[发明专利]MTP器件的制造方法及MTP器件在审

专利信息
申请号: 202010093212.4 申请日: 2020-02-14
公开(公告)号: CN111276485A 公开(公告)日: 2020-06-12
发明(设计)人: 令海阳 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L27/11521 分类号: H01L27/11521
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 曹廷廷
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种MTP器件的制造方法,包括:首先形成一包括编程区衬底和擦除区衬底的衬底;在所述编程区衬底中形成阱区;在所述擦除区衬底中形成离子漂移区;在所述衬底上依次形成栅氧化层及浮栅层;对所述离子漂移区进行轻掺杂漏注入以形成浅结。进一步的,本发明还提供一种MTP器件,包括:衬底、栅氧化层以及浮栅层,所述衬底包括编程区衬底和擦除区衬底,所述编程区衬底中形成有阱区,所述擦除区衬底中形成有离子漂移区,所述擦除区衬底中形成有浅结。其中,在所述擦除区衬底中形成离子漂移区并在其上形成浅结,这样形成的浅结的电荷容量能够进一步增加,从而提高了所述浅结的耐压性能,从而在MTP器件面积缩减的情况下提高MTP器件的擦除电压。
搜索关键词: mtp 器件 制造 方法
【主权项】:
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