[发明专利]距离测量处理装置、距离测量模块和距离测量处理方法在审
| 申请号： | 201910250186.9 | 申请日： | 2019-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN110412599A | 公开（公告）日： | 2019-11-05 |
| 发明（设计）人： | 青竹峻太郎;増野智経;神谷拓郎 | 申请（专利权）人： | 索尼半导体解决方案公司 |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08;G01S7/497 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 陈桂香;曹正建 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及距离测量处理装置、距离测量模块、距离测量处理方法和存储有计算机程序的计算机可读介质。距离测量处理装置包括：校正参数计算部，其利用预定数目的检测信号计算用于校正第一阀门和第二阀门之间特性偏差的校正参数，针对具有预定相位差的两种以上的照射光中的每一种各自检测两个所述检测信号，两种以上的所述照射光照射在物体上，并且，通过接收的被所述物体反射的反射光产生的电荷根据到所述物体的距离而被分成所述第一阀门和所述第二阀门；距离测量部，其基于所述校正参数和预定数目的所述检测信号获得表示到所述物体的距离的深度。本发明能实现更高性能的距离测量处理装置、距离测量模块、距离测量处理方法和计算机可读介质。 | ||
| 搜索关键词： | 距离测量 处理装置 阀门 距离测量模块 检测信号 计算机可读介质 校正参数 照射光 校正参数计算部 计算机程序 距离测量部 预定相位差 特性偏差 物体反射 电荷 反射光 校正 照射 存储 检测 | ||
【主权项】：
1.一种距离测量处理装置，其包括：校正参数计算部，其利用预定数目的检测信号计算用于校正第一阀门和第二阀门之间特性偏差的校正参数，针对具有预定相位差的两种以上的照射光中的每一种各自检测两个所述检测信号，两种以上的所述照射光照射在物体上，并且，通过接收的被所述物体反射的反射光产生的电荷根据到所述物体的距离而被分成所述第一阀门和所述第二阀门；以及距离测量部，其基于所述校正参数和预定数目的所述检测信号获得表示到所述物体的距离的深度。
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