[发明专利]一种高压漂移阶跃恢复器件性能提升方法有效
申请号: | 202011367672.8 | 申请日: | 2020-11-29 |
公开(公告)号: | CN112563320B | 公开(公告)日: | 2022-08-16 |
发明(设计)人: | 陈允峰;李士颜;黄润华;柏松 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L27/02;H01L29/861 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 陈鹏 |
地址: | 210016 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种高压漂移阶跃恢复器件性能提升方法,优化器件结构参数,提升器件漂移阶跃恢复工作性能。本发明通过采用渐变掺杂的结构设计,形成特定器件外延结构,并优化相应的器件加工方案,使得器件工作时的脉冲前沿、工作响应速度等性能获得提升,而耐压值、脉冲电流值等原有性能不变。 | ||
搜索关键词: | 一种 高压 漂移 阶跃 恢复 器件 性能 提升 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第五十五研究所,未经中国电子科技集团公司第五十五研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011367672.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类