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[发明专利]图像读取装置及图像形成装置-CN201410083394.1有效
发明人：清水孝亮 -专利权人：富士施乐株式会社
申请日： 2014-03-07 - 公布日： 2019-03-29 - 主分类号： H04N1/58 文献下载
摘要：本发明提供一种图像读取装置，其利用在经过读取位置的原稿的背面侧，在向讲来自灯的光的正反射光入射至受光元件的方向，倾斜地配置反射部件的结构，对尘埃等异物进行正确地检测。在读取位置没有原稿的状态下，使光源向反射部件照射比从在经过该读取位置的原稿读取图像时的照射光量低的光量的光，并使受光部对来自该反射部件的反射光进行受光，基于通过该受光得到的图像信号，对存在于读取位置的异物进行检测
图像读取装置形成

[发明专利]光器件封装体-CN201680002186.1在审
发明人：松丸幸平 -专利权人：株式会社藤仓
申请日： 2016-03-23 - 公布日： 2017-05-31 - 主分类号： G02F1/1333 文献下载
摘要：本发明提供光器件封装体。抑制因异物附着于光器件的受光部分或者异物在该受光部分上飘浮而引起的光器件的误动作或者受光量的降低。金属框架(31)具有至少一个朝LCOS元件(11)侧突出的突出部(34)。
器件封装

[发明专利]测距装置、信息处理方法及信息处理装置-CN202080043969.0在审
发明人：加藤弓子;稻田安寿;杉尾敏康;井口贺敬 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2020-07-21 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本发明的测距装置(100)具备：发光装置(110)，朝向场景出射光；受光装置(120)，包含至少1个受光元件，由所述至少1个受光元件检测通过所述光的出射而产生的来自所述场景的反射光；以及信号处理电路(160)，基于从所述受光装置输出的信号，按每个帧生成输出数据并输出，该输出数据包含表示所述场景中的多个点的位置或者距离的计测数据。所述输出数据包含：表示按每个所述帧决定的基准时刻的基准时刻数据、以及表示按每个所述点决定的与所述基准时刻的差量的时刻差量数据。根据本发明，易于将包含距离图像数据或者点群数据的数据综合。
测距装置信息处理方法

[发明专利]火焰检测系统以及受光量测定方法-CN202010155387.3有效
发明人：小沼骏;森雷太 -专利权人：阿自倍尔株式会社
申请日： 2020-03-09 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本发明算出将光传感器的正式放电以外的干扰成分排除后的受光量。本发明的火焰检测系统具备：光传感器(1)，其检测从光源(100)产生的光；外加电压生成电路(12)，其对光传感器(1)周期性地施加驱动脉冲电压；放电判定部(201)，其检测光传感器(1)的放电；放电概率算出部其分别针对光传感器(1)被遮光的第1状态和能够采光的第2状态，根据驱动脉冲电压的施加次数和该驱动脉冲电压的施加中由所述放电判定部(201)检测到的放电的次数来算出放电概率；灵敏度参数存储部(19)，其存储光传感器(1)的已知的灵敏度参数；以及受光量算出部(203)，其根据灵敏度参数、第1状态、第2状态时算出的放电概率来算出第2状态时的光传感器(1)的受光量。
火焰检测系统以及受光量测定方法

[发明专利]研磨装置及研磨方法-CN202180074331.8在审
发明人：谷泽昭寻;宫泽康之 -专利权人：株式会社荏原制作所
申请日： 2021-08-19 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： B24B49/10 文献下载
摘要：研磨装置(100)具备：传感器头(40)，该传感器头具有投光器、聚光器及受光器，该投光器投射入射光，该聚光器将从投光器投射的入射光聚光并射入基板，该受光器接收从基板反射的反射光；位移机构(60)，该位移机构使聚光器相对于基板相对位移，从而使聚光器与基板的距离变化；磨损量测定装置(70)，该磨损量测定装置测定研磨垫的磨损量；及控制装置(80)，控制装置基于光量参数，来测定基板的研磨状态，该光量参数是受光器所接收的反射光的光量的参数，并且所述控制装置基于磨损量测定装置所测定的研磨垫的磨损量来控制位移机构，以将聚光器与基板的距离维持在预设的基准距离。
研磨装置方法

[发明专利]侦测方法以及应用该侦测方法的光学装置-CN201510249910.8有效
发明人：陈志隆;颜智敏 -专利权人：高准精密工业股份有限公司
申请日： 2015-05-15 - 公布日： 2020-10-27 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：该光学装置包括结构光产生单元以及感应判断单元，结构光产生单元用以提供投射至一受测表面的一结构光(structure light)，且于结构光投射至受测表面时，受测表面上会呈现一受测图案(pattern)以及一受测光点；而感应判断单元用以感应受测表面上所呈现的受测图案以及受测光点，并依据所感应的受测图案的变形程度而判断受测表面是否平坦，以及依据所感应的受测光点的面积而获得受测表面与光学装置之间的距离。本发明的侦测方法用以侦测一受测表面是否平坦以及该受测表面的一距离。藉此，本发明可利用结构光对受测表面进行距离以及平坦度量测，以降低量测的复杂度。
侦测方法以及应用光学装置

[发明专利]光检测系统、放电概率算出方法以及受光量测定方法-CN202110190077.X在审
发明人：小沼骏;森雷太 -专利权人：阿自倍尔株式会社
申请日： 2021-02-18 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： G01J1/02 文献下载
摘要：即便在部分噪声成分的放电概率未知的情况下也能够算出受光量。本发明的光检测系统具备：放电概率算出部，针对使来自已知光量的光源的光入射至光传感器的第1状态、光源的点亮/熄灭与第1状态相同且施加至光传感器的驱动脉冲电压的脉冲宽度不同于第1状态的第2状态、光源的点亮/熄灭不同于第1状态、第2状态且脉冲宽度与第1状态相同的第3状态、光源的点亮/熄灭与第3状态相同且脉冲宽度与第2状态相同的第4状态算出放电概率；放电概率算出部，根据放电概率算出部算出的放电概率和脉冲宽度来算出光传感器的正规、非正规放电的放电概率；受光量算出部，根据放电概率算出部算出的放电概率和脉冲宽度来算出光传感器的受光量。
检测系统放电概率方法以及受光量测定

[发明专利]反射式编码器-CN201910147529.9在审
发明人：松添雄二;中山智晴;松本宽之 -专利权人：富士电机株式会社
申请日： 2019-02-27 - 公布日： 2019-09-24 - 主分类号： G01D5/347 文献下载
摘要：提供一种反射式编码器，其包括：刻度板，具有设置在第1表面上的多个图案；发光部，向所述刻度板照射光；多个受光元件，接收由所述刻度板的图案反射的反射光；及多个电平判定部，与所述多个受光元件连接，分别对从接收到所述反射光的所述多个受光元件中输出的多个信号的电平进行判定，并具有所述多个受光元件接收的反射光的光量越多越高的判定阈值。
受光元件反射光刻度板反射式编码器判定电平判定图案反射发光部照射光光量图案输出

[发明专利]光电传感器-CN201610885317.7有效
发明人：高宫知广;田中实 -专利权人：阿自倍尔株式会社
申请日： 2016-10-10 - 公布日： 2019-10-11 - 主分类号： G01S17/48 文献下载
摘要：本发明提供一种通过提高来自投光元件的光量，并且防止受光元件上的受光光斑尺寸变大来进一步提高性能的光电传感器。具备如下的透镜，该透镜被安装于投光元件(11)的、与投光透镜(12)相对的位置，且与通过投光透镜(12)的中心和受光透镜(13)的中心的直线垂直方向的曲率大于与通过投光透镜(12)的中心和受光透镜(13
光电传感器

[发明专利]成分测定装置、成分测定装置组以及信息处理方法-CN202180006541.3在审
发明人：相川亮桂 -专利权人：泰尔茂株式会社
申请日： 2021-01-15 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G01N21/78 文献下载
摘要：成分测定装置是具有用于供配置有与试样中的被测定成分反应的试剂的成分测定芯片插入的芯片插入空间，且具备：发光部，射出照射光；受光部，接收上述照射光，或者，上述照射光在上述成分测定芯片透过或者反射的光；以及控制部，使用上述受光部中的受光强度的实测值，测定上述试样中的被测定成分的成分测定装置，在上述成分测定芯片插入到上述芯片插入空间的情况下，上述控制部将从上述发光部射出的照射光的光量调整成为上述被测定成分的测定所使用的规定的光量
成分测定装置以及信息处理方法

[发明专利]测色装置及测色方法-CN201810547908.2有效
发明人：高桥直幸 -专利权人： JUKI株式会社
申请日： 2018-05-31 - 公布日： 2022-03-04 - 主分类号： G01J3/46 文献下载
摘要：在充分地得到受光量的测定定时进行受光而高精度地对测定对象的颜色进行测定。基于来自测定对象(W)的反射光对测定对象的颜色进行测定的测色装置(1)构成为，具有：光源(21)，其照射出光；旋转板(42)，其使多个干涉滤光器(45)绕转而对来自光源的光进行分光；受光传感器(38)，其对通过多个干涉滤光器分光得到的光进行受光；以及校正部，其基于受光传感器的光谱分布，将受光传感器的测定定时从理论值校正为得到光谱分布的峰值的实测值，在校正后的测定定时将来自测定对象的反射光由受光传感器进行受光
装置方法

[发明专利]光学扫描仪-CN202180066811.X在审
发明人：丰田雄一;別府太郎;守口智博;佐佐木光 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2021-09-16 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： H01Q3/26 文献下载
摘要：本发明的光学相控阵(3)构成为通过使用扫描用相位量分别独立地控制将从光源(2)供给的光分支而成的多个分支光的相位，并从具有多个天线元件的天线阵列放射，来实现光束的扫描。监视用受光部(6)构成为接受从光学相控阵放射的光。信号处理部(7)构成为根据监视用受光部中的检测结果来检测光束的特性，并生成用于修正扫描用相位量的相位调整量以使特性的检测值与预先准备的设计值一致。
光学扫描仪

[发明专利]折射能力测定装置-CN01802341.X无效
发明人：福间康文;柳英一 -专利权人：株式会社拓普康
申请日： 2001-08-13 - 公布日： 2003-01-01 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明的折射能力测定装置具备为测定空气中的软性隐形眼镜TL的光学特性值而使测量光P射向浸在液体12中的软性隐形眼镜TL的测量光学系统1;接受透过软性隐形眼镜TL的测量光P并输出受光信号的光敏传感器7;输入受光信号并根据受光信号计算光学特性值的运算电路13;在每个采样时间输入运算电路13的光学特性值所对应的光学特性值数据并根据该数据利用统计处理运算残差量而输出残差量信号的残差量运算电路14;将残差量信号延迟采样时间的延迟电路19;比较由延迟电路19延迟后的残差量信号与下一残差量信号并判断它们的残差量之差是否小于许可值的比较电路
折射能力测定装置

[发明专利]光学头及光信息介质驱动装置-CN200480011997.5无效
发明人：中田秀辉;富田浩稔;太田武志 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2004-10-22 - 公布日： 2006-06-07 - 主分类号： G11B7/135 文献下载
摘要：本发明所提供的光学头，包括半导体激光器(2)、分离半导体激光器(2)发射出的光束并发射出第1光束和第2光束的光束分离元件(8)、接收上述光束分离元件(8)发出的第1光束并将其聚光到光信息记录介质的物镜、接收上述光束分离元件(8)发出的第2光束的受光元件(36)，根据射入上述受光元件(36)的光量调整上述光源的发射光量的演算电路。其中，发射上述第2光束的上述光束分离元件(8)的出射面与接收上述第2光束的受光元件(36)的入射面由粘合剂(40)粘合。这样，在追求光学头的大幅小型化的同时，还可以实现更高精度和灵敏度的光量调整。
光学信息介质驱动装置

[实用新型]光伏系统-CN201820991601.7有效
发明人：黄东梅;彭丽霞;许涛 -专利权人：洛阳阿特斯光伏科技有限公司
申请日： 2018-06-26 - 公布日： 2019-02-15 - 主分类号： H02S40/22 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种光伏系统，所述光伏系统包括：第一光伏组件及支撑所述第一光伏组件的第一支撑组件，所述第一光伏组件包括背向设置的第一受光面及第一背光面；所述光伏系统还包括具有反光面的反光组件，所述反光面用于将接收到的光线反射至所述第一受光面本实用新型的光伏系统，在光伏组件受光面相对的位置设置反光组件，增强光伏组件受光面的受光量，提升光电转换率。
光伏系统光伏组件受光面本实用新型反光组件光电转换率背向设置光线反射支撑组件背光面反光面受光量反光受光支撑