接受的曝光次数所对应的反射光的光量
受光部距离图像反射光脉冲光发光部距离计算部生成装置受光元件对象物光量曝光发光光量调整部发光期间计算距离曝光期间关联

[发明专利]光检测装置、光距离测量装置、以及计算机可读介质-CN202211189419.7在审
发明人：竹山庆;早川纯一朗;井口大介 -专利权人：富士胶片商业创新有限公司
申请日： 2022-09-28 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G01S17/48 文献下载
摘要：检测检测精度下降的光检测装置、光距离测量装置及计算机可读介质。光检测装置包括：发光部，照射关注区域；受光部，接收发光部所照射且由被检测物反射的反射光，具有被区分为多个受光区间的多个受光元件；及处理器，执行照射关注区域的整体的完全照射或/和输出整体的受光结果的完全受光、及照射关注区域的一部分的局部照射或/和依次输出一部分的一部分受光结果的局部受光，且基于受光部接收到的光，执行检测被检测物的物体检测处理，处理器执行间接光检测处理，基于各受光区间的发光部进行完全照射的情况下的受光量与发光部进行局部照射的情况下的受光量的差量，在发光部进行完全照射的情况下，对多个受光区间的至少一个接收到间接光进行检测。
检测装置距离测量以及计算机可读介质

[发明专利]光头及具有光头的光盘装置-CN200380101389.9有效
发明人：荒井昭浩 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2003-11-04 - 公布日： 2005-12-07 - 主分类号： G11B7/09 文献下载
摘要：光头包括：接收被轨道衍射的衍射光的0次成分和1次成分重叠的多个第1反射光束，生成与多个第1反射光束的光量对应的光量信号的多个受光区域，以及在多个受光区域之间存在、不接收只包含所述0次成分的第2反射光束的非受光区域的受光单元，对于连接多个受光区域之间的第1方向，多个受光区域的距离比非受光区域的宽度长的受光单元；根据光量信号，生成跟踪误差信号的跟踪误差信号生成单元。
光头具有光盘装置

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