[发明专利]一种低成本制备双电层薄膜晶体管的工艺在审
申请号: | 201810825963.3 | 申请日: | 2018-07-25 |
公开(公告)号: | CN110767547A | 公开(公告)日: | 2020-02-07 |
发明(设计)人: | 辛倩;杜路路;宋爱民;杜军 | 申请(专利权)人: | 济南嘉源电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336 |
代理公司: | 11676 北京华际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 褚庆森 |
地址: | 250100 山东省济南市高新区开拓路2*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明的低成本制备双电层薄膜晶体管的工艺,包括:a).衬底和电极材料的选取;b).源、漏电极图案化(划线);c).样品清洗;d).制备有源层;e).栅极衬底和电极材料的选取以及栅极图案化(切片);f).制备栅介质层;g).倒装贴片。本发明的制备双电层薄膜晶体管的工艺,提供了一种简单低成本的双电层薄膜晶体管的制备方法,开发了“划线,切片和倒装贴片(Carving,cutting,and flip‑chip bonding,简称为CCFB)”技术,具有成本低、省时、环保、易于大规模生产的优点,可用于多种衬底,如玻璃、硅片、云母等刚性衬底,以及塑料和纸等柔性基材,其优异的工艺优势和器件性能表明,该技术具有极高的应用推广前景。 | ||
搜索关键词: | 制备 薄膜晶体管 双电层 衬底 电极材料 低成本 切片 倒装 贴片 划线 云母 漏电极图案 工艺优势 器件性能 柔性基材 样品清洗 栅极图案 栅介质层 栅极衬 硅片 可用 省时 源层 玻璃 塑料 环保 应用 开发 | ||
【主权项】:
1.一种低成本制备双电层薄膜晶体管的工艺,其特征在于,通过以下步骤来实现:/na).衬底和电极材料的选取,通过在绝缘材料上形成一层导电膜,或者市购带导电膜的绝缘衬底,作为绝缘衬底材料和形成源、漏电极的导电材料;/nb).源、漏电极图案化,利用机械针划线或激光划线工艺在步骤a)中获取的导电膜上划线得到沟槽,沟槽两侧的导电膜分别作为源电极和漏电极;/nc).样品清洗,将刻有沟槽的导电膜和绝缘衬底用清洗剂进行清洗,以去除划线过程中产生的碎屑和污物;/nd).制备有源层,采用镀膜工艺在沟槽上沉积一层半导体层或者采用溶液法在沟槽上制备一层半导体层,作为有源层;/ne).栅极衬底和电极材料的选取,通过在绝缘材料上形成一层导电膜,或者市购带导电膜的绝缘衬底,作为栅极衬底和栅电极;/nf).制备栅介质层,首先将作为栅极衬底和栅电极的材料切割成小片,再在小片上制备电解质,或者,采用首先在栅电极上制备电解质再将其切割成小片的方法,来形成电解质构成的栅介质层;/ng).倒装贴片,将步骤f)中获取的小片以栅介质层对准有源层的形式将其贴合在一起,以形成双电层薄膜晶体管。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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