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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]距离计测装置-CN201810047330.4有效
发明人：久保田宽;松本展;太田裕;佐藤早纪 -专利权人：株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
申请日： 2018-01-18 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本发明提供即使提高镜的旋转速度也能够稳定地进行距离计测的距离计测装置。实施方式的距离计测装置具备光源、照射光学系统、受光光学系统、传感器、提取部、调整部、信号生成部和距离计测部。光源间歇性地发出激光。照射光学系统经由镜向计测对象进行照射。受光光学系统经由镜接收激光的反射光。传感器具有将反射光转换为电气信号的多个受光元件。提取部提取在与计测对象物之间的距离计测中使用的受光元件。调整部以与提取部提取出的受光元件对应的放大率，对受光元件的电气信号的信号值进行调整。信号生成部生成时间序列性测定用信号。距离计测部基于激光的发光定时与时间序列性测定用信号的信号值的峰值位置的定时之间的时间差，对距离进行计测。
距离装置

[发明专利]图像处理装置、图像处理方法以及距离测量系统-CN201910147861.5有效
发明人：久保田宽;松本展 -专利权人：株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
申请日： 2019-02-28 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G01S7/487 文献下载
摘要：实施方式涉及图像处理装置、图像处理方法以及距离测量系统。实施方式的图像处理装置具备信息取得电路和可靠度生成电路。信息取得电路取得将测定距离作为像素值的二维的距离图像以及与和二维的距离图像中的每个像素的测定距离对应的信号值相关的信号信息。可靠度生成电路针对二维的距离图像的每个像素，将各像素作为中心像素，生成基于在距中心像素规定范围内的像素中具有与中心像素的距离值在规定范围内的距离值的像素的信息和与中心像素对应的信号值的可靠度。
图像处理装置方法以及距离测量系统

[发明专利]距离计测装置-CN201810042530.0有效
发明人：久保田宽;福岛知纪;松本展;佐藤早纪 -专利权人：株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
申请日： 2018-01-17 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本发明的实施方式提供一种距离计测装置，能够降低噪声的影响且稳定地进行距离计测。本实施方式所涉及的距离计测装置具备权重值生成部、累计信号生成部以及距离计测部。权重值生成部基于将向第1照射方向照射的激光的反射光数字化而得到的第1数字信号、与将向与第1照射方向不同的第2照射方向照射的激光的反射光数字化而得到的第2数字信号之间的类似性，生成第2数字信号的权重值。累计信号生成部在第1数字信号上累计以权重值对第2数字信号进行加权而得到的信号，而生成第3数字信号。距离计测部基于激光的照射定时与第3数字信号中的峰值位置的定时之间的时间差，对到对象物为止的距离进行计测。
距离装置

[发明专利]距离计测装置-CN201810053142.2有效
发明人：久保田宽;松本展;佐藤早纪;福岛知纪 -专利权人：株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
申请日： 2018-01-19 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G01S17/10 文献下载
摘要：实施方式提供能够高精度地判断检测的光是正规的反射光还是干扰光的距离计测装置。实施方式的距离计测装置具备：出射部，间歇地出射光；以及计测部，基于从上述出射部出射光开始到由被测定物反射后得到的反射光返回为止的时间，计测到上述被测定物的距离。上述出射部每规定周期延迟随机的时间长的偏移的量地出射光。而且，上述计测部使每上述规定周期的光的多个检测信号错开各自的上述偏移的量后进行分时累计而生成累计检测信号，基于上述累计检测信号，判断上述检测信号中的光是否是从上述出射部出射并由上述被测定物反射后得到的反射光。
距离装置

[发明专利]光检测装置及光检测测距装置-CN201811274233.5有效
发明人：国分弘一;松本展 -专利权人：株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
申请日： 2018-10-30 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： H01L31/107 文献下载
摘要：本公开提供光检测效率高的光检测装置。光检测装置具备：设置于半导体基板的第1主表面上的第1导电型的硅层；第1半导体层，设置于所述硅层内，是第1导电型，杂质浓度比所述硅层的杂质浓度高；第2半导体层，设置于所述第1半导体层上，是第2导电型，与所述第1半导体层形成pn边界；第3半导体层，设置于所述硅层内，是第1导电型，杂质浓度比所述硅层的杂质浓度高，与所述第1半导体层分隔开；连接于所述硅层的第1电极；以及连接于所述第2半导体层的第2电极。
检测装置测距

[发明专利]光检测器和距离测定装置-CN202010060883.0在审
发明人：久保田宽;松本展 -专利权人：株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
申请日： 2020-01-19 - 公布日： 2021-03-19 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本发明涉及光检测器和距离测定装置。实施方式的光检测器具有多个通道，所述通道具有多个包括雪崩光电二极管的SPAD单元；所述光检测器能选择所述通道的输出/非输出；SPAD单元具有进行所述雪崩光电二极管的主动淬灭的主动淬灭电路、以及使与选择了非输出的所述通道相对应的所述主动淬灭电路成为工作状态的控制部。
检测器距离测定装置

[发明专利]距离测量装置以及距离测量方法-CN202010724144.7在审
发明人：久保田宽;松本展 -专利权人：株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
申请日： 2020-07-24 - 公布日： 2021-02-02 - 主分类号： G01S17/14 文献下载
摘要：实施方式涉及距离测量装置以及距离测量方法。实施方式的距离测量装置处理根据与激光的反射光相应的传感器输出而生成的第1时间序列亮度信号，其中，所述距离测量装置具备测量信号生成电路和测量处理电路。测量信号生成电路生成第3时间序列亮度信号，该第3时间序列亮度信号是从所述第1时间序列亮度信号减去与基于激光的来自测定对象物外的反射光相应的第2时间序列亮度信号而得到的。测量处理电路根据第3时间序列亮度信号，生成距测定对象物的距离值。
距离测量装置以及测量方法

[发明专利]传感器以及距离测量装置-CN201910686095.X在审
发明人：久保田宽;松本展 -专利权人：株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
申请日： 2019-07-29 - 公布日： 2020-10-20 - 主分类号： G01S17/10 文献下载
摘要：实施方式提供一种即使在入射了大光量的光时也会稳定地进行动作的传感器以及距离测量装置，该距离测量装置具备该传感器。实施方式的传感器具有雪崩光电二极管、第一淬灭电阻、第二电阻和整流元件。第一淬灭电阻的一端连接于对应的雪崩光电二极管的电流输出端子，另一端连接于输出端子。第二电阻相对于对应的第一淬灭电阻并联连接。整流元件连接于对应的第二电阻与特定的电位之间。
传感器以及距离测量装置

[发明专利]传感器以及距离测量装置-CN201910686114.9在审
发明人：久保田宽;松本展 -专利权人：株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
申请日： 2019-07-29 - 公布日： 2020-10-13 - 主分类号： G01S17/10 文献下载
摘要：实施方式提供一种即使在入射了大光量的光时也稳定地进行动作的传感器以及距离测量装置，该距离测量装置具备该传感器。实施方式的传感器具有第一雪崩光电二极管、第一淬灭元件、第二雪崩光电二极管和第二淬灭元件。第一淬灭元件的一端连接于各个第一雪崩光电二极管的电流输出端子，另一端连接于输出端子。第二雪崩光电二极管以与第一雪崩光电二极管相邻的方式配置。第二淬灭元件的一端连接于各个所述第二雪崩光电二极管的电流输出端子，另一端连接于特定的电位。
传感器以及距离测量装置

[发明专利]光检测器以及距离测定装置-CN201911408134.6在审
发明人：久保田宽;松本展 -专利权人：株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
申请日： 2019-12-31 - 公布日： 2020-10-13 - 主分类号： G01S17/10 文献下载
摘要：实施方式涉及光检测器以及距离测定装置。一个实施方式的光检测器具备：第1群和第2群，形成于基板上的第1区域，各自包含多个光检测元件；第1选择累计电路，构成为选择上述第1群内的上述多个光检测元件中的多个第1光检测元件，并累计来自上述多个第1光检测元件的输出；以及第2选择累计电路，构成为选择上述第2群内的上述多个光检测元件中的多个第2光检测元件，并累计来自上述多个第2光检测元件的输出。上述第1选择累计电路和上述第2选择累计电路形成于在上述基板上的上述第1区域之外与上述第1区域沿第1方向排列的第2区域，上述第1群和上述第2群沿与上述第1方向交叉的第2方向排列。
检测器以及距离测定装置

[发明专利]距离测量装置、距离测量方法以及信号处理方法-CN202010003630.X在审
发明人：久保田宽;松本展 -专利权人：株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
申请日： 2020-01-03 - 公布日： 2020-10-13 - 主分类号： G01S17/10 文献下载
摘要：本实施方式涉及距离测量装置、距离测量方法以及信号处理方法。根据本实施方式，距离测量装置是对基于针对每个帧向多个规定方向依次照射的激光的反射光的各时间序列亮度信号进行处理的信号处理装置，具备存储电路和选择电路，其中，各时间序列亮度信号是按照时间序列所取得的每个帧的时间序列亮度信号。存储电路存储根据第1帧的时间序列亮度信号得到的距离值的信息。选择电路从第1帧之后的第2帧中的时间序列亮度信号中的波峰中，选择基于距离值的波峰作为距离值的候选。
距离测量装置测量方法以及信号处理方法

[发明专利]受光装置以及距离测定装置-CN201911270128.9在审
发明人：久保田宽;松本展 -专利权人：株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
申请日： 2019-12-12 - 公布日： 2020-09-29 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：实施方式涉及受光装置以及距离测定装置。实施方式的受光装置具备受光部。所述受光部具备多个像素，该多个像素在第1方向以及作为与所述第1方向交叉的方向的第2方向上配置成阵列状，能够根据接收到的光的强度来输出信号。所述多个像素分别具备1个或者多个受光元件。所述受光部具有由多个连续的所述像素构成的受光区域，根据表示所述第1方向上的所述受光区域的位置以及所述第2方向上的所述受光区域的位置的信号来指定所述受光部中的所述受光区域。
装置以及距离测定

[发明专利]距离测量装置及距离测量方法-CN201910021293.4在审
发明人：久保田宽;松本展 -专利权人：株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
申请日： 2019-01-10 - 公布日： 2020-03-24 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本发明公开距离测量装置以及距离测量方法。本实施方式所涉及的距离测量装置具有时刻取得电路和距离测量电路。时刻取得电路取得对激光的反射光进行信号化而得到的测量信号达到第一阈值的上升时刻和在达到第一阈值后测量信号达到第二阈值的下降时刻。距离测量电路根据基于第一时刻以及第二时刻的时刻与激光的照射时刻的时间差，测量距对象物的距离，所述第一时刻是对上升时刻用第一权重系数进行加权而得到的，所述第二时刻是对下降时刻用第二权重系数进行加权而得到的。
距离测量装置测量方法

[发明专利]排错装置及排错方法-CN02148251.9有效
发明人： 松本展;三浦貴 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2002-10-31 - 公布日： 2003-12-24 - 主分类号： G06F9/00 文献下载
摘要：本发明提供一种排错(debug)装置及排错方法。在第1存储装置存储多个程序码。各程序码具有识别符。第2存储装置至少具有一个存储区域，在该存储区域存储在第1存储装置存储的多个程序码中的被执行的程序码。第1变数存储区域保持在第2存储装置存储的程序码的识别符。控制部在命令的内容与第1变数区域的内容一致的情况下使其中断。
装置方法

[发明专利]开发片上系统用的开发环境的生成方法及存储该程序的媒体-CN02148248.9无效
发明人： 松本展;大山隆一郎;内田勝也 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2002-10-31 - 公布日： 2003-11-05 - 主分类号： G06F9/00 文献下载
摘要：本发明揭示一种开发片上系统用的开发环境的生成方法及存储该程序的媒体。片上系统开发环境生成方法包含根据配置指定文件构筑编译程序的编译程序定制单元、构筑汇编程序的汇编程序定制单元及构筑仿真程序的仿真程序生成单元，配置指定文件包含指定的执行指令的硬件。
开发系统环境生成方法存储程序媒体

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