“亚像素边缘”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果903546个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种亚像素单元线宽的测量方法及装置-CN201610005536.1有效
发明人：孙志义;庞华山 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
申请日： 2016-01-04 - 公布日： 2019-04-19 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明涉及显示技术领域，公开一种亚像素单元线宽的测量方法及装置，亚像素单元线宽的测量方法包括：扫描显示基板的图像；根据图像的灰度信息获取待测亚像素单元的边缘位置；获取该待测亚像素单元的边缘位置处的色度值，根据色度值判断该待测亚像素单元的边缘位置是否正确；若该待测亚像素单元的边缘位置正确，则根据该边缘位置得到待测亚像素单元的线宽；若该待测亚像素单元的边缘位置不正确，则根据图像的灰度信息重新获取待测亚像素单元的边缘位置，直至对获取的待测亚像素单元的边缘位置的判断结果为正确。本发明的亚像素单元线宽的测量方法可以提高亚像素单元线宽测量的准确性。
一种像素单元测量方法装置

[发明专利]一种亚像素边缘检测方法-CN201810428425.0在审
发明人：彭绍湖;苏伟强;刘长红;胡晓 -专利权人：广州大学
申请日： 2018-05-07 - 公布日： 2018-10-12 - 主分类号： G06T7/13 文献下载
摘要：本发明提供了一种亚像素边缘检测方法，包括：获取原始灰度图像，并获取所述原始灰度图像的像素级粗边缘；索引到所述像素级粗边缘的边缘点，并沿着梯度方向采用插值法扩展边缘；对扩展后的边缘点进行亚像素检测，获得边缘的亚像素位置；通过对边缘点邻域进行基于梯度方向的插值，扩展了复杂边缘中边缘与边缘的间隔，不仅亚像素边缘检测的精度大大提高，而且复杂边缘亚像素级定位能力也显著增强。
亚像素边缘检测边缘点原始灰度图像复杂边缘像素级亚像素定位能力亚像素级插值法邻域索引检测

[发明专利]一种目标定位建模方法-CN202110973809.2在审
发明人：曾友;姚毅;杨艺;全煜鸣;金刚;彭斌 -专利权人：凌云光技术股份有限公司;深圳市凌云视迅科技有限责任公司
申请日： 2021-08-24 - 公布日： 2021-11-12 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请提供一种目标定位建模方法，包括对建模图像进行亚像素边缘检测，获得建模图像中的离散亚像素边缘点；将建模图像中的离散亚像素边缘点连接成数条亚像素边缘；计算所述亚像素边缘的边缘长度均值；以边缘长度均值为阈值，将长度大于或等于阈值的亚像素边缘设为理想边缘；将理想边缘中包含的亚像素边缘点设为理想边缘点，存储理想边缘点的梯度方向和位置，打包到一容器。本申请选择最优阈值方法有效去除了低梯度值边缘，删除短边缘有效去除了杂边，可以获得比较理想的模板信息，同时整个过程算法自动执行，不需要人为设置参数，降低了对使用者的专业要求。
一种目标定位建模方法

[发明专利]边缘像素显示方法、系统、存储设备和显示装置-CN201811002194.3有效
发明人：杨毅;李伟;陈家兴;杨华旭 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司
申请日： 2018-08-30 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： G09G3/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种边缘像素显示方法、系统、存储设备和显示装置，包括：选取整数个边缘像素内的全部亚像素构成待调整亚像素集合，待调整亚像素集合中的每一个亚像素作为一个待调整亚像素；获取待调整亚像素集合内各待调整亚像素的透光区的原始亮度；计算各待调整亚像素的实际出光区域的理想目标亮度；根据各待调整亚像素的实际出光区域的理想目标亮度确定各待调整亚像素的实际出光区域的最终目标亮度；根据各待调整亚像素的实际出光区域的最终目标亮度，控制各待调整亚像素进行显示本发明的技术方案可对异形显示区域中的边缘像素的亮度进行调整，能有效改善、甚至消除边缘像素的色偏问题。
边缘像素显示方法系统存储设备显示装置

[发明专利]一种亚像素边缘检测方法-CN201610166169.3有效
发明人：戴琼海;吴立威;刘烨斌 -专利权人：清华大学
申请日： 2016-03-22 - 公布日： 2018-11-09 - 主分类号： G06T7/13 文献下载
摘要：本发明公开了一种亚像素边缘检测方法，包括以下步骤：根据亚像素的中心位置和高斯滤波的滤波系数建立亚像素边缘图像的高斯滤波模糊模型；根据所述高斯滤波模糊模型计算所述亚像素边缘图像梯度的幅值；使用Canny算法进行边缘检测；根据所述亚像素边缘图像梯度的幅值计算所述亚像素边缘图像中心位置的坐标；以及根据所述亚像素边缘图像中心位置的坐标计算所述亚像素边缘图像的偏移量和偏移位移。
一种像素边缘检测方法

[发明专利]基于工业CT图像的叶片壁厚尺寸亚像素级测量方法及系统-CN202310412446.4在审
发明人：帅三三;吴士俊;任忠鸣;王江;王亚楠;李霞;王保军 -专利权人：上海大学
申请日： 2023-04-18 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G06T7/60 文献下载
摘要：本发明公开一种基于工业CT图像的叶片壁厚尺寸亚像素级测量方法及系统，方法包括获取涡轮叶片待测部位的扫描CT图像；利用像素级边缘检测算法对扫描CT图像中的涡轮叶片的边缘进行提取，得出叶片的粗定位边缘位置；采用基于三次样条插值的亚像素边缘检测算法对粗定位边缘位置的边缘点进行插值处理，得到叶片的亚像素边缘轮廓；利用最小二乘法对亚像素边缘轮廓进行曲线拟合，基于拟合结果对叶片的待测部位的叶片壁厚尺寸进行测量。本发明将像素级边缘检测算法结合基于三次样条插值的亚像素边缘检测算法对CT图像进行处理，将边缘像素点从像素级提升到亚像素级，既保证测量结果的稳定性，也有效实现了对涡轮叶片尺寸的高精度测量。
基于工业 ct 图像叶片尺寸像素测量方法系统

[发明专利]一种基于FPGA的高性能亚像素边缘定位方法-CN202310977550.8在审
发明人：邓华健;王昊;金仲和 -专利权人：浙江大学
申请日： 2023-08-04 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G06V10/44 文献下载
摘要：本发明提出了一种基于FPGA的高性能亚像素边缘定位方法。该方法在FPGA采集相机输入的图像数据流时，一边由FPGA对输入的图像数据流进行像素级边缘定位操作，一边用由FPGA对输入的图像数据流进行亚像素边缘定位操作；对上述两个操作输出的数据流进行信号同步后，依照FPGA像素级边缘定位结果，即可以确定并存储最终定位的图像亚像素边缘和相应的单位矢量。该方法采用多级流水线操作，多项任务并行加速，能够在图像采集的同时完成图像的像素级边缘定位和亚像素边缘定位，还能同时完成图像的解畸变投影，并求解出亚像素边缘点相应的单位矢量，极大程度地降低了图像处理所带来的延时，是一种高效的亚像素边缘定位方法，具有重要的工程意义。
一种基于 fpga 性能像素边缘定位方法

[发明专利]一种基于伪Zernike矩的亚像素边缘检测方法-CN201510153151.5有效
发明人：陈喆;殷福亮;杨兵兵 -专利权人：大连理工大学
申请日： 2015-04-01 - 公布日： 2018-01-26 - 主分类号： G06T7/13 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于伪Zernike矩的亚像素边缘检测方法，其特征在于包括以下步骤S1对输入图像进行去除噪处理；S2将完成去噪处理的图像进行像素级边缘检测S3采用伪Zernike矩方法对待处理图像进行亚像素边缘检测S4对待处理图像进行边缘位置的误差补偿S5获得亚像素边缘检测的修正实际边缘，对待处理图像的所有像素按照S4的方式进行处理、完成图像的亚像素边缘检测。本发明所提的方法对噪声不敏感，提高了亚像素边缘的精度，并且减少了检测边缘所需的计算复杂度。
一种基于 zernike 像素边缘检测方法

[发明专利]一种基于高斯模型卷积的亚像素边缘点检测方法-CN202111035751.3有效
发明人：冯西;王盼;刘中;张勇 -专利权人：成都新西旺自动化科技有限公司
申请日： 2021-09-06 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G06T7/13 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于高斯模型卷积的亚像素边缘点检测方法，包括以下步骤：获取待检测区域的亚像素点；获取所述亚像素点的灰度值；沿垂直于搜索方向获取所述检测区域内每一行或每一列的所述亚像素点的灰度平均值；用高斯卷积核模型对所述灰度平均值进行卷积获取，得到边缘强度值；根据边缘类型和所述边缘强度值获取最佳边缘点；根据所述最佳边缘点拟合抛物线，所述抛物线的对称轴与所述旋转矩形的中心线的交点为最佳亚像素边缘点。本发明的目的在于提供一种基于高斯模型卷积的亚像素边缘点检测方法，通过设置卷积核宽度可以对任意强度的边缘图像进行边缘点检测，有效的提高了亚像素边缘点的检测精度和算法鲁棒性。
一种基于模型卷积像素边缘检测方法

[发明专利]一种亚像素边缘检测方法-CN201510995321.4在审
发明人：傅之成;邵卿;李晓强;赵洋洋 -专利权人：傅之成
申请日： 2015-12-25 - 公布日： 2016-06-08 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种亚像素边缘检测方法，包括如下步骤：获取图像；图像预处理；亚像素计算；生成亚像素边缘。本发明采用了亚像素的像素处理策略，有效地摆脱了由于像素点过大造成的精度丢失问题，能找到更为真实的图像边缘，提高了视觉测量的准确性，可作为高精度机器视觉测量的预处理步骤。
一种像素边缘检测方法

[发明专利]一种基于机器视觉的快速亚像素边缘检测与定位方法-CN201410469840.2有效
发明人：王耀南;李康军;陈铁建;吴成中;冯明涛 -专利权人：湖南大学
申请日： 2014-09-16 - 公布日： 2017-07-18 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于机器视觉的快速亚像素边缘检测与定位方法，包括以下步骤步骤1获取检测图像；步骤2图像去噪预处理步骤3计算每个像素点水平方向上的梯度Gx和垂直方向上的梯度Gy；步骤4计算每个像素点极坐标下的梯度幅值G0和梯度方向Gθ；步骤5确定每个像素点的邻域像素点；步骤6确定像素级边缘点；步骤7计算每个像素级边缘点在8分梯度方向上的亚像素边缘点到该像素级边缘点的距离；步骤8计算实际梯度方向Gθ上的亚像素边缘点到像素级边缘点的距离d；步骤9采用余弦查找表法计算其实际梯度方向Gθ上的亚像素边缘点的直角坐标，进而实现图像边缘点的检测和亚像素级定位。
一种基于机器视觉快速像素边缘检测定位方法

[发明专利]一种光斑中心检测方法-CN202010255471.2在审
发明人：富容国;陈江南;周鸣;张红;杜振伟 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2020-04-02 - 公布日： 2020-08-04 - 主分类号： G06T7/66 文献下载
摘要：本发明公开了一种光斑中心检测方法，包括以下步骤：采集光斑图像，并对该图像进行去噪预处理；利用边缘检测算法对光斑进行粗定位，获得像素级的光斑边缘；对所述像素级的光斑边缘进行插值运算，获得亚像素级光斑边缘；对所述亚像素级光斑边缘进行细化处理，获得细化后的亚像素级光斑边缘；基于所述细化后的亚像素级光斑边缘，利用高斯拟合原理求取光斑中心。本发明将Canny边缘检测算子和插值法相结合使得高斯拟合的光斑边缘处于亚像素级，可以最大程度保留图像的边缘信息，显著降低误定位率，提高定位精度，获得了较好的定位效果，且运行的时间较短，实时性较高，能够满足工业精密尺寸测量的要求
一种光斑中心检测方法

[发明专利]一种圆点标定板边缘亚像素检测方法-CN202011340141.X在审
发明人：王琪;郭俊佳 -专利权人：深圳了然视觉科技有限公司
申请日： 2020-11-25 - 公布日： 2021-04-30 - 主分类号： G06T7/13 文献下载
摘要：本发明适用机器视觉领域，提供了一种圆点标定板边缘亚像素检测方法，该方法包括：对标定板图像进行边缘粗提取处理，获取图像中的粗边缘；根据标定板上标志圆在标定板图像中的特征对椭圆边进行筛选处理，筛选出有标志圆对应的椭圆边；对筛选出的椭圆边进行弧段分割和拟合处理，获取弧段垂线；对弧段垂线进行灰度值提取处理，获取弧段垂线灰度值；对弧段垂线灰度值进行模型拟合处理，获取符合灰度值分布和变化的拟合模型；在拟合模型上进行边缘亚像素点选取处理，获取边缘亚像素点；根据亚像素边缘拟合椭圆并求取圆心。该方法在圆点标定板边缘亚像素检测中，可以提高边缘亚像素检测的精度和速度。
一种标定边缘像素检测方法

[发明专利]用于废硅片回收的不均布流体杂质边缘精准检测方法-CN202310746560.0有效
发明人：徐坤;朱莉莉;王曼;王新 -专利权人：山东九思新材料科技有限责任公司
申请日： 2023-06-25 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G06T7/13 文献下载
摘要：本申请涉及图像处理技术领域，提供了一种用于废硅片回收的不均布流体杂质边缘精准检测方法，该方法分析获得废硅片图像中每个像素点的位置分布程度；对废硅片图像中的所有像素点进行DBSCAN聚类，得到多个聚类类别；然后根据像素点所属的聚类类别的灰度分布特征和边缘分布情况，对应获得像素点的局部高亮特征和不规则纹理分布影响特征；获得像素点的校正权重；根据像素点的校正权重，进行自适应亚像素边缘检测，得到亚像素边缘。本申请避免了废硅片在进行亚像素边缘检测过程中会受到多晶硅片表面不规律的纹理和流体杂质的影响导致亚像素边缘获取不准确的问题，计算得到的亚像素边缘结果更加准确。
用于硅片回收不均流体杂质边缘精准检测方法

[发明专利]图像的亚像素边缘直线获取方法及装置-CN201610082414.2有效
发明人：郑波;杜厚圻;魏正杰 -专利权人：成都康烨科技有限公司
申请日： 2016-02-05 - 公布日： 2019-02-26 - 主分类号： G06T7/13 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种图像的亚像素边缘直线获取方法及装置，应用于图像处理领域。该方法包括利用边缘检测算法获取所述图像的边缘直线；获取与所述边缘直线相交的多条相交线；获取所述多条相交线的每条相交线上相邻的多个像素点，所述多个像素点包括位于每个所述相交线与所述边缘直线的交点处的交点像素点以及与所述交点像素点相邻的分别位于所述边缘直线两侧的多个像素点；获取每条所述相交线的所述多个像素点之间灰度值变化最大的亚像素点；将所述多条相交线的亚像素点进行拟合，获得所述图像的亚像素边缘直线。
图像像素边缘直线获取方法装置

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条