专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种单晶的停冷却系统-CN201420279262.1有效
  • 施承启;张永超;汤波 - 上海卡姆丹克太阳能科技有限公司;卡姆丹克太阳能(江苏)有限公司
  • 2014-05-28 - 2014-11-26 - C30B29/06
  • 本实用新型涉及一种单晶的停冷却系统,包括单晶、过滤器、真空泵,三者顺序连接,单晶的排气口设置排气口阀门A,过滤器上设置放气阀B,真空泵的入口设置电磁阀C;排气口阀门A、放气阀B、电磁阀C与统一的控制系统信号连接单晶拉晶结束,关闭排气口阀门A,氩气或氮气继续冲入单晶;关闭真空泵,同时关闭电磁阀C;当单晶内压力接近1个大气压时,自动开启放气阀B;当单晶内压力略大于1个大气压时,自动开启排气口阀门A,单晶通过放气阀本实用新型使得气体热对流效果大大加强,单晶的冷却时间缩短20%以上;同时大大降低了单晶生产的耗能程度,具有节能减排的技术效果。
  • 一种单晶炉冷却系统
  • [发明专利]单晶提拉方法和单晶提拉装置-CN202080077251.3在审
  • 成松真吾 - 环球晶圆日本股份有限公司
  • 2020-10-20 - 2022-06-07 - C30B27/02
  • 本发明提供单晶提拉方法和单晶提拉装置,所述单晶提拉方法是在通过直拉法从熔融液中提拉硅单晶时,在肩部形成、且在产品部前半形成中,向熔融液中高效地添加掺杂剂而不会产生有位错化,可得到低电阻率的单晶。所述方法具备以下工序:形成惰性气体流(G)的工序,该惰性气体流在配置成包围在内培育的硅单晶(C)的隔热板(7)的内侧从上方朝向熔液面(M1)流动,同时沿着上述熔液面放射状地扩展,向上述坩埚外排气;在上述内使掺杂剂变成气态的工序;将已变成气态的掺杂剂排放到上述隔热板的内侧的工序;以及使上述已变成气态的掺杂剂搭乘上述惰性气体流而流动的工序。
  • 单晶提拉方法装置
  • [发明专利]一种抛光片的源极漏电改善工艺-CN202310457710.6在审
  • 张帅;梁兴勃;卢飞红;许峰;卢锋;刘建刚 - 金瑞泓微电子(嘉兴)有限公司
  • 2023-04-26 - 2023-08-08 - H01L21/324
  • 本发明涉及一种抛光片的源极漏电改善工艺,包括以下步骤:步骤一:第一步高温处理,将抛光片放入高温内,将温度升高到1100~1250℃的进行热处理,热处理时间为140~160分钟,并确保高温内充满氮气和氧气,形成氮气和氧气的混合环境;步骤二:第二步高温处理,将高温内温度降低到650~720℃,并保证热处理时间为100~130分钟,停止输送氧气,确保内部为氮气环境;步骤三:第三步高温处理,将高温内温度升高至到720~850℃,并保证热处理时间为145~155分钟,确保内部始终为氮气环境;步骤四:保持氮气环境,并等待抛光片冷却,之后进行清洗。本发明降低抛光片单晶氧含量,改善使用该抛光片进行芯片制造过程中器件源极漏电的问题。
  • 一种抛光漏源极漏电改善工艺
  • [发明专利]单晶二次加料漏斗装置-CN201210017096.3无效
  • 吴学军;周凯平 - 宁夏日晶新能源装备股份有限公司
  • 2012-01-19 - 2013-07-24 - C30B15/02
  • 本发明的单晶二次加料漏斗装置属于冶金系统单晶冶炼装置,特别涉及单晶冶炼加料时二次加料漏斗装置;拉杆通过安装在漏斗上端的定位孔安装在漏斗内,底盖套装在拉杆上并由螺母定位在拉杆下端,拉杆上端连接籽晶绳;活动法兰固定套装在漏斗外侧壁上;漏斗由活动法兰挂装在单晶壳体内;单晶壳体内漏斗下部安装石英坩埚;漏斗上部为圆柱状,下部为圆锥状,粒状料装在漏斗内;可根据颗粒状料的加料量和炉体的高低,随时调节它与漏斗的定位,使得拉杆可以自由移动,不会受料的挤压而无法上下移动提高了坩埚的利用率,降低了晶棒成长的时间,节约了成本。
  • 单晶炉二次加料漏斗装置
  • [实用新型]单晶二次加料漏斗装置-CN201220025212.1有效
  • 吴学军;周凯平 - 宁夏日晶新能源装备股份有限公司
  • 2012-01-19 - 2012-09-26 - C30B15/02
  • 本实用新型单晶二次加料漏斗装置属于冶金系统单晶冶炼装置,特别涉及单晶冶炼加料时二次加料漏斗装置;拉杆通过安装在漏斗上端的定位孔安装在漏斗内,底盖套装在拉杆上并由螺母定位在拉杆下端,拉杆上端连接籽晶绳;活动法兰固定套装在漏斗外侧壁上;漏斗由活动法兰挂装在单晶壳体内;单晶壳体内漏斗下部安装石英坩埚;漏斗上部为圆柱状,下部为圆锥状,粒状料装在漏斗内;可根据颗粒状料的加料量和炉体的高低,随时调节它与漏斗的定位,使得拉杆可以自由移动,不会受料的挤压而无法上下移动提高了坩埚的利用率,降低了晶棒成长的时间,节约了成本。
  • 单晶炉二次加料漏斗装置
  • [实用新型]单晶谐波滤波补偿装置-CN201020155230.2无效
  • 刘玉艳 - 刘玉艳
  • 2010-04-02 - 2010-12-22 - H02J3/01
  • 本实用新型涉及一种单晶谐波滤波补偿装置,旨在提高单晶的滤波补偿效果。该单晶谐波滤波补偿装置包括电抗器、电容器,电抗器与电容器组成滤波电路,滤除单晶工作过程中产生的谐波。其中单晶谐波滤波补偿装置还包括可控控制单元,该可控控制单元连接在三相电源的电压线与滤波电路之间,控制滤波电路的接通。本实用新型通过可控控制单元SK1的控制,使得滤波电路可以实现动态地与三相电源开/断,进一步提高了滤波效果。而且,还可以实时监测滤波电路的滤波补偿情况,避免了过补偿的现象发生。
  • 单晶炉谐波滤波补偿装置
  • [发明专利]一种单晶抽气孔堵塞的处理方法-CN201110202469.X无效
  • 徐建军;钱荣林 - 浙江荣马电子科技有限公司
  • 2011-07-15 - 2011-11-23 - C30B15/00
  • 本发明涉及一种单晶抽气孔堵塞的处理方法,当等晶过程中出现抽气孔堵塞时,采取以下步骤排除抽气孔处的沉积物:A、降下单晶内温度至的结晶温度。B、关闭单晶主室的电磁球阀;C、将单晶内的气体压力从600~800帕升至8万~9.5万帕,然后关闭进气口;D、敲打抽气管或使之震动,使沉积物松动,打开单晶主室的电磁球阀,使堵塞在抽气孔中的沉积物被气流冲走;E、打开进气口,重新调节单晶内的气体压力至600~800帕,同时升高单晶内温度至的溶点温度。采用本发明方法,可以在不停的情况下直接排除抽气孔处的粉尘、氧化物和其它杂质等沉积物,减少了能耗,提高了成品率和生产效率。
  • 一种单晶炉抽气孔堵塞处理方法

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