[发明专利]半导体存储器装置在审

专利信息
申请号: 202210378473.X 申请日: 2022-04-12
公开(公告)号: CN115568212A 公开(公告)日: 2023-01-03
发明(设计)人: 朴台镇;金熙中;李相昊 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H10B12/00 分类号: H10B12/00
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 陈懂;刘林果
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供了半导体存储器装置。所述半导体存储器装置包括:有源区,包括第一杂质区和第二杂质区;字线,位于有源区上并且沿着第一方向延伸;位线,位于字线上并且在与第一方向交叉的第二方向上延伸,位线连接到第一杂质区;第一接触插塞,位于位线之间,第一接触插塞连接到第二杂质区;接合垫,分别位于第一接触插塞上;以及间隙填充结构,填充接合垫之间的空间,间隙填充结构的顶表面高于接合垫的顶表面。
搜索关键词: 半导体 存储器 装置
【主权项】:
暂无信息
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