[发明专利]碳化硅MOSFET结温在线测量方法及系统在审

专利信息
申请号: 202210047622.4 申请日: 2022-01-17
公开(公告)号: CN114414975A 公开(公告)日: 2022-04-29
发明(设计)人: 郭亚慧;孙鹏;李焕林;蔡雨萌;赵志斌;王异凡;刘黎;邵先军;曾明全;王少华 申请(专利权)人: 华北电力大学;国网浙江省电力有限公司电力科学研究院
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京君有知识产权代理事务所(普通合伙) 11630 代理人: 焦丽雅
地址: 102206 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 碳化硅MOSFET结温在线测量方法及系统,包括绘制不同电流等级下碳化硅MOSFET器件动态温敏电参数值VDTSEP1、VDTSEP2与结温Tj的关系曲线;根据器件动态温敏电参数值、负载电流I和结温Tj的关系构建解析模型;根据器件动态温敏电参数值VDTSEP1和VDTESP2、负载电流I和结温Tj的解析模型以及待测工况下动态温敏电参数VDTSEP1和VDTESP2的值,求取器件不同工况在线运行的负载电流I、确定器件在线运行的结温。本发明能间接测量碳化硅MOSFET在任何工况下的结温,为碳化硅在实际应用中可靠性研究,状态监测以及健康管理提供依据,有利于保证电力系统的可靠运行。
搜索关键词: 碳化硅 mosfet 在线 测量方法 系统
【主权项】:
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