[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 202010411002.5 申请日: 2020-05-15
公开(公告)号: CN112086464A 公开(公告)日: 2020-12-15
发明(设计)人: 孙仑焕;千志成 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/11578 分类号: H01L27/11578;H01L27/11582;H01L27/11551;H01L27/11556
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 刘灿强;杨永良
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开了一种半导体装置。所述半导体装置包括:第一基底,在第一基底中限定第一区域和第二区域;第一堆叠结构,具有在第一基底上顺序地移位并堆叠的第一栅电极;第二堆叠结构,具有在第一堆叠结构上顺序地移位并堆叠的第二栅电极;结层,设置在第一堆叠结构与第二堆叠结构之间;第一层间绝缘层,设置在第一堆叠结构的侧表面上;第二层间绝缘层,覆盖第二堆叠结构;第一沟道孔,穿透上述结构和/或层;以及第二沟道孔,穿透上述结构和/或层。第一沟道孔的第二部分在与第一方向正交的第二方向上的高度小于第二沟道孔的第二部分在第二方向上的高度。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
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