[发明专利]用于物理不可克隆函数的测量机制在审
| 申请号： | 202110412600.9 | 申请日： | 2021-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN113539334A | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 杰弗里·L·商塔格 | 申请（专利权）人： | 硅谷实验室公司 |
| 主分类号： | G11C16/08 | 分类号： | G11C16/08;G11C16/10;G11C16/24;G11C16/26;G06F7/58 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王蓉 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于物理不可克隆函数的测量机制。通过将多个阈值控制值提供给物理不可克隆函数位单元来测量多个物理不可克隆函数位单元。对与每个阈值控制值相关联的测量结果进行评估，以确定在多个阈值控制值中具有正阈值控制值和负阈值控制值的阈值控制对，该阈值控制对导致期望数量的物理不可克隆函数位单元为强1和为强0。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 物理 不可 克隆 函数 测量 机制 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于硅谷实验室公司，未经硅谷实验室公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110412600.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
