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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

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B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]光测距装置-CN201980053271.4在审
发明人：尾崎宪幸;清野光宏;木村祯祐;柏田真司 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2019-08-02 - 公布日： 2021-03-26 - 主分类号： G01S7/484 文献下载
摘要：本发明涉及光测距装置。光测距装置(10)具备：光源部(20)，对测定范围照射照射光；受光部(30)，具有受光面(32)，上述受光面(32)具有能够接受与照射光的照射对应的来自包含测定范围的范围的反射光的多个受光要素，上述受光部(30)按每个受光要素输出与反射光的受光状态对应的信号；以及测定部(40)，使用从受光部输出的信号来测定到测定范围中的物体的距离。而且，受光部具有通过选择输出信号的受光要素来使接受反射光的受光位置可变的功能，并针对反射光的位置，将受光位置向多个位置变更。
测距装置

[发明专利]光学式位置检测装置以及带输入功能的显示系统-CN201210222315.1有效
发明人：大西康宪;高桥正辉 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2012-06-28 - 公布日： 2013-01-02 - 主分类号： G01S3/783 文献下载
摘要：本发明涉及光学式位置检测装置以及带输入功能的显示系统。在光学式位置检测装置中从光源部射出检测光时，受光部利用第1受光元件以及第2受光元件接受来自对象物体的反射光。对于第1受光元件以及第2受光元件而言，第1受光元件的受光面的法线方向与第2受光元件的受光面的法线方向的交叉角度被设定为超过90°且不到180°的值。
光学位置检测装置以及输入功能显示系统

[发明专利]光学式位置检测装置及带有位置检测功能的设备-CN201110225341.5无效
发明人：清濑摄内 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2011-08-03 - 公布日： 2012-03-14 - 主分类号： G06F3/042 文献下载
摘要：本发明提供一种光学式位置检测装置及带有位置检测功能的设备，该光学式位置检测装置基于使光源部点亮时的受光部的受光结果来检测对象物体的位置。在光学单元的外壳的前侧外壳部分，构成有默认光生成用反射部，该默认光生成用反射部在不存在对象物体的状态下，也会使默认光射入受光部。因此，可以基于默认光的受光结果，对光源部中的驱动电流与受光部的受光强度的关系恰当地进行初始设定。
光学位置检测装置带有功能设备

[发明专利]光学式位置检测装置以及带位置检测功能的设备-CN201110415425.5无效
发明人：大西康宪 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2011-12-13 - 公布日： 2012-07-04 - 主分类号： G06F3/042 文献下载
摘要：本发明涉及光学式位置检测装置以及带位置检测功能的设备。该光学式位置检测装置用于检测对象物体的位置，具有：射出检测光的多个检测用光源；驱动该多个检测用光源的光源驱动部；第一受光部，其接受由位于上述检测光的出射空间的上述对象物体反射的上述检测光；补偿用光源部，其射出不向上述出射空间入射的补偿光；第二受光部，其不接受上述检测光而接受上述补偿光；以及位置检测部，其根据上述第一受光部中的受光强度与上述第二受光部中的受光强度之差来检测上述对象物体的位置。
光学位置检测装置以及功能设备

[发明专利]光拾取装置-CN201080052638.X无效
发明人：堀田彻;川崎良一 -专利权人：三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社
申请日： 2010-11-18 - 公布日： 2012-09-12 - 主分类号： G11B7/09 文献下载
摘要：本发明提供一种光拾取装置，其能够对由设在双波长激光二极管上的第1激光元件与第2激光元件之间的位置偏移为起因而产生的、设于光检测器的受光部的位置偏移进行修正。其中，该光拾取装置具有光检测器，该光检测器在同一个半导体基板上形成有供自第1光盘的信号记录层反射的返回光照射的第1受光部和供自第2光盘的信号记录层反射的返回光照射的第2受光部（8D），利用第1受光部调整上述光检测器的固定位置，并且在第2受光部（8D）上形成有用于对第1受光部与第2受光部（8D）的位置偏移进行电修正的位置偏移修正用受光部。
拾取装置

[发明专利]车辆位置推定装置-CN202111230086.3在审
发明人：林勇介;河内太一;阿部真之 -专利权人：丰田自动车株式会社
申请日： 2021-10-19 - 公布日： 2022-05-03 - 主分类号： G01S17/06 文献下载
摘要：本公开涉及车辆位置推定装置。推定本车辆的位置的车辆位置推定装置(100)具备：激光照射部(11)，其照射激光；受光元件(12)，其能够接收激光的反射光和作为激光以外的光的环境光的反射光，对所接收到的各个反射光的强度进行检测；以及自身位置推定部(21)，其基于由受光元件(12)接收到的激光的反射光的受光结果和环境光的反射光的受光结果来推定本车辆的位置。
车辆位置推定装置

[发明专利]光学式测距传感器和电子仪器-CN200910162934.4有效
发明人：山口阳史;久保胜;福岛稔彦 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2009-08-20 - 公布日： 2010-02-24 - 主分类号： G01B11/14 文献下载
摘要：一种光学式测距传感器，具备：与发光元件设置在同一平面上的受光元件(2)。受光元件(2)包括：受光部(21)，其具有多个单元(21A)且把从发光元件(1)发出而由被测定物反射的光进行聚光；闪存部(25)，其记忆受光部(21)中的规定位置；信号处理电路部(22)，其根据由多个单元(21A)得到的所述光的检测结果来检测受光部(21)中所述光的聚光位置，而且根据闪存部(25)记忆的规定位置与受光部(21)中所述光的聚光位置的相对关系来计测距测定物的距离。
光学测距传感器电子仪器

[发明专利]光学式位置检测装置以及带有输入功能的显示系统-CN201210035485.9无效
发明人：清濑摄内 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2012-02-16 - 公布日： 2012-09-19 - 主分类号： G06F3/042 文献下载
摘要：一种光学式位置检测装置以及带有输入功能的显示系统，光学式位置检测装置的检测对象空间被分割为：基于第一受光发光单元以及第二受光发光单元的检测对象空间；以及基于第三受光发光单元以及第四受光发光单元的检测对象空间第一受光发光单元与第四受光发光单元在X轴方向分离，第二受光发光单元以及第三受光发光单元被配置于Y轴方向的一侧。第一受光发光单元以及第四受光发光单元被配置在X轴方向比第二受光发光单元以及第三受光发光单元靠外侧。
光学位置检测装置以及带有输入功能显示系统

[发明专利]位置检测方法及位置检测装置-CN200310119981.3有效
发明人：岡山喜彦 -专利权人：株式会社山武
申请日： 2003-11-28 - 公布日： 2004-06-16 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种能根据菲涅耳衍射产生的受光面上的光强度分布高精度地进行位置检测的边缘检测方法及装置。利用双曲正弦函数sech(x)来近似在单色平行光的菲涅耳衍射产生的线状传感器的受光面上光强度分布的最初上升部分的光强度变化，用该双曲正弦函数解析线状传感器各受光元件的受光强度。特别是分别求出将基准受光强度[0.25]夹在当中的受光强度的受光元件，在上述各受光元件的受光面上根据近似光强度分布的双曲正弦函数，计算成为该受光强度的受光位置。然后，根据上述受光位置，通过插补运算求出成为基准受光强度的位置，作为前述遮挡物的边缘位置。
位置检测方法装置

[发明专利]位置测量装置-CN200310101585.8有效
发明人：大友文夫;大佛一毅;林邦广 -专利权人：株式会社拓普康
申请日： 2003-10-17 - 公布日： 2004-05-19 - 主分类号： G01S17/06 文献下载
摘要：本发明揭示一种对测量目标的受光装置进行扫描用的位置测量装置，特别是能够旋转照射测距光或追尾光以进行受光位置的三维测量、并进一步将该数据向目标上设置的受光装置进行数据传送的自动位置检测装置，光源部分发出测量光，受光部分接受反射光，扫描装置沿扫描方向射出测量光、同时将反射光引向受光部分，角度检测器检测扫描装置的旋转位置，测量光包含呈扇形展开的测距光，能够利用其反射光测量到反射体的距离。
位置测量装置

[发明专利]固体摄像元件及其制造方法-CN200610139610.5有效
发明人：栗原正彰;阿部真;铃木胜敏 -专利权人：大日本印刷株式会社
申请日： 2006-09-26 - 公布日： 2007-04-04 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本发明主要目的在于提供一种由于具有多个像素共有结构，因此即使是受光元件的中心位置和微透镜的中心位置俯视来看不一致时，也能够效率良好地进行聚光的固体摄像元件。本发明的固体摄像元件至少具备：接收被摄体光并变换为光信号的受光元件；用于提高对上述受光元件的聚光率的微透镜；和进行由上述受光元件C产生的光信号的读出的信号读出电路，由于具有多个上述受光元件共用一个上述信号读出电路的多个像素共有结构，因此上述受光元件的中心位置和上述微透镜的中心位置俯视来看不一致，其特征在于，具有最大膜厚位置与中心位置不同的微透镜，对于平行光的上述微透镜的聚光位置为上述受光元件上。
固体摄像元件及其制造方法

[发明专利]受光装置以及距离测定装置-CN201911270128.9在审
发明人：久保田宽;松本展 -专利权人：株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
申请日： 2019-12-12 - 公布日： 2020-09-29 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：实施方式涉及受光装置以及距离测定装置。实施方式的受光装置具备受光部。所述受光部具备多个像素，该多个像素在第1方向以及作为与所述第1方向交叉的方向的第2方向上配置成阵列状，能够根据接收到的光的强度来输出信号。所述多个像素分别具备1个或者多个受光元件。所述受光部具有由多个连续的所述像素构成的受光区域，根据表示所述第1方向上的所述受光区域的位置以及所述第2方向上的所述受光区域的位置的信号来指定所述受光部中的所述受光区域。
装置以及距离测定

[发明专利]光计测装置和探针支架套件-CN202180023550.3在审
发明人：堀彩夏;中村伸 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2021-03-01 - 公布日： 2022-11-18 - 主分类号： A61B10/00 文献下载
摘要：该光计测装置(100)的探针单元(30)包括：基座构件(31)、送光探针(32)、受光探针(33)、多个销构件(34)以及探针位置保持部(38a)，该探针位置保持部(38a)将送光探针和受光探针保持为，使送光探针和受光探针各自的顶端(32a、33a)位于比多个销构件的顶端(34a)远离头部表面(91)的远离位置(P1)，并且能够解除该探针位置保持部对送光探针和受光探针的位置保持状态。
光计测装置探针支架套件

[发明专利]受光透镜的配置方法及光学位移传感器-CN201180015367.5无效
发明人：山川健太;一柳星文 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2011-03-24 - 公布日： 2012-12-19 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：光学位移传感器（10）具有：投光模块（9）；受光元件（13），其用于接收来自投光模块（9）的光被测定对象物（16）反射的反射光；受光透镜（14），其位于测定对象物（16）和受光元件（13）之间，用于将反射光成像在受光元件光在测定对象物（16）上的反射位置，在投光模块（9）的光轴（L1）上位于从离光源（11）近的第一位置（PN1）到离光源（11）远的第二位置（PF1）为止的规定的范围（W1）内。而且，以使从第一位置（PN1）入射至受光透镜（14）的反射光的入射角（θ1）与从第二位置（PF1）入射至受光透镜（14）的反射光的入射角（θ2）变为相同角度的方式配置受光透镜（14）。
透镜配置方法光学位移传感器

[实用新型]传感器-CN202220304950.3有效
发明人：张禹;伏红玉;何竞春 -专利权人：欧姆龙（上海）有限公司
申请日： 2022-02-15 - 公布日： 2022-07-05 - 主分类号： G01D11/00 文献下载
摘要：所述传感器包括：发光部，其发射光；受光部，其包括：受光透镜，其对从检出位置反射的反射光进行汇聚；受光元件，其接收经过所述受光透镜的反射光；以及透镜调节部，其调整所述受光透镜的位置以改变所述检出位置，其中，所述检出位置和所述传感器之间的检出距离与所述透镜调节部的调节位置之间的关系为线性关系。
传感器

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