[发明专利]控制芯片的测试方法及相关设备在审
| 申请号： | 202010167247.8 | 申请日： | 2020-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN113391184A | 公开（公告）日： | 2021-09-14 |
| 发明（设计）人： | 史传奇;章恒嘉;丁丽;刘杰;何军;应战 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;孙宝海 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开实施例提供一种控制芯片的测试方法及装置、电子设备和计算机可读存储介质，涉及半导体器件测试技术领域。该方法包括：读取存储于第一目标存储器芯片中的第一测试向量；将该第一测试向量发送至该控制芯片；接收该控制芯片响应于该第一测试向量返回的第一输出信息；根据该第一输出信息及其对应的第一测试向量，获得该控制芯片的第一测试结果。本公开实施例提供的技术方案，可以利用存储器芯片存储控制芯片的测试向量，从而可以扩大测试向量的存储空间，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 控制 芯片 测试 方法 相关 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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