[发明专利]芯片电压调节方法、性能测试方法、装置及电子设备在审
| 申请号： | 202110309417.6 | 申请日： | 2021-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN113031752A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 陈刚 | 申请（专利权）人： | 维沃移动通信有限公司 |
| 主分类号： | G06F1/3296 | 分类号： | G06F1/3296 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;曹娜 |
| 地址： | 523863 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种芯片电压调节方法、性能测试方法、装置及电子设备。所述方法包括：获取芯片内存储的性能测试结果，所述性能测试结果包括：所述芯片的运行速度等级，以及达到目标工作频率的最低安全运行电压；根据所述性能测试结果，调节所述芯片的供电电压。本申请通过获取芯片的性能测试结果，可以根据芯片性能测试结果确定芯片所属的运行速度等级以及芯片达到目标工作频率所需的最低安全运行电压，从而根据芯片的运行速度以及所述最低安全运行电压确定给芯片供电的电压，能够在保证芯片达到目标性能的情况下，尽量利用最低安全运行电压工作，使得动态功耗降低，电子设备的待机时间增长，实现在性能达标的前提下确保功耗最低。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 电压 调节 方法 性能 测试 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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