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[发明专利]功率测试电路-CN201110203619.9无效
发明人：付迎宾;葛婷;潘亚军 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2011-07-20 - 公布日： 2013-01-23 - 主分类号： G01R21/06 文献下载
摘要：一种功率测试电路，用于测试中央处理器和内存储器的功率，该功率测试电路包括一第一开关单元、一第二开关单元、一显示单元和一处理模块，该处理模块与该中央处理器、该内存储器、该显示单元以及该第一和第二开关单元连上述功率测试电路通过该处理模块自动测试该中央处理的功率或该内存储器的功率，效率高且误差小。
功率测试电路

[实用新型]一种汽车启动电源测试系统-CN202121020256.0有效
发明人：何世友 -专利权人：深圳市倍思科技有限公司
申请日： 2021-05-13 - 公布日： 2021-12-14 - 主分类号： G01R31/40 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种汽车启动电源测试系统，连接汽车的启动电源。汽车启动电源测试系统包括主控电路、测试模组、电压检测电路、电流检测电路、功率开关电路、功率驱动电路以及供电电路；电压检测电路分别连接启动电源和主控电路，功率开关电路设置在启动电源和测试模组之间，功率驱动电路分别连接功率开关电路和主控电路，电流检测电路分别连接主控电路和测试模组；测试模组包括测试功率电阻和设置有汽车电机的汽车电机测试模组。本实用新型将大功率电阻和汽车电机结合，构建测试电路，模拟汽车电机运行时的电路变化，低成本实现汽车启动电源的大功率测试，并且具有较高的测试水平。
一种汽车启动电源测试系统

[实用新型]一种反偏测试电路和测试装置-CN202220295527.1有效
发明人：徐维 -专利权人：南通尚阳通集成电路有限公司
申请日： 2022-02-14 - 公布日： 2022-08-12 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本申请适用于电子器件测试领域，提供了一种反偏测试电路和测试装置，所述反偏测试电路包括第一测试电路、第二测试电路和开关单元；所述第一测试电路与智能功率模块连接，用于对所述智能功率模块中的上组IGBT进行反偏测试；所述第二测试电路与所述智能功率模块连接，用于对所述智能功率模块中的下组IGBT进行反偏测试；所述开关单元分别与所述第一测试电路和所述第二测试电路连接，用于将所述反偏测试电路切换到所述第一测试电路或所述第二测试电路所述反偏测试电路对智能功率模块内部的IGBT进行反偏测试，可以解决传统IGBT模块的高温反偏测试方案无法满足智能功率模块的反偏测试要求的问题。
一种测试电路装置

[发明专利]测试设备及其校准方法、微波大功率限幅器的测试方法-CN202211370863.9在审
发明人：杨阳;马涛;蒋福生;徐海飞;沈涛 -专利权人：四川九洲电器集团有限责任公司
申请日： 2022-11-03 - 公布日： 2023-01-06 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及功率限幅器测试技术领域，公开了一种测试设备及其校准方法、微波大功率限幅器测试方法，包括电源电路、频率源电路、脉冲调制电路、功放电路、耦合电路、数字控制与显示电路、功率检测电路A和功率检测电路B，所述频率源电路的其中一个输出端依次通过所述脉冲调制电路、功放电路与所述耦合电路连接，所述频率源电路的另一个输出端与所述耦合电路连接；所述耦合电路的输出端通过所述功率检测电路A与大功率限幅器连接，所述大功率限幅器的输出端与所述功率检测电路B连接，所述功率检测电路B将检波信号B输出给所述数字控制与显示电路。通过设计的测试设备能够同时测试大功率限幅器的所有测试指标。
测试设备及其校准方法微波大功率限幅器

[实用新型]射频参数测试电路-CN202220424380.1有效
发明人：伍泳钢;邹金强 -专利权人：成都航拓航空科技有限公司
申请日： 2022-02-28 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： H04B17/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及无线射频技术领域，涉及一种射频参数测试电路，包括功率衰减电路、功分器电路、频率测试电路、功率测试电路和调制信号参数测试电路；待测信号经过功率衰减电路后输入功分器电路，输出第一射频信号、第二射频信号和第三射频信号；第一射频信号输入至频率测试电路，频率测试电路用于对第一射频信号进行幅度调理、分频处理和差分LVPECL信号到LVTTL信号的转换，然后输出LVTTL电平信号用于计算频率；第二射频信号输入至功率测试电路，功率测试电路用于对第二射频信号进行功率检波、缓冲隔离，输出直流电压用于计算功率；第三射频信号输入至调制信号参数测试电路，输出中频信号，中频信号经滤波放大处理后输出用于参数分析。
射频参数测试电路

[发明专利]一种功率器件的辐照测试电路及系统-CN202210103350.5在审
发明人：王春林;高见头;张刚;赵发展 -专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日： 2022-01-27 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请公开一种功率器件的辐照测试电路及系统，涉及电子器件测试技术领域，能够实现功率器件的原位测试，可以提高测试精度。功率器件的辐照测试电路，包括：功率器件；测试源表，用于向处于辐照环境中的所述功率器件提供电压激励，以及测试所述功率器件在所述电压激励下的电流值；电性测试电路，用于测试所述功率器件在辐照环境中的电学性能。
一种功率器件辐照测试电路系统

[发明专利]功率器件雪崩耐量测试系统及测试方法-CN202010331303.7在审
发明人：依志强;李强 -专利权人：吉林华微电子股份有限公司
申请日： 2020-04-24 - 公布日： 2020-07-07 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本申请提供一种功率器件雪崩耐量测试系统及测试方法，涉及半导体器件测试技术领域。所述系统包括功率器件测试电路、电信号采集电路、雪崩耐量计算子系统及为所述待测试功率器件提供可调工作环境温度的环境温度控制子系统。电信号采集电路与功率器件测试电路中的待测试功率器件连接。雪崩耐量计算子系统与电信号采集电路连接，用于根据电信号采集电路采集的压降及电流计算得到待测试功率器件发生二次击穿所需的雪崩耐量。如此，通过改变待测试功率器件的工作环境温度，对不同工作环境温度下待测试功率器件的雪崩耐量的进行测试，以便对待测试功率器件的雪崩耐量进行比对和分析。
功率器件雪崩测试系统方法

[实用新型]功率器件雪崩耐量测试系统-CN202020633991.8有效
发明人：依志强;李强 -专利权人：吉林华微电子股份有限公司
申请日： 2020-04-24 - 公布日： 2020-12-15 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本申请提供一种功率器件雪崩耐量测试系统，涉及半导体器件测试技术领域。所述系统包括功率器件测试电路、电信号采集电路、雪崩耐量计算子系统及为所述待测试功率器件提供可调工作环境温度的环境温度控制子系统。电信号采集电路与功率器件测试电路中的待测试功率器件连接。雪崩耐量计算子系统与电信号采集电路连接，用于根据电信号采集电路采集的压降及电流计算得到待测试功率器件发生二次击穿所需的雪崩耐量。如此，通过改变待测试功率器件的工作环境温度，对不同工作环境温度下待测试功率器件的雪崩耐量的进行测试，以便对待测试功率器件的雪崩耐量进行比对和分析。
功率器件雪崩测试系统

[发明专利]一种芯片供电电路测试结构及测试方法、测试系统-CN202111593441.3在审
发明人：张腾;杨晓君;柳胜杰;袁飞;李晶晶 -专利权人：海光信息技术股份有限公司
申请日： 2021-12-20 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种芯片供电电路测试结构及测试方法、测试系统，测试结构包括转接板、功率负载板和控制板。转接板与待测芯片供电电路插接连接。功率负载板与转接板插接连接，待测芯片供电电路通过转接板将待测信号传输至功率负载板；功率负载板上设置有功率器件和采集电路。控制板与功率负载板电连接，控制板上设置有驱动控制电路和接收处理电路。驱动控制电路用于产生驱动控制信号，该驱动控制信号用于控制功率负载板根据待测信号进行工作。接收处理电路与采集电路电连接，以接收采集电路所采集的待测信号，并对信号进行处理。提升测试负载功率和动态抽电流性能，减小测试工具的体积。
一种芯片供电电路测试结构方法系统

[实用新型]一种BCD测试工装-CN201921890145.8有效
发明人：王新军;毛明刚 -专利权人：青岛永捷精密电子有限公司
申请日： 2019-11-05 - 公布日： 2020-08-18 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种BCD测试工装，包括支架、电源、冰箱LOGO LED电路测试模块、恒压恒流电源电路测试模块和功率测试仪。所述电源、冰箱LOGO LED电路测试模块、恒压恒流电源电路测试模块、功率测试仪设于支架上。所述电源通过导线与冰箱LOGO电路测试模块、恒压恒流电源电路测试模块和功率测试仪相连。所述支架上设置有显示屏。所述显示屏通过导线与电源、冰箱LOGO电路测试模块、恒压恒流电源电路测试模块和功率测试仪相连。本实用新型可同步检测BCD电路板的冰箱LOGO LED电路工作情况、电压电流和功率信息，并在显示屏上显示出来，从而及时挑出有质量缺陷的BCD电路板，防止不良品出厂，大大提高工作效率，提高BCD板的成品率
一种 bcd 测试工装

[发明专利]一种半导体器件电参数测试装置、测试方法、介质及设备-CN202211410641.5有效
发明人：何嘉辉 -专利权人：佛山市联动科技股份有限公司
申请日： 2022-11-11 - 公布日： 2023-02-10 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供的一种半导体器件电参数测试装置、测试方法、介质及设备，属于半导体器件测量技术领域。该测试装置包括：恒功率温升电路、电参数测量电路及切换电路，其中，切换电路用于根据外部控制指令导通恒功率温升电路或电参数测量电路；恒功率温升电路用于为被测器件提供预设的测试环境；电参数测量电路用于在预设的测试环境下对被测器件进行电参数测量；恒功率温升电路，包括：恒流电路及温度采集电路。恒流电路根据温度采集电路采集、后台系统计算的加热功率，为被测器件提供恒定功率和稳定温度，没有占空比，能够有效减少被测器件升温时间，维持稳定温度值，缩短器件生产测试中的高温电参数测试时间并提高测试精确度。
一种半导体器件参数测试装置方法介质设备

[发明专利]射频测试机的校准方法、射频测试机及射频测试系统-CN202310359495.6在审
发明人：任勇 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-03-31 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本申请涉及芯片测试领域，特别是涉及一种射频测试机的校准方法、射频测试机及射频测试系统，所述方法包括：基于所配置的各第一射频测试信号，获取所述外部功率检测电路的各第一功率检测值以及所述内部功率检测电路的各第二功率检测值；基于各所述第一功率检测值以及各所述第二功率检测值，确定所述内部功率检测电路对于各所述第一射频测试信号的标定值；基于所配置的第二射频测试信号，确定各所述标定值中的目标标定值，以及获取所述内部功率检测电路的第三功率检测值；基于所述目标标定值以及所述第三功率检测值，对所述射频前端电路的硬件参数进行调整。本发明提高了射频测试机的校准效率。
射频测试校准方法系统

[发明专利]基于功率损耗线性控制的恒定功率循环测试电路及方法-CN201811445962.2有效
发明人：刘国友;李道会;罗皓泽;齐放;王彦刚;李孔竞;吴义伯;戴小平 -专利权人：株洲中车时代半导体有限公司
申请日： 2018-11-29 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于功率损耗线性控制的恒定功率循环测试电路及方法，该恒定功率循环测试电路包括恒流源、第一和第二待测半导体功率器件、第一和第二驱动单元、第一和第二温控单元、电压测量与存储单元。本发明还提供了基于该恒定功率循环测试电路的测试方法。本发明的恒定功率循环测试电路和测试方法可以使待测功率器件的结温度摆幅仅与导通时间成单一的正比例关系，简化了功率循环测试的控制方法，消除了待测功率器件在长期功率循环测试当中结温度不可精确控制的问题。
基于功率损耗线性控制恒定循环测试电路方法

[实用新型]一种LED驱动电源的测试装置-CN202122236346.X有效
发明人：蔡丽君;张川龙 -专利权人：宁波赛耐比光电科技有限公司
申请日： 2021-09-15 - 公布日： 2022-04-19 - 主分类号： G01R31/40 文献下载
摘要：本实用新型公开一种LED驱动电源的测试装置，包括：电流采样电路，电流采样电路连接至待测试电源；电压采样电路，电压采样电路连接至待测试电源；功率输出电路，功率输出电路连接至待测试电源；功率输出电路在一处理模块的控制下驱动待测试电源；电流采样电路和电压采样电路分别连接至处理模块；处理模块通过通信电路连接至外部控制端。本实用新型的有益效果在于：通过设置处理模块和功率输出模块根据电子负载的需要有效模拟实际工况中不同的负载，对待测试电源在不同情况下的输出功率进行有效地测定，并通过电流采样电路和电压采样电路对待测试电源的输出功率进行准确测定，实现了较好的电子模拟负载与电源测试效果。
一种 led 驱动电源测试装置

[发明专利]一种功率器件测试装置及其校准设备与方法-CN202211412422.0有效
发明人：何嘉辉;陈希辰 -专利权人：佛山市联动科技股份有限公司
申请日： 2022-11-11 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种功率器件测试装置及其校准设备与方法，控制电路通过控制测试电路生成测试电流，测试电流通过接口模块施加至功率器件等效电路；控制电路控制测试电路测得不同增益下的功率器件等效电路的电流及电压，控制电路将不同增益下的功率器件等效电路的电流及电压作为校准数据；校准数据用于当测试电路对功率器件进行测试时，根据当前增益对应的校准数据，对所测量的数据进行修正，从而消除环境温湿度、机器差异以及设备接插件、连接线等的分布参数对测试数据的影响，提高测试数据精确度，提升该测试装置的市场竞争力
一种功率器件测试装置及其校准设备方法

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