[发明专利]用于确定非易失性存储器器件的最佳阈值的方法在审
| 申请号： | 202010074038.9 | 申请日： | 2020-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN111462800A | 公开（公告）日： | 2020-07-28 |
| 发明（设计）人： | E.哈尔珀林;E.布莱希曼;A.伯曼 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C16/08 | 分类号： | G11C16/08;G11C16/30;G11C29/42 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邵亚丽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了一种用于确定非易失性存储器器件的最佳阈值的方法，该方法包括：用默认阈值从非易失性存储器器件读取页面，并尝试使用默认阈值对该页面进行硬解码；当硬解码失败时，用预定的偏移电压再读取该页面两次，并且尝试使用默认阈值对该页面进行软解码；用每个电平的高斯分布来近似被成功解码的位的经验分布；找到高斯分布的交叉点；以及将该交叉点设置为新的读取阈值，并且用该新的读取阈值再次读取该页面。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 非易失性存储器 器件 最佳 阈值 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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