[发明专利]存储器元件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202110266366.3 申请日: 2021-03-11
公开(公告)号: CN114864675A 公开(公告)日: 2022-08-05
发明(设计)人: 郭舒绮;廖宏魁;刘振强 申请(专利权)人: 力晶积成电子制造股份有限公司
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423;H01L27/11521;H01L21/28
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开一种存储器元件及其制造方法。存储器元件包括浮置栅极、栅间介电层、栅极耦合层与控制栅极。浮置栅极设置于基底上且具有梳状部。所述梳状部具有彼此侧向间隔开的多个条状图案。栅间介电层覆盖浮置栅极的梳状部的上表面。栅极耦合层覆盖栅间介电层。控制栅极包括立于栅极耦合层上的导电插塞,且电连接于栅极耦合层。控制栅极在垂直方向上与水平方向上电容耦合于浮置栅极的梳状部。
搜索关键词: 存储器 元件 及其 制造 方法
【主权项】:
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