[发明专利]磁控溅射镀膜中降低极紫外多层膜表面粗糙度的方法在审

专利信息
申请号: 202011336831.8 申请日: 2020-11-25
公开(公告)号: CN112458418A 公开(公告)日: 2021-03-09
发明(设计)人: 赵娇玲;邵建达;朱美萍;易葵;王胭脂;王涛;武振清;陈上林 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/02;C23C14/16;C23C14/54
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种磁控溅射镀膜中降低极紫外多层膜表面粗糙度的方法,属于极紫外光刻技术领域。利用脉冲直流磁控溅射交替沉积高低原子序数多层膜,采用H2气对基底进行预处理,采用Ar气和H2气的混合气体替代纯Ar气作为脉冲直流溅射镀膜的工作气体,混合气体中H2气比例为2%‑10%。本发明将Mo膜层晶粒均匀化,降低多层膜粗糙度,减少界面缺陷,同时膜层材料中不引入H原子,保证了多层膜的光谱性能和环境稳定性。
搜索关键词: 磁控溅射 镀膜 降低 紫外 多层 表面 粗糙 方法
【主权项】:
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