[实用新型]一种高电子迁移率晶体管有效

专利信息
申请号: 201820658843.4 申请日: 2018-05-04
公开(公告)号: CN208271905U 公开(公告)日: 2018-12-21
发明(设计)人: 刘军林;江风益;全知觉;张建立;王小兰;莫春兰;郑畅达;吴小明 申请(专利权)人: 南昌大学;南昌黄绿照明有限公司
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778
代理公司: 江西省专利事务所 36100 代理人: 张文
地址: 330031 江西省*** 国省代码: 江西;36
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种高电子迁移率晶体管,包括衬底,在衬底上依次设有缓冲层、位错阻断层、高阻层、沟道层、势垒层和盖层;所述位错阻断层为SiN层和GaN层组成的周期结构,周期数为m,其中1≤m≤10,其中SiN层呈岛状或网状分布。通过本实用新型,可使得随后生长的高阻层、沟道层、势垒层以及盖层中的位错密度大幅下降,提高晶体质量,从而提升高电子迁移率晶体管器件的电子迁移率、击穿电压以及漏电流等特性。
搜索关键词: 位错 高电子迁移率晶体管 本实用新型 高阻层 沟道层 势垒层 阻断层 衬底 盖层 高电子迁移率晶体管器件 电子迁移率 击穿电压 网状分布 周期结构 缓冲层 漏电流 周期数 岛状 生长
【主权项】:
1.一种高电子迁移率晶体管,包括衬底,其特征在于:在衬底上依次设有缓冲层、位错阻断层、高阻层、沟道层、势垒层和盖层;所述位错阻断层为SiN层和GaN层组成的周期结构,周期数为m,其中1≤m≤10,其中SiN层呈岛状或网状分布。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南昌大学;南昌黄绿照明有限公司,未经南昌大学;南昌黄绿照明有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201820658843.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top