[发明专利]NORD闪存的制作方法有效

专利信息
申请号: 202011095984.8 申请日: 2020-10-14
公开(公告)号: CN112259541B 公开(公告)日: 2022-06-07
发明(设计)人: 张剑;熊伟;陈华伦 申请(专利权)人: 华虹半导体(无锡)有限公司
主分类号: H01L27/11524 分类号: H01L27/11524;H01L27/11548;H01L27/11551;H01L27/11558
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 罗雅文
地址: 214028 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请公开了一种NORD闪存的制作方法,涉及半导体制造领域。该NORD闪存的制作方法包括提供一衬底,衬底上存储单元区域形成有浮栅层、ONO层、控制栅层、字线,控制栅层的上方形成有字线侧墙,字线侧墙的外侧形成有氮化硅层;形成多晶硅层,多晶硅层用于形成外围电路区域的栅极;去除存储单元区域的多晶硅层;去除存储单元区域中源漏区对应的控制栅层、ONO层、浮栅层,形成NORD闪存的控制栅和浮栅;形成硬掩膜层;通过光刻工艺定义外围电路区域的栅极图案;刻蚀硬掩膜层和多晶硅层,形成外围电路区域的栅极;解决了传统闪存器件制作工艺容易造成字线多晶硅表面缺陷的问题;达到了改善字线多晶硅表面缺陷,提升器件性能的效果。
搜索关键词: nord 闪存 制作方法
【主权项】:
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