[发明专利]工况NBTS稳定性良好的氧化物半导体薄膜及其晶体管有效
申请号: | 201810790054.0 | 申请日: | 2018-07-18 |
公开(公告)号: | CN108987471B | 公开(公告)日: | 2021-03-05 |
发明(设计)人: | 兰林锋;彭俊彪 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | H01L29/24 | 分类号: | H01L29/24;H01L29/786 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 赵蕊红 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: |
一种氧化物半导体薄膜及以其作为沟道材料的薄膜晶体管。氧化物半导体薄膜成分为M |
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搜索关键词: | 工况 nbts 稳定性 良好 氧化物 半导体 薄膜 及其 晶体管 | ||
【主权项】:
1.一种氧化物半导体薄膜,其特征在于:用于作为薄膜晶体管的沟道层,成分为M2xSc2yIn2‑2y‑2xO3‑δ,且成分中不包括Zn和Sn,其中M为Mg、Ca、Sr和Cd中的一种或任意两种以上组合的元素,0.01≤x≤0.5,0.001≤y≤0.3,0≤δ<3,载流子浓度小于4×1019cm‑3。
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