[发明专利]形成三维存储器设备的多分区阶梯结构的方法有效
申请号: | 202010098703.8 | 申请日: | 2018-10-18 |
公开(公告)号: | CN111293119B | 公开(公告)日: | 2021-02-19 |
发明(设计)人: | 华文宇;张中;夏志良 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L27/11548;H01L27/11551;H01L27/11578;H01L27/11575 |
代理公司: | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人: | 杨锡劢;刘柳 |
地址: | 430223 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 公开了用于形成三维(3D)存储器设备的阶梯结构的方法的实施例。在一个示例中,基于第一光刻胶掩模形成阶梯结构的第一多个台阶。第一多个台阶中的每一个包括在不同深度处的一定数量的分区。在形成第一多个台阶之后,基于第二光刻胶掩模形成阶梯结构的第二多个台阶。第二多个台阶中的每一个包括所述数量的分区。阶梯结构从第一多个台阶向第二多个台阶向下倾斜并远离3D存储器设备的存储器阵列结构。 | ||
搜索关键词: | 形成 三维 存储器 设备 分区 阶梯 结构 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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