[发明专利]用于光子IC表征和封装的多端口光学探头在审
申请号: | 202110048180.0 | 申请日: | 2016-02-18 |
公开(公告)号: | CN113156594A | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
发明(设计)人: | X·J·M·雷腾;R·M·莱莫斯阿尔法雷斯多斯桑托斯 | 申请(专利权)人: | 思敏光子控股有限责任公司 |
主分类号: | G02B6/42 | 分类号: | G02B6/42;G02B6/14;G02B6/26;G02B6/30;G02B6/36 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 汪骏飞;侯颖媖 |
地址: | 荷兰埃*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供了与光子集成电路(PIC)芯片的改善无源光学耦合。采用了具有一个或多个柔性光波导构件(112,114,116)的内插件单元(108)。所述柔性光波导构件经由其尖端耦合至所述PIC芯片(118)。所述PIC芯片包括对准特征,所述对准特征用于促进所述柔性光波导构件与所述PIC的片上光波导的横向、垂直和纵向无源对准。 | ||
搜索关键词: | 用于 光子 ic 表征 封装 多端 光学 探头 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于思敏光子控股有限责任公司,未经思敏光子控股有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110048180.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:同步输入感测与显示更新
- 下一篇:一种面向ROS的差分模糊测试方法