[发明专利]测量装置、测量系统及测量方法在审

专利信息
申请号: 202010075698.9 申请日: 2020-01-22
公开(公告)号: CN111521247A 公开(公告)日: 2020-08-11
发明(设计)人: 大森启史 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G01G19/03 分类号: G01G19/03
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 李丹
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及测量装置、测量系统及测量方法,测量装置具备:数据获取部,获取从设置于构造物的第一至第三传感器输出的第一数据至第三数据;异常判定部,判定所述传感器的每一个是否异常;移动体检测部,根据所述第一数据及第二数据中的至少一方来检测移动体;以及位移量计算部,根据所述第三数据来检测所述构造物的位移量;当判定为设置于最接近所述构造物的第i车道的所述主梁或者第二接近的所述主梁的所述第一传感器没有异常时,所述移动体检测部根据从该第一传感器输出的所述第一数据,来检测在所述第i车道中移动的所述移动体。
搜索关键词: 测量 装置 系统 测量方法
【主权项】:
暂无信息
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