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[发明专利]发光装置、光学装置以及信息处理装置-CN201980094339.3有效
发明人：近藤崇;大野健一;井口大介;白川佳则;崎田智明;大塚勤 -专利权人：富士胶片商业创新有限公司
申请日： 2019-12-09 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： H01L31/12 文献下载
摘要：该发光装置具备：第一发光元件阵列，其包含以第一间隔配置的多个第一发光元件；第二发光元件阵列，其包含以比第一间隔宽的第二间隔配置的多个第二发光元件，构成为输出比第一发光元件阵列的光输出高的光输出，并构成为独立于第一发光元件阵列而被驱动；以及光扩散部件，其设置在第二发光元件阵列的射出路径上。
发光装置光学以及信息处理

[发明专利]发光装置及测量装置-CN202180093628.9在审
发明人： 井口大介 -专利权人：富士胶片商业创新有限公司
申请日： 2021-07-27 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： H01S5/042 文献下载
摘要：发光装置在同一基材上具备：发光元件；开关元件，其与所述发光元件的一个电极串联连接，并且驱动所述发光元件；电容元件，其与所述发光元件并联连接，并且将被充电的电荷放电至所述发光元件；及电阻元件，其设置于所述电容元件与对所述电容元件进行充电的电源之间。
发光装置测量

[发明专利]检测装置、检测程序、存储介质、检测方法及发光装置-CN202180093255.5在审
发明人： 井口大介;近藤崇;崎田智明 -专利权人：富士胶片商业创新有限公司
申请日： 2021-07-16 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01S7/484 文献下载
摘要：本发明的检测装置(1)具备：发光元件阵列(20)，其具备多个发光元件；受光元件阵列，其具备多个受光元件(5)，所述受光元件接收从所述发光元件阵列向检测对象物发射的光的反射光；驱动部(50)，其驱动所述发光元件；以及检测部(8)，其控制向发光的所述发光元件供给驱动电流的供给定时及所述受光元件的受光定时中的至少一方，以便即使发光的发光元件的配置发生变化，也使从发光的发光元件开始发光至所述受光元件的受光定时为止的时间的变化在预定范围内，并检测检测对象物。
检测装置程序存储介质方法发光

[发明专利]发光装置以及测量装置-CN202310007025.3在审
发明人：竹山庆;井口大介;大野诚治;崎田智明;近藤崇;早川纯一朗 -专利权人：富士胶片商业创新有限公司;富士胶片株式会社
申请日： 2023-01-03 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： H01S5/0683 文献下载
摘要：本发明提供一种发光装置以及测量装置。发光装置包括：发光部，具有发光元件；电容部，与所述发光部连接；以及控制部，在所述发光部中的所述发光元件的发光时控制所述电容部的电位。
发光装置以及测量

[发明专利]光检测装置、光距离测量装置、以及计算机可读介质-CN202211189419.7在审
发明人：竹山庆;早川纯一朗;井口大介 -专利权人：富士胶片商业创新有限公司
申请日： 2022-09-28 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G01S17/48 文献下载
摘要：检测检测精度下降的光检测装置、光距离测量装置及计算机可读介质。光检测装置包括：发光部，照射关注区域；受光部，接收发光部所照射且由被检测物反射的反射光，具有被区分为多个受光区间的多个受光元件；及处理器，执行照射关注区域的整体的完全照射或/和输出整体的受光结果的完全受光、及照射关注区域的一部分的局部照射或/和依次输出一部分的一部分受光结果的局部受光，且基于受光部接收到的光，执行检测被检测物的物体检测处理，处理器执行间接光检测处理，基于各受光区间的发光部进行完全照射的情况下的受光量与发光部进行局部照射的情况下的受光量的差量，在发光部进行完全照射的情况下，对多个受光区间的至少一个接收到间接光进行检测。
检测装置距离测量以及计算机可读介质

[发明专利]距离测定装置、存储介质及距离测定方法-CN202211178554.1在审
发明人：早川纯一朗;崎田智明;竹山庆;井口大介;近藤崇;山本喜博 -专利权人：富士胶片商业创新有限公司
申请日： 2022-09-26 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G01S17/48 文献下载
摘要：一种距离测定装置、存储介质及距离测定方法，所述距离测定装置包括：发光部，具备多个发光元件，且能够在多个区域独立地驱动；受光部，具备多个受光元件，所述多个受光元件接收从所述发光部向对象物发射的光的反射光；整形部，使在所述受光部上产生在所述反射光的受光相邻的所述区域中重叠的重叠部；测定部，根据所述受光部接收到的波形与所述发光部的波形之差，测定到所述对象物为止的距离；及校正部，使用由所述测定部测定的所述重叠部中的距离测定值，校正所述反射光的相邻的所述区域之间的距离差。
距离测定装置存储介质方法

[发明专利]发光装置、发光器件以及测量装置-CN202310000996.5在审
发明人： 井口大介 -专利权人：富士胶片商业创新有限公司
申请日： 2023-01-03 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： H01S5/042 文献下载
摘要：本发明提供发光装置、发光器件以及测量装置。发光装置具备：发光部，其包含发光元件；驱动部，其具备与设置于所述发光元件的阴极侧的阴极电极连接的第一元件，并供给产生发光的电流而进行驱动；以及电容部，在设置于所述发光元件的阳极侧的阳极电极与所述阴极电极之间，该电容部与产生发光的电流路径并联设置。
发光装置器件以及测量

[发明专利]发光装置及检测装置-CN202210284332.1在审
发明人： 井口大介 -专利权人：富士胶片商业创新有限公司
申请日： 2022-03-22 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： H01S5/0232 文献下载
摘要：一种发光装置及检测装置，所述发光装置，其特征在于，具备：基板，设置有产生谐振的谐振电路的至少一部分；及发光元件，当被供给所述谐振电路中的电流时发光，所述基板具有设置于所述谐振电路中并蓄积电荷的蓄电层，在所述谐振电路中未设置厚度大于所述蓄电层的厚度并蓄积电荷的蓄电元件。
发光装置检测

[发明专利]发光装置及检测装置-CN202210278403.7在审
发明人： 井口大介 -专利权人：富士胶片商业创新有限公司
申请日： 2022-03-21 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： H05B47/10 文献下载
摘要：一种发光装置及检测装置，所述发光装置具备：谐振电路，设置有蓄积电荷的蓄电单元并产生谐振；发光元件，当被供给所述谐振电路中的电流时发光；及第1切换单元，与向所述蓄电单元供给电荷的电源与所述谐振电路之间的电路连接，并切换为使从该电源到该谐振电路为止的电路导通的导通状态和不导通的非导通状态。
发光装置检测

[发明专利]发光装置以及测量装置-CN202111037714.6在审
发明人：近藤崇;大野诚治;井口大介;崎田智明 -专利权人：富士胶片商业创新有限公司
申请日： 2021-09-06 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： H01S5/026 文献下载
摘要：本发明提供发光装置以及测量装置。发光装置具备：发光部，其包含具有晶闸管的功能的发光元件；发光用电极，其为了发光而对所述发光部施加第1电压；以及发光许可晶闸管，其利用比所述第1电压低、且与该第1电压无关地设定的第2电压，许可所述发光元件发光。
发光装置以及测量

[发明专利]发光装置和计测装置-CN202111047099.7在审
发明人：近藤崇;大野诚治;井口大介;崎田智明 -专利权人：富士胶片商业创新有限公司
申请日： 2021-09-07 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： H01S5/026 文献下载
摘要：提供发光装置和计测装置。发光装置具有：多个发光部；驱动部，其向所述发光部供给电流并对该发光部进行驱动；以及切换部，其设置在相对于多个所述发光部而与所述驱动部相反的一侧，对多个该发光部的发光进行切换。
发光装置

[发明专利]发光装置、传热构件以及光测量装置-CN202111042998.8在审
发明人： 井口大介 -专利权人：富士胶片商业创新有限公司
申请日： 2021-09-07 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： H01S5/024 文献下载
摘要：本发明提供一种发光装置、传热构件以及光测量装置。该发光装置具备：基材；电极，其配置于所述基材的表面，其自身的表面上配置有发光元件，并与该发光元件电连接；连接部，其配置在所述基材的表面上的与所述电极分离的位置上，与具有基准电位的导电部连接；以及传热构件，其具有沿着所述基材的表面形成且与所述电极的表面和所述连接部的表面接触的接触面，并且从所述电极向所述连接部传热。
发光装置传热构件以及测量

[发明专利]检测装置、存储检测程序的存储介质以及光学装置-CN202111062794.0在审
发明人： 井口大介;近藤崇;崎田智明 -专利权人：富士胶片商业创新有限公司
申请日： 2021-09-10 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本发明提供一种检测装置、存储检测程序的存储介质以及光学装置。一种检测装置，其具备：发光元件阵列，其具备多个发光元件；受光元件阵列，其具备多个接收从所述发光元件阵列对检测对象物发出的光的反射光的受光元件；驱动部，其选择性地驱动多个所述发光元件；以及检测部，其使所述发光元件发光，并使由所述受光元件接收到的光的受光量中的、与小于预先设定的阈值的受光量的第一受光元件对应的第一发光元件发光，来检测所述检测对象物。
检测装置存储程序介质以及光学

[发明专利]发光装置、光学装置、测量装置以及信息处理装置-CN202011207870.8在审
发明人： 井口大介;崎田智明 -专利权人：富士胶片商业创新有限公司
申请日： 2020-11-03 - 公布日： 2021-10-15 - 主分类号： G01S17/894 文献下载
摘要：本发明提供一种发光装置、光学装置、测量装置以及信息处理装置，与通过多个驱动部来分别驱动多个激光元件阵列的情况相比较，缩短发光的上升时间。发光装置包括：多个驱动部；多个激光元件阵列，分别连接于多个所述驱动部；以及连接配线，在多个所述激光元件阵列间，将所述激光元件阵列的连接于所述驱动部的端子予以连接。
发光装置光学测量以及信息处理

[发明专利]发光装置、光学装置、计测装置及信息处理装置-CN202011237785.6在审
发明人： 井口大介;逆井一宏;皆见健史 -专利权人：富士胶片商业创新有限公司
申请日： 2020-11-09 - 公布日： 2021-09-28 - 主分类号： H01S5/026 文献下载
摘要：本发明提供发光装置、光学装置、计测装置及信息处理装置。发光装置具备平面形状为四边形的激光元件阵列、供给使所述激光元件阵列发光的电流的1对电容器、以及将使所述激光元件阵列发光的电流导通/截止而进行驱动的驱动部，在所述激光元件阵列的对置的2个边侧，夹着该激光元件阵列而配置有1对所述电容器，在该激光元件阵列的另一边侧配置有所述驱动部。
发光装置光学信息处理

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