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- [发明专利]图像处理装置、图像处理方法、程序和固态成像装置-CN201880073836.0有效
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栗田哲平;陆颖;近藤雄飞;平泽康孝
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索尼公司
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2018-09-18
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2023-04-18
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H04N23/10
- 非偏振分量图像生成单元32‑1生成特定颜色非偏振分量图像信号和非特定颜色非偏振分量图像信号。偏振分量图像生成单元33‑1生成特定颜色偏振分量图像信号和非特定颜色偏振分量图像信号。特定颜色偏振特性检测单元34‑1使用具有三个或更多个偏振方向的特定颜色偏振像素或非偏振像素和具有两个偏振方向的偏振像素的像素信号来检测特定颜色偏振特性。非特定颜色偏振特性检测单元35基于特定颜色偏振特性检测单元34‑1检测到的特定颜色偏振特性、非特定颜色非偏振像素的像素信号以及非特定颜色偏振像素的像素信号，来检测非特定颜色偏振特性，其中非特定颜色偏振像素的偏振方向的数目比特定颜色情况下的偏振方向少因此，可以逐个颜色地检测偏振特性，而无需假设逐个颜色的偏振度相等。
- 图像处理装置方法程序固态成像
- [发明专利]图像处理设备和图像处理方法-CN201680065663.9有效
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小柳津秀纪;平泽康孝;近藤雄飞
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索尼公司
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2016-09-09
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2020-11-03
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H04N5/232
- 偏振图像处理单元30‑1的低灵敏度偏振特性模型计算单元31基于由低灵敏度成像单元21生成的多个偏振方向上的低灵敏度偏振图像来计算低灵敏度偏振特性模型。非饱和偏振图像提取单元32从由高灵敏度成像单元22生成的多个偏振方向上的高灵敏度偏振图像中提取在尚未发生饱和的偏振方向上的图像。高灵敏度分量获取单元33‑1根据高灵敏度偏振图像中尚未发生饱和的多个偏振方向上的图像，来计算高灵敏度偏振特性模型，该高灵敏度偏振特性模型具有与低灵敏度偏振特性模型相同的相位分量。此外，高灵敏度分量获取单元33‑1获取高灵敏度偏振特性模型的幅度作为拍摄对象的偏振分量，并且获取高灵敏度偏振特性模型的最小值作为拍摄对象的非偏振分量。可以从图像中以高灵敏度确定拍摄对象的偏振特性。
- 图像处理设备方法
- [发明专利]半导体发光器件-CN201280003779.1无效
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井上彰;藤金正树;横川俊哉
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松下电器产业株式会社
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2012-09-24
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2013-07-24
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H01L33/60
- 包含以非极性面为生长面的氮化物半导体有源层（106）的半导体发光芯片（100），在安装基板（101）的表面上、与被来自氮化物半导体有源层的光照射的区域的有源层平行且与来自该有源层的光的偏振方向垂直的结晶轴方向的芯片侧方的区域作为高偏振特性区域，被来自有源层的光照射的区域的高偏振特性区域以外的区域作为低偏振特性区域时，金属配置在高偏振特性区域的至少一部分的区域，低偏振特性区域的至少一部分的镜面反射的比例比金属的镜面反射的比例低，高偏振特性区域的镜面反射的比例比低偏振特性区域的镜面反射的比例高
- 半导体发光器件
- [实用新型]一种角锥保偏测试装置-CN202320655240.X有效
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王永慧;贺鹏;肖志全;许小强
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武汉优光科技有限责任公司
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2023-03-29
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2023-08-25
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G01M11/02
- 本实用新型公开一种角锥保偏测试装置，包括光源、起偏器、反射镜、待测角锥和偏振分析仪，所述起偏器的偏振特性可调；所述光源发出的光入射到起偏器，所述起偏器的出射光入射到反射镜，所述反射镜的反射光入射到待测角锥，所述偏振分析仪分别获取起偏器的出射光、反射镜的反射光或待测角锥的出射光。本实用新型通过调节起偏器并通过偏振分析仪对起偏器的出射光进行偏振分析，确保起偏器出射光的偏振特性，通过偏振分析仪获取反射镜的出射光的偏振特性，以确保反射镜出射光与起偏器出射光的偏振特性一致，最后通过偏振分析仪获取待测角锥出射光的偏振特性，并与待测角锥入射光的偏振特性相比较，以确定所测角锥的偏振特性。
- 一种角锥保偏测试装置
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