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[发明专利]对象物检测装置-CN201910125378.7在审
发明人：安藤惠都;宫崎秀德;一柳星文;藤原直树;山本和夫 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2019-02-20 - 公布日： 2019-08-27 - 主分类号： G01S17/93 文献下载
摘要：本公开涉及对象物检测装置，该对象物检测装置在车辆前面的预定范围内投射测量光，接收来自对象物的反射光，并且基于根据光接收状态输出的光接收信号来检测对象物或到对象物的距离。光投射单元包括发射测量光的发光元件和光扩散构件。光扩散构件设置在构成光投射路径一部分的光投射透镜的上端部和下端部上，并且在使从发光元件发射且行进通过光行进路径在竖直方向上的端部的测量光透过的同时，沿竖直方向扩散该测量光。
对象物检测测量光光扩散构件发光元件对象物光投射竖直透镜光接收信号光投射单元发射测量检测对象行进路径状态输出反射光光接收上端部下端部投射行进扩散发射

[发明专利]对象物检测装置-CN201910106660.0在审
发明人：大谷直辉;一柳星文 -专利权人：欧姆龙汽车电子株式会社
申请日： 2019-02-02 - 公布日： 2019-08-13 - 主分类号： G01S17/88 文献下载
摘要：对象物检测装置。一种对象物检测装置，其包括：光学扫描器，该光学扫描器包括反射镜和壳体。对象物检测装置还包括遮光部，该遮光部被配置成将壳体分隔成投射光行进的光投射空间和反射光行进的光接收空间并且被配置成阻挡光。反射镜具有反射投射光的第一反射区和反射反射光的第二反射区，第一反射区和第二反射区位于同一反射表面中。遮光部包括：可动遮光部，该可动遮光部以分隔第一反射区和第二反射区的方式设置在反射镜上，并且被配置成可与反射镜一起移动；和固定遮光部，该固定遮光部以包围可动遮光部的方式固定到壳体。
遮光部反射区反射镜对象物检测可动光学扫描器反射光投射光壳体反射配置行进反射表面方式设置检测装置壳体分隔装置对象光接收光投射分隔阻挡包围移动

[发明专利]目标对象物检测装置-CN201910103273.1在审
发明人：横田求;驹谷政男;一柳星文 -专利权人：欧姆龙汽车电子株式会社
申请日： 2019-02-01 - 公布日： 2019-08-13 - 主分类号： G01S17/93 文献下载
摘要：一种目标对象物检测装置，包括：投射单元；光接收单元；对象物检测单元；距离测量单元；以及区域设置单元，该区域设置单元设置近距离检测区域和远距离检测区域。对象物检测单元基于由距离测量单元执行的测量的结果来检测路径的变化状态。区域设置单元基于由对象物检测单元检测到的路径的变化状态来设置近距离检测区域和远距离检测区域。测量光的投射距离越长，则测量光的扩散角越小，并且远距离检测区域中的目标对象物的检测灵敏度比近距离检测区域中的目标对象物的检测灵敏度高。
目标对象物区域设置单元对象物检测近距离检测远距离检测距离测量单元检测灵敏度变化状态检测装置测量光光接收单元单元检测投射单元投射距离扩散角测量检测

[发明专利]对象物检测设备-CN201810965784.X在审
发明人： 一柳星文;宫崎秀德 -专利权人：欧姆龙汽车电子株式会社
申请日： 2018-08-23 - 公布日： 2019-03-05 - 主分类号： G01S17/93 文献下载
摘要：对象物检测设备。在投射光被旋转扫描单元的反射镜的第一反射面反射的第一扫描期间内，使得发光元件顺序发光，使得与处于发光状态的发光元件对应的受光元件顺序接收反射光，并且由信号选择单元顺序地选择从处于受光状态的受光元件输出的受光信号。在投射光被镜的第二反射面反射的第二扫描期间内，使得发光元件中的特定发光元件关于规定时段发射光，使得受光元件顺序地接收反射光，并且顺序地选择从处于受光状态的受光元件输出的受光信号。
受光元件发光元件对象物检测设备扫描期间受光信号受光状态反射面投射光反射发光元件顺序接收反射光单元顺序发光状态顺序接收信号选择旋转扫描输出发射光反射光反射镜发光

[发明专利]对象物检测设备-CN201810869276.1在审
发明人： 一柳星文 -专利权人：欧姆龙汽车电子株式会社
申请日： 2018-08-02 - 公布日： 2019-02-26 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：一种对象物检测设备包括：发光单元；受光单元；对象物检测单元；明暗判定单元，该明暗判定单元判定明或暗的环境状态；信号放大单元，该信号放大单元设置受光信号的放大率，并且使得受光信号以与放大率对应的电平从受光单元输出；以及放大控制单元，该放大控制单元控制受光信号的放大率。放大控制单元使得在明暗判定单元判定环境状态为暗的情况下的受光信号的放大率高于在明暗判定单元判定环境状态为明的情况下的受光信号的放大率。
受光信号放大率判定单元明暗放大控制环境状态对象物检测设备信号放大单元判定受光单元对象物检测单元控制发光单元输出

[发明专利]测距装置-CN201810605888.X在审
发明人： 一柳星文 -专利权人：欧姆龙汽车电子株式会社
申请日： 2018-06-13 - 公布日： 2018-12-25 - 主分类号： G01S17/93 文献下载
摘要：测距装置。一种测距装置包括：光发射器，发射光脉冲；光接收器，接收光脉冲被对象物反射的反射光；比较器，比较来自光接收器的输出信号与阈值，并且在输出信号大于该阈值时输出预定信号；以及距离计算器，当比较器输出预定信号时检测反射光的接收时刻，并且基于接收时刻和光脉冲的照射时刻来计算到对象物的距离。测距装置还包括：最大值检测器，在非光接收时段期间检测来自光接收器的输出信号的最大值；以及阈值设定单元，基于最大值在非光接收时段内设定阈值。
测距装置光接收器输出信号接收时刻预定信号对象物反射光光接收脉冲最大值检测器阈值设定单元比较器输出距离计算器光发射器比较器发射光光脉冲接收光阈值时检测反射照射输出

[发明专利]扫描式距离测量设备-CN201810004151.2在审
发明人：横田求;一柳星文 -专利权人：欧姆龙汽车电子株式会社
申请日： 2018-01-03 - 公布日： 2018-07-17 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：一种扫描式距离测量设备包括：光投射器，该光投射器以预定间隔投射激光束；光接收器，该光接收器包括光接收元件，接收由光投射器投射的激光束的反射束，并且输出反射束的光接收强度信号；扫描操作单元，该扫描操作单元投射由光投射器投射的激光束，以执行扫描；累加器，该累加器在光接收器接收与以预定间隔投射的激光束对应的反射束时，针对各光接收元件累加由光接收器输出的时序光接收强度信号；以及距离计算器，该距离计算器基于累加器执行的累加，针对各光接收元件计算到对象的距离。累加器累加从一个光接收元件输出的一个光接收强度信号，并且累加从另一个光接收元件输出的一个光接收强度信号。
光接收元件投射光接收器光投射器强度信号累加光接收激光束累加器反射输出距离测量设备距离计算器扫描操作预定间隔扫描式时序扫描

[发明专利]物体检测装置-CN201711314195.7在审
发明人：大谷直辉;板尾大助;横田求;一柳星文 -专利权人：欧姆龙汽车电子株式会社
申请日： 2017-12-12 - 公布日： 2018-06-26 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：物体检测装置。一种物体检测装置包括：发光部；受光部；旋转扫描部，该旋转扫描部具有反射镜，并且通过使反射镜旋转使来自发光部的光从反射镜反射，以在预定范围内扫描反射光，并且使对象物所反射的光从反射镜反射，以将反射光引导到受光部；物体检测部，该物体检测部基于光接收信号来检测是否存在对象物；导光部，该导光部向受光部引导来自发光部的光；以及故障检测部，该故障检测部基于发光部的光发射状态和由受光部的光接收状态来检测是否存在故障。导光部接收从发光部发射且从反射镜反射的光，并且使光从反射镜反射，以将反射光引导到受光部。
发光部受光部反射镜反射物体检测装置导光部反射光故障检测部物体检测部旋转扫描对象物反射镜光接收信号光发射光接收检测反射扫描发射

[发明专利]物体检测装置-CN201711224273.4在审
发明人：大谷直辉;宫崎秀德;一柳星文 -专利权人：欧姆龙汽车电子株式会社
申请日： 2017-11-29 - 公布日： 2018-06-12 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本发明涉及物体检测装置。该物体检测装置包括：第一基板，其上带有激光二极管；第二基板，其上带有光电二极管；保持构件，其保持所述第一基板和所述第二基板；光偏转器，其将从LD投射的光偏转以用偏转光照射目标物，并且将被所述目标物反射的光偏转；以及反射镜，其将被所述光偏转器偏转过的反射光导向PD。所述LD安装在所述第一基板的安装表面上，以将光主要在与所述安装表面平行的方向上投射。所述PD安装在所述第二基板的安装表面上，以接收主要来自与所述安装表面垂直的方向上的光。所述保持构件将所述第一基板和所述第二基板平行地保持，使得垂直于所述安装表面投影的所述第一基板和所述第二基板的投影面彼此交叠。
安装表面第二基板第一基板物体检测装置偏转保持构件光偏转器光偏转目标物投射平行光电二极管激光二极管垂直的反射光反射镜光照射投影面交叠反射投影垂直

[发明专利]投射光学系统和物体检测装置-CN201710938314.X在审
发明人：横田求;一柳星文;宫崎秀德;安木秀之 -专利权人：欧姆龙汽车电子株式会社
申请日： 2017-09-30 - 公布日： 2018-04-10 - 主分类号： G01S17/42 文献下载
摘要：本申请涉及投射光学系统和物体检测装置。具体地，一种投射光学系统包括激光二极管；激光二极管模块，该激光二极管模块具有一行排列的多个激光二极管；光投射镜头，该光投射镜头调节从各激光二极管发出的光的展开；以及光偏转器，该光偏转器使通过光投射镜头后的光偏转，并把偏转后的光照射至对象物。激光二极管发光，使得光在第一方向上以第一角度展开，并且在第二方向上以第二角度展开，第二角度比第一角度宽，并且第二方向与第一方向垂直。激光二极管模块被布置为使得其排列方向与第一方向一致，并且激光二极管模块沿着第二方向放置，且在第一方向上彼此错开。光投射镜头被布置为与激光二极管模块对应。
投射光学系统物体检测装置

[发明专利]传感器装置-CN201280030225.0在审
发明人：松原纯一;权藤清彦;糟谷诚;一柳星文;驹井和齐;村上翼 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2012-10-30 - 公布日： 2014-03-05 - 主分类号： H01H9/18 文献下载
摘要：一种传感器装置1，在组装有信号处理电路的壳体10上设置有能够显示数值以及文字的显示部100和分别设定有不同种类的功能的多个开关SW1～SW5，在该传感器装置1的各开关SW1～SW5的上表面上分别标记有不同形态的符号。尤其，在使显示部100所显示的数值向变大的方向变化的上升开关SW2和使显示的数值向变小的方向变化的下降开关SW3上分别标记有能够联想到开关的功能的符号。另一方面，在其它开关SW1、SW4、SW5上标记有不能联想到更新数值的功能的符号。
传感器装置

[发明专利]光学位移传感器的调整方法及光学位移传感器的制造方法-CN201180015365.6有效
发明人：山川健太;一柳星文 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2011-03-24 - 公布日： 2012-12-19 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：在具有规定的光学系统的光学位移传感器（10）中，调整规定的光学系统使得满足交线条件。规定的光学系统具有：投光模块（9），其用于将光照射至测定对象物（16）；受光元件（13），其用于接收来自投光模块（9）的光被测定对象物（16）反射的反射光；受光透镜（14），其位于测定对象物（16）和受光元件（13）之间，用于将反射光成像在受光元件（13）上。在调整方法中，仅使受光透镜（14）在受光透镜（14）的光轴方向（Z1方向）以及与受光透镜（14）的光轴方向垂直的方向（X1方向）上移动，由此进行调整。
光学位移传感器调整方法制造

[发明专利]受光透镜的配置方法及光学位移传感器-CN201180015367.5无效
发明人：山川健太;一柳星文 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2011-03-24 - 公布日： 2012-12-19 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：光学位移传感器（10）具有：投光模块（9）；受光元件（13），其用于接收来自投光模块（9）的光被测定对象物（16）反射的反射光；受光透镜（14），其位于测定对象物（16）和受光元件（13）之间，用于将反射光成像在受光元件（13）上。光在测定对象物（16）上的反射位置，在投光模块（9）的光轴（L1）上位于从离光源（11）近的第一位置（PN1）到离光源（11）远的第二位置（PF1）为止的规定的范围（W1）内。而且，以使从第一位置（PN1）入射至受光透镜（14）的反射光的入射角（θ1）与从第二位置（PF1）入射至受光透镜（14）的反射光的入射角（θ2）变为相同角度的方式配置受光透镜（14）。
透镜配置方法光学位移传感器

[发明专利]投射光束的调整方法-CN201180015451.7无效
发明人：山川健太;一柳星文 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2011-03-24 - 公布日： 2012-12-12 - 主分类号： G01C3/00 文献下载
摘要：采用向甫鲁光学系统的光学位移传感器（10）具有：投光模块（9），其用于将光照射至测定对象物；受光部（13），其利用受光面来接收来自投光模块（9）的光被测定对象物反射的反射光；受光透镜（14），其位于测定对象物和受光部（13）之间，用于将反射光成像在受光面上。在投射光束的调整方法中，调整从光源（11）发出的光的焦点位置，使得受光部（13）上的像的尺寸不受用于构成投光模块（9）的投光透镜（12）和测定对象物之间的距离的影响而恒定不变。
投射光束调整方法

[发明专利]位移传感器-CN201180005285.2有效
发明人：泷政宏章;饭田雄介;中村英义;一柳星文 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2011-03-17 - 公布日： 2012-10-03 - 主分类号： G01C3/00 文献下载
摘要：作为表示使位移传感器（1）动作的条件的参数而输入响应时间的目标值以及检测误差的允许值中的至少一个值，来进行利用工件的模型的示教处理。示教处理时的CPU（110），一边反复通过投光部（101）以及受光部（102）进行检测处理一边决定最大曝光时间，并且算出位移量的测量数据的差量，通过利用最大曝光时间以及测量数据的差量的运算处理，导出与被输入的参数的值相匹配的移动平均值运算的数据数量。将该数据数量记录在存储器（111）中，并在通常的动作模式下的移动平均值运算中使用。
位移传感器

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