[发明专利]一种三维存储器的制造方法在审
申请号: | 202011553359.3 | 申请日: | 2020-12-24 |
公开(公告)号: | CN112687695A | 公开(公告)日: | 2021-04-20 |
发明(设计)人: | 罗兴安;楚明;董洪旺;张高升 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11521 | 分类号: | H01L27/11521;H01L27/11551;H01L27/11568;H01L27/11578 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 高洁;张颖玲 |
地址: | 430074 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请实施例公开了一种三维存储器的制造方法,所述方法包括:提供包括交替堆叠的第一绝缘层和第一牺牲层的叠层结构;所述叠层结构的至少一侧形成为台阶区域,所述台阶区域包括多层台阶;所述台阶的顶面曝露所述第一牺牲层;通入第一气体,以使所述第一气体中的抑制元素附着在所述台阶的顶面上;所述抑制元素用于抑制第二绝缘材料的形成;沉积所述第二绝缘材料,以形成至少覆盖所述台阶的侧壁的第二绝缘层;沉积第二牺牲材料,刻蚀去除位于所述第二绝缘层表面的第二牺牲材料,保留位于所述台阶顶面的第二牺牲材料作为第二牺牲层,所述第二牺牲层至少与所述台阶顶面曝露的第一牺牲层接触。 | ||
搜索关键词: | 一种 三维 存储器 制造 方法 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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