[发明专利]激光跟踪位姿测量靶标装置及方法、隐藏点测量装置在审
| 申请号： | 202211495984.6 | 申请日： | 2022-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN115902911A | 公开（公告）日： | 2023-04-04 |
| 发明（设计）人： | 崔成君;董登峰;王博;朱志忠;程智;高豆豆;李洋;王国名;张滋黎;周维虎;王宇 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01S17/06 | 分类号： | G01S17/06;G01S17/66;G01S17/86;F41J2/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 肖慧 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种激光跟踪位姿测量靶标装置，应用于几何测量技术领域，包括：呈凸台状的靶标腔体，具有凸台上表面和凸台下表面，反射器支座，设置于所述靶标腔体的所述凸台的中心位置处，光学逆反射器，设置于所述反射器支座上，至少两对特征点光源，设置于所述凸台上表面和所述凸台下表面，且每对所述特征点光源均相对于所述光学逆反射器中心对称分布，至少一个漫反射片，每个所述漫反射片均安装于一所述特征点光源的出光口位置处。本发明还提供了一种六自由度激光跟踪位姿测量方法、隐藏点测量装置，可配合激光跟踪仪实现空间三维坐标、三维姿态角以及隐藏点位置测量。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 跟踪 测量 靶标 装置 方法 隐藏 | ||
【主权项】：
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