[发明专利]MTP器件的制造方法及MTP器件在审
申请号: | 202010093212.4 | 申请日: | 2020-02-14 |
公开(公告)号: | CN111276485A | 公开(公告)日: | 2020-06-12 |
发明(设计)人: | 令海阳 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L27/11521 | 分类号: | H01L27/11521 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 曹廷廷 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种MTP器件的制造方法,包括:首先形成一包括编程区衬底和擦除区衬底的衬底;在所述编程区衬底中形成阱区;在所述擦除区衬底中形成离子漂移区;在所述衬底上依次形成栅氧化层及浮栅层;对所述离子漂移区进行轻掺杂漏注入以形成浅结。进一步的,本发明还提供一种MTP器件,包括:衬底、栅氧化层以及浮栅层,所述衬底包括编程区衬底和擦除区衬底,所述编程区衬底中形成有阱区,所述擦除区衬底中形成有离子漂移区,所述擦除区衬底中形成有浅结。其中,在所述擦除区衬底中形成离子漂移区并在其上形成浅结,这样形成的浅结的电荷容量能够进一步增加,从而提高了所述浅结的耐压性能,从而在MTP器件面积缩减的情况下提高MTP器件的擦除电压。 | ||
搜索关键词: | mtp 器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的