[发明专利]基于噪声自激的链式自噪声测量电路及方法在审
| 申请号： | 202310462448.4 | 申请日： | 2023-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN116482451A | 公开（公告）日： | 2023-07-25 |
| 发明（设计）人： | 吴子扬;王志华;宋鹏程;解延超;王骄 | 申请（专利权）人： | 东北大学 |
| 主分类号： | G01R29/26 | 分类号： | G01R29/26 |
| 代理公司： | 成都明涛智创专利代理有限公司 51289 | 代理人： | 赵子珩 |
| 地址： | 110819 辽宁*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明涉及噪声测量技术领域，具体公开了一种基于噪声自激的链式自噪声测量电路，包括多个前置放大器、供电电源和测量设备，多个所述前置放大器依次连接，多个所述前置放大器分别与供电电源连接，位于最后端的所述前置放大器与测量设备连接。本发明还公开了一种基于噪声自激的链式自噪声测量方法。本发明相较于传统测量方式未引入高倍放大器，结构简单，操作简便，并避免了复杂电路带来的噪声影响；采用链式测量结构，根据噪声量级选取合适放大级数，使得输出噪声淹没测量设备本底噪声，从而消除测量设备本底噪声的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 噪声 链式 测量 电路 方法 | ||
【主权项】：
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- 一种频谱分析仪噪声系数测试方法-202211339815.3
- 杨东营;许建华;杜会文;宋青娥;赵永志 - 中电科思仪科技股份有限公司
- 2022-10-27 - 2023-01-31 - G01R29/26
- 本发明提出了一种频谱分析仪噪声系数测试方法，包括步骤：S1、采用频谱分析仪内部衰减器进行噪声系数分析校准；S2、采用频谱分析仪内部衰减器进行噪声系数分析测试，包括子步骤：S21、测试连接；S22、根据ADC采集是否过载判断是否需要调用程控衰减器；S23、调用被选中的衰减量插入损耗校准数据，作为被测件后的损耗补偿进行计算；S24、根据加载的噪声源超噪比、测量参数和校准得到的通道特征参数和损耗补偿计算噪声系数。本发明通过校准获得分析仪内部程控衰减器精确衰减数据，使用被测件后损耗补偿方法，分析仪的自身的噪声系数更优，对被测件噪声系数和增益测量不确定度影响更小、结果更精确，更适合测试大增益、小噪声系数的被测件。
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